Abstract

DE CARLOS LOPEZ, E.  and  LOPEZ ROMERO, J.M.. High resolution spectroscopy in gases and its application on the frequency stabilization of semiconductor lasers. Rev. mex. fis. [online]. 2004, vol.50, n.6, pp.569-578. ISSN 0035-001X.

La espectroscopia en gases es una de las técnicas más utilizadas en la estabilización en frecuencia de láseres semiconductores. El efecto Doppler es el factor que más influye en el ensanchamiento de las líneas de los espectros atómicos. En este trabajo se revisa la espectroscopia de saturación, cuya característica principal es la de anular las consecuencias indeseables de este efecto. Se examinan distintas técnicas de generación de señales tipo dispersión, las cuales son empleadas como señales de error en la estabilización de láseres semiconductores. Estas técnicas se comparan entre sí y son revisadas desde una perspectiva diferente a lo que convencionalmente se presenta en la literatura. Asimismo se muestran resultados experimentales de espectroscopia en gas de Cesio 133 realizadas en el Centro Nacional de Metrología, CENAM.

Keywords : Espectroscopia de saturación; estabilización de láseres semiconductores.

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