SANTIAGO TEPANTLAN, C.; PEREZ GONZALEZ, A.M    VALERIANO ARREOLA, I.. Structural, optical and electrical properties of CdS thin films obtained by spray pyrolysis. []. , 54, 2, pp.112-117. ISSN 0035-001X.

^len^aCadmium sulphide (CdS) thin films were prepared by means of the chemical spray pyrolysis technique. The substrate temperature was varied in the range from 200 to 400°C. The structural properties of the semiconductor were characterized by X-ray diffraction; XRD patterns indicated the presence of single-phase hexagonal CdS. Direct band gap values of 2.37-2.41 eV were obtained. The refractive index is reported on depending on the substrate temperature, and was obtained from transmission spectra and from spectroellipsometry measurements. As a consequence, the optical parameters of the films were determined using the Swanepoel, Cauchy, Sellmeier and Wemple models. The resistivity of the films was found to vary in the range 10³ 10⁵Ω.cm, depending on the substrate temperature.^les^aPelículas delgadas de sulfuro de cadmio han sido preparadas por el método químico de rocío pirolítico, variando la temperatura del substrato en el intervalo de 200 a 400°C. Las propiedades estructurales del material obtenido fueron estudiadas utilizando la técnica de difracción de rayos X, y los patrones de difracción muestran la presencia de la fase hexagonal del CdS. Se obtuvo un ancho de banda entre 2.37 y 2.41 eV, en función de la temperatura de depósito. Las curvas de índice de refraccion fueron obtenidas a partir del espectro de transmisión y por mediciones espectroelipsometricas, de manera que los parámetros ópticos fueron obtenidos usando los modelos de Swanepoel, Cauchy, Sellmeier y Wemple. La resistividad eléctrica en condiciones de oscuridad varío en el rango de 10³-10⁵Ω.cm, dependiendo de la temperatura del substrato. Un análisis de los efectos del método de depósito en las propiedades de las películas es presentado.

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