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Ingeniería, investigación y tecnología
versión On-line ISSN 2594-0732versión impresa ISSN 1405-7743
Ing. invest. y tecnol. vol.6 no.4 Ciudad de México oct./dic. 2005
Artículos
Deterioro por corrosión atmosférica de componentes electrónicos de equipo telefónico
1 Departamento de Ingeniería Mecánica, Facultad de Ingeniería, UNAM, México. E-mails: cerrud@servidor.unam.mx
2 Departamento de Ingeniería Mecánica, Facultad de Ingeniería, UNAM, México. E-mails: armandoo@servidor.unam.mx
El deterioro del equipo electrónico por efectos ambientales, ha sido un fenómeno estudiado desde fines de la década de los 60; en general, se reconoce a éste como un fenómeno característico de atmósferas interiores. A la fecha, se han publicado diversos estudios que correlacionan las condiciones de exposición típicas de países industrializados con el deterioro y los mecanismos a través de los que éste se da. Dichos países, por su ubicación geográfica, tienen una climatología muy diferente a la de Latinoamérica. En este artículo, también se presentan los resultados del análisis de deterioro que, por exposición en campo, se observa en tarjetas telefónicas bajo diferentes condiciones climáticas de la República Mexicana. Asimismo, con base en los resultados se definen las peculiaridades del daño y los principales agentes que promueven la corrosión de estos equipos. Finalmente, se definen acciones tendientes a reducir los inconvenientes encontrados.
Descriptores: Corrosión atmosférica; análisis de falla; equipo electrónico
The failure deterioration of electronic devices caused by atmospheric corrosion has been studied since the late sixties. Most of the research was oriented towards the climatologic conditions typical for the industrialized countries. In these regions, the use of air conditioning is very common. Therefore, the difference between indoor and outdoor atmospheres is very important. This situation is very different in Latin America and the research in this topic has been limited. In this pa per, are also presented the results of the failure analysis in printed circuits from residential telephones. The electronic de vices have been in service under different climatic conditions within Mexico. With the observations, it is possible to identify the main atmospheric variables promoting the corrosion in electronic de vices. The results are used to improve the de sign of the elements.
Key words: Atmospheric corrosion; failure analysis; electronic equipment
Agradecimientos
Al Biólogo Germán Álvarez por su gran trabajo de inspección y análisis de muestras en el microscopio electrónico de barrido (SEM), a los Ingenieros Ignacio Cueva, Efraín Ramos y Roberto Cisneros por su apoyo en la preparación de muestras de tarjetas telefónicas; asimismo, agradecemos el apoyo económico brindado por la Dirección Gen eral de Asuntos del Personal Académico de la UNAM, a través del proyecto PAPIIT 119403-2.
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Recibido: Julio de 2004; Aprobado: Abril de 2005
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