Abstract

MONTEJANO-CARRIZALES, J.M.; GUIRADO-LOPEZ, R.A.; RODRIGUEZ-LOPEZ, J.L.  and  MORAN-LOPEZ, J.L.. The geometrical characteristics of fcc, hcp, and polycrystalline nanowires: simulations of transmission electron microscopy images and diffraction patterns. Rev. mex. fis. [online]. 2009, vol.55, n.4, pp.298-306. ISSN 0035-001X.

Para el estudio teórico de las propiedades fisico-químicas de alambres es necesario construir el correspondiente modelo geométrico. Presentamos las caracteríisticas geométricas de nanoalambres con estructuras fcc, hcp y policristalinos. Consideramos alambres fcc y hcp crecidos a lo largo de las direcciones (111) eje z respectivamente, con varios diámetros y longitudes. Además, como en estos sistemas son comunes las fallas de crecimiento (stacking faults), también analizamos el caso de nanoalambres formados por tramos que tienen diferentes estructuras cristalinas y orientaciones, lo que lleva a la formación de varias interfases internas. Llevando a cabo la simulacion de imágenes de alta resolución en microscopía de transmisión de electrones (TEM) y de sus respectivos patrones de difracción de los nanoalambres aquí considerados, hacemos notar lo sensitivas que son a las condiciones de enfoque las imágenes calculadas, así como también a la orientación de los nanoalambres con respecto al haz incidente, un resultado que debe tenerse en cuenta para un mejor entendimiento de las mediciones obtenidas.

Keywords : Nanoalambres; nanoestructuras fcc; nanoestructuras hcp; simulaciones TEM; patrones de difracción.

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