| Sumário Rev. mex. fis. vol.61 no.4 México Jul./Ago. 2015 Pesquisa | | | | · Refractive index expressions for Ga1-xlnxAs, GaAs1-xNx and Ga1-xlnxNyAs1-y alloys Martín, J.A.; Sánchez, M.
| | | | · Microestructura, propagación y emisión acústica de grietas en dos papeles de celulosa Aguirre, D.; Aldaco, J.; Hinojosa, M.
| | | | · Fractional viscoelastic models applied to biomechanical constitutive equations Palomares-Ruiz, J.E.; Rodriguez-Madrigal, M.; Castro Lugo, J.G.; Rodriguez-Soto, A.A.
| | | | · The Liouville theorem as a problem of common eigenfunctions Torres del Castillo, G.F.
| | | | · La extinción primaria y el factor estático de Debye-Waller en la caracterización de níquel con textura mediante difracción de rayos X Kryshtab, T.; Cadena Arenas, A.; Kryvko, A.; Palacios Gómez, J.
| | | | · Simple algebraic method to study the effects of hydrostatic pressure on the fundamental parameters of a Schottky barrier of metal/n-GaAs Oubram, O.; Gaggero-Sager, L.M.; Rodríguez-Vargas, I.
| | | | · Anomalous photon emission from a solid Ivlev, Boris I.
| | | | · Contributions to the defocusing effect on pole figure measurements by X-ray diffraction Palacios Gómez, J.; Salat Figols, R.S.; Jiménez Jiménez, A.; Kryshtab, T.
| | | | · Optical and structural properties of CdS:Pb2+ nanocrystals Gutiérrez, R.; Portillo, O.; Chávez, M.; Juárez, H.; Pacio, M.; Chaltel, L.; Zamora, M.; Lazcano, M.; Rubio, E.; Hernandez, G.
| | | Instrumentação | | | | · Sistema de microscopía de fuerza atómica basada en una unidad de lectura óptica digital y un escáner-zumbador Dabirian, Reza; Wang, Wei-Min; Loza Matovelle, David; Hwu, En-Te
| | | | · Método de lente térmica resuelta en frecuencia para medir coeficientes de difusión térmica en muestras líquidas Rodriguez, L. G.; Cantini, L. P.; Granizo, E.; Guanga, D. P.; Díaz-Barrios, A.; Debut, A.; Paz, J. L.; Costa Vera, C.
| | | | · Evaluación de la resolución frecuencial en osciloscopios comerciales Stern Forgach, C.; Alvarado Reyes, J.M.
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