Abstract

FLORES, J.M.; CYWIAK, M.; SERVIN, M.  and  JUAREZ, L.. Bode plots applied to microscopic interferometry. Rev. mex. fis. [online]. 2009, vol.55, n.5, pp.347-353. ISSN 0035-001X.

Describimos una técnica que permite utilizar las gráficas de Bode en interferometría microscópica, en particular aplicada al interferómetro de tres haces Gaussianos recientemente reportado en la literatura. La técnica es utilizada de una manera similar a la forma en que se hace para encontrar la respuesta en frecuencia de un sistema eléctrico o electrónico. La respuesta de Bode es utilizada para calcular la deconvolución de los datos crudos obtenidos directamente del interferómetro para compensar los datos en frecuencia, permitiendo obtener un perfil mas realista de las muestras bajo prueba. Aplicamos la técnica para obtener los perfiles de las superficies reflectoras internas de dos dispositivos ópticos comercialmente disponibles para almacenamiento de datos, el disco compacto (CD-R) y el disco digital versátil (DVD-R). Reportamos resultados experimentales de una exploración radial de estos dispositivos sin datos almacenados, antes y después de aplicar la función de transferencia del sistema. Las mediciones son obtenidas colocando los dispositivos con la superficie de Policarbonato apuntando al haz de prueba del interferómetro, aprovechando la ventaja de la discriminación de profundidad del microscopio. Mostramos que los perfiles resultantes, obtenidos a través de la capa del Policarbonato, medidos con este interferómetro, proporcionan información valiosa de los perfiles reales de las pistas de estos dispositivos, por lo que la combinación de Bode aunada al uso de este interferómetro representan una herramienta adecuada para el control de calidad de los dispositivos ópticos de almacenamiento de datos mencionados.

Keywords : Transformar Bode; haz de Gauss; interferometría.

        · abstract in English     · text in English     · English ( pdf )