Instrumentación

Caracterización de componentes fotónicos utilizando reflectometría optica de baja coherencia*

C. Palavicini^a, Y. Jaouën^a, P. Gallion^a, G. Campuzano^b

a Ecole Nationale Supérieure des Télécommunications, Département Communications et Electronique, 46, rue Barrault, 75634 Paris Cédex 13, Francia, e–mail: carlos.palavicini@enst.fr, jaouen@enst.fr, gallion@enst.fr

b Instituto Tecnológico y de Estudios Superiores de Monterrey, Centro de Electrónica y Telecomunicaciones, Av. Eugenio Garza Sada 2501 Sur, 64849, Monterrey, N.L., México, e–mail: campuzano@itesm.mx

* Este trabajo fue realizdo con el auspicio de una beca de postgrado del Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología (México).

Recibido el 27 de febrero de 2006
Aceptado el 8 de mayo de 2006

Resumen

La reflectometría óptica de baja coherencia ha sido aplicada a la caracterización de nuevos componentes ópticos utilizados en sistemas de telecomunicaciones emergentes. Esta técnica no destructiva y versátil, permite la detección, localización y cuantificación de discontinuidades existentes en los componentes fotónicos, obteniendo así una informacion precisa y directa sobre las propiedades ópticas de dichos componentes.

Descriptores: Reflectometría de baja coherencia; caracterización de dispositivos fotonicos.

Abstract

Optical low–coherence reflectometry has been succesfully applied to the characterization of photonic devices. This non–destructive and versatile technique permits the detection, localization and quantification of scattering discontinuities of optoelectronic devices, yielding an accurate and direct information of the optical properties of the device.

Keywords: Optical low–coherence reflectometry; photonic device characterization.

PACS: 42.87.–d; 85.60.

DESCARGAR ARTÍCULO EN FORMATO PDF

Referencias

1. K. Takada, I. Yokohama, K. Chida y J. Noda, Appl. Opt. 26 (1987) 1603.        [ Links ]

2. R.C. Youngquist, S. Carr y D.E.N. Davies, Opt. Lett. 12 (1989) 158.        [ Links ]

3. H.H. Gilgen, R.P. Novk, R. P. Salath, W. Hodel y P. Beaud, J. Lightwave Technol. 7 (1989) 1225.        [ Links ]

4. U. Wiedmann, P. Gallion y G.–H. Duan, J. Lightwave Technol. 16 (1998) 1343.        [ Links ]

5. Y. Gottesman, E. V.K. Rao, H. Sillard y J. Jacquet, J. Lightwave Technol. 20 (2002) 489.        [ Links ]

6. T. Erdogan, J. Lightwave Technol. 15 (1997) 1277.        [ Links ]

7. C.R. Giles, J. Lightwave Technol. 15 (1997) 1391.        [ Links ]

8. P. Lambelet et al., IEEE Photon. Technol. Lett. 5 (1993) 565.        [ Links ]

9. S.D. Dyer y K.B. Rochford, IEEE Photon. Technol. Lett. 35 (1999) 1485.        [ Links ]

10. E.I. Petermann, J. Skaar, B.E. Sahlgren, R.A.H. Stubbe y A.T. Friberg, J. Lightwave Technol. 17 (1999) 2371.        [ Links ]

11. S.A. Newton, "Novel approaches to optical reflectometry", Proc. 7th Instrum. Meas. Technol. Conf. (1990) p. 329.        [ Links ]

12. R.E. Epworth, patente otorgada en el Reino Unido GB 2161612B(1984).        [ Links ]

13. F. Ouellette, J.–F. Cliche y S. Gagnon, J. Lightwave Technol. 12 (1994) 1728.        [ Links ]

14. J.C. Knight, T.A. Birks y P.St.J. Russell, Opt. Lett. 22 (1997) 961.        [ Links ]

15. M.J. Gander et al., Electron. Lett. 35 (1999) 63.        [ Links ]

16. C. Palavicini et al., "Determination of the chromatic dispersion and birefringence of photonic crystal fibers using an OLCR technique", Conference on Lasers and Electro–Optics (San Francisco, California, 2004).        [ Links ]

17. G.P Agrawal, Nonlinear fiber optics (Academic Press, San Diego, CA, 1995).        [ Links ]

18. K. Kikuchi y T. Okoshi, Wavelength–sweeping technique for measuring the beat length of linearly birefringent optical fibers 8 (1983) 122.        [ Links ]

19. A. Cucinotta, S. Selleri, L. Vincetti y M. Zoboli, IEEE Photon. Technol. Lett. 14 (2002) 1530.        [ Links ]

20. E. Brinkmeyer y U. Glombitza, Opt. Lett. 17 (1992) 1441.        [ Links ]

21. U. Wiedmann, P. Gallion, Y Jaoueny C. Chabran, J. Lightwave Technol. 16 (1998) 864.        [ Links ]

22. B. Thedrez et al., "1.55µm DFB lasers with integrated spot size converters operating at 2.5 Gbit/s with modulated power over 20 mW for 180 km transmission", Proc. Opt. Fiber Comm. Conf (1999) p. 140.        [ Links ]

23. R. Lang, IEEE J. Quantum Electron. 18 (1982) 976.        [ Links ]

24. A. Yariv, IEEE J. Quantum Electron. 9 (1973) 919.        [ Links ]

25. U. Wiedmann, P. Gallion y G.–H. Duan, J. Lightwave Technol. 16 (1998) 1343.        [ Links ]

26. P. Gallion y G. Debarge, Electron. Lett. 21 (1985) 264.        [ Links ]

27. C.H. Henry, IEEEJ. Quantum Electron. 18 (1982) 259.        [ Links ]

28. W. V. Sorin, K.W. Chang, G.A. Conrad y P.R. Hernday, J. Lightwave Technol. 10 (1992) 787.        [ Links ]

29. G. Campuzano, P. Gallion y G. Debarge, "Locking range dependence on the grating characteristics of distributed feedback semiconductor lasers", Proc. 14th Annual Meeting Lasers Electro–Opt. Soc. (2001) p. 800.        [ Links ]

30. M. Osinski y J. Buus, J. Lightwave Technol. 23 (1987) 9.        [ Links ]