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<article-title xml:lang="es"><![CDATA[Diseño de un dispositivo sensor de masa tipo MEMS basado en microvigas en voladizo de polisilicio]]></article-title>
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<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[This work presents three MEMS mass sensor devices based in oscillating polysilicon cantilevers whose oscillation frequency shifts, due to corresponding changes of an added mass in the reaction container/area, can be better measured. An electrostatic actuator is used which consists of interdigitated electrodes configured to maximize the cantilever's oscillation amplitude. In consequence, integration design issues between the microelectromechanical device and the signal conditioning and acquisition circuitry are addressed. These designs are to be fabricated in the SUMMiT-V process and they can be suitable for biological or chemical applications. The feasibility of the proposed designs is supported by a mathematical model and FEA calculations performed in COMSOL and ANSYS and mass resolutions of de 3.43 pg/Hz, 6.71 pg/Hz y 17.31 pg/Hz were obtained.]]></p></abstract>
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</front><body><![CDATA[  	    <p align="center"><font face="verdana" size="4"><b>Dise&ntilde;o de un dispositivo sensor de masa tipo MEMS basado en microvigas en voladizo de polisilicio</b></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><b>S&aacute;nchez&#45;Fraga R.<sup>1*</sup>, Ponce&#45;Ponce V. H.<sup>1</sup>, Ram&iacute;rez&#45;Salinas M. A.<sup>1</sup>, Estrada&#45;V&aacute;zquez H.<sup>2</sup>, Mungu&iacute;a&#45;Cervantes J.<sup>3</sup></b></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><sup><i>1</i></sup> <i>Instituto Polit&eacute;cnico Nacional, Centro de Investigaci&oacute;n en Computaci&oacute;n. M&eacute;xico, 07738, M&eacute;xico. *</i> <a href="mailto:rsanchezf85@gmail.com">rsanchezf85@gmail.com</a></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><sup><i>2</i></sup> <i>Centro Nacional de Metrolog&iacute;a. Quer&eacute;taro, 76246, M&eacute;xico.</i></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><sup><i>3</i></sup> <i>Centro de Nanociencias y Micro y Nanotecnolog&iacute;as. M&eacute;xico, 07738, M&eacute;xico.</i></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Recibido: 30 de septiembre de 2013    ]]></body>
<body><![CDATA[<br> 	Aceptado: 8 de mayo de 2014</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Resumen</b></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se presentan tres dise&ntilde;os de sensores de masa MEMS basados en vigas en voladizo de polisilicio, los cuales utilizan el principio de cambio de frecuencia debido a una masa a&ntilde;adida mientras operan en oscilaci&oacute;n libre. Las estructuras se accionan mediante un actuador electroest&aacute;tico, que consiste en un peine de capacitores interdigitados, con una orientaci&oacute;n tal que se maximiza la amplitud de oscilaci&oacute;n del voladizo. En consecuencia se abordan problemas de integraci&oacute;n entre las estructuras y un circuito electr&oacute;nico de acondicionamiento. Los dise&ntilde;os se fabricar&aacute;n por micro maquinado de superficie mediante el proceso SUMMiT&#45;V y pueden ser adecuados para aplicaciones biol&oacute;gicas o qu&iacute;micas. La viabilidad de las propuestas se sustenta mediante an&aacute;lisis de elemento finito (FEA) realizados mediante la herramienta de COMSOL. Se obtuvo una sensitividad de 3.43 pg/Hz, 6.71 pg/Hz y 17.31 pg/Hz para cada uno de los tres dise&ntilde;os.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Palabras clave:</b> MEMS; Sensores; Microelectr&oacute;nicos; Cantilever; Actuador electroest&aacute;tico.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Abstract</b></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">This work presents three MEMS mass sensor devices based in oscillating polysilicon cantilevers whose oscillation frequency shifts, due to corresponding changes of an added mass in the reaction container/area, can be better measured. An electrostatic actuator is used which consists of interdigitated electrodes configured to maximize the cantilever's oscillation amplitude. In consequence, integration design issues between the microelectromechanical device and the signal conditioning and acquisition circuitry are addressed. These designs are to be fabricated in the SUMMiT&#45;V process and they can be suitable for biological or chemical applications. The feasibility of the proposed designs is supported by a mathematical model and FEA calculations performed in COMSOL and ANSYS and mass resolutions of de 3.43 pg/Hz, 6.71 pg/Hz y 17.31 pg/Hz were obtained.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Keywords:</b> MEMS; Sensor; Microelectronics; Cantilever; Electrostatic actuator.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>  	    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>1 Introducci&oacute;n</b></font></p>  	     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la actualidad existe un n&uacute;mero    considerable de aplicaciones tecnol&oacute;gicas para los microsensores inerciales    basados en tecnolog&iacute;a MEMS. Una de las principales estructuras utilizadas    como sensor es la microviga en voladizo de silicio policristalino (polisilicio),    la cual se ha estudiado y utilizado extensivamente en aplicaciones como la detecci&oacute;n    de cambio de masa. En esta clasificaci&oacute;n se han reportado ejemplos de    microvigas utilizadas como sensores de gas por resonancia donde el &aacute;rea    de dep&oacute;sito se trata qu&iacute;micamente con un adherente que produzca    una deposici&oacute;n selectiva de mol&eacute;culas provenientes de un ambiente    gaseoso &#91;1&#93;. Otros ejemplos incluyen biosensores, donde tal funcionalizaci&oacute;n    se realiza para la deposici&oacute;n de biomoleculas &#91;2&#93;. En contraste,    otro m&eacute;todo &uacute;til para tareas de laboratorio es la deposici&oacute;n    de un volumen conocido por micro goteo mediante equipo especializado como el    GIX Microplotter II&#91;3&#93;.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la literatura, los sensores de masa basados en microvigas se operan en resonancia forzada. De esta forma es posible cuantificar los cambios en la frecuencia de oscilaci&oacute;n, relacionados con el dep&oacute;sito de masa, mediante alg&uacute;n esquema de detecci&oacute;n &#91;4,5&#93;. En este caso, para lograr sensibilidades mejores a 1 ng/Hz, se dise&ntilde;an vigas de dimensiones reducidas que operen a frecuencias en el orden de MHz &#91;4,5&#93;. Sin embargo, estas frecuencias altas implican amplitudes peque&ntilde;as que est&aacute;n asociadas con una baja relaci&oacute;n se&ntilde;al a ruido (SNR). En consecuencia se dificulta el dise&ntilde;o electr&oacute;nico necesario para una integraci&oacute;n en chip de un sistema sensor &#91;6&#93;.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Por otro lado, la amplitud de movimiento vertical (normal al substrato) en las microvigas se encuentra limitada por las restricciones geom&eacute;tricas impuestas por el grosor de las capas de material, las cuales definen espacios de movimiento menores a 2 &micro;m en un proceso de micro maquinado de superficie, como SUMMiT&#45;V. Estos espacios pueden disminuir a 0.4 &micro;m cuando se utilizan protuberancias en los extremos libres para evitar efectos de adhesi&oacute;n electrost&aacute;tica &#91;7&#93;.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En este trabajo se presenta un concepto de dise&ntilde;o de sensor de masa basado en microvigas en voladizo que se fabricar&aacute;n con una tecnolog&iacute;a SUMMiT&#45;V. Se utilizar&aacute; este proceso estandarizado debido a los errores en dimensiones bien acotados que ofrece, lo que en consecuencia incrementa el n&uacute;mero de dispositivos dentro de las especificaciones de dise&ntilde;o en un lote de fabricaci&oacute;n. El dise&ntilde;o consiste en una microviga que opera en oscilaci&oacute;n libre despu&eacute;s de una deflexi&oacute;n inicial provocada por actuadores electrost&aacute;ticos que producen un movimiento de paralelo al substrato. De esta forma se permite hacer mediciones que alarguen el tiempo de vida &uacute;til del dispositivo y las restricciones de movimiento vertical mencionadas se reducen.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se describen tres distintas geometr&iacute;as para los actuadores. En el primer dise&ntilde;o, referido como dise&ntilde;o A (<a href="#f1">Fig. 1</a>), se define una serie de electrodos interdigitados verticalmente que producen una deflexi&oacute;n horizontal de la estructura.</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f1"></a></font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/sv/v27n2/a5f1.jpg"></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Sin embargo, la amplitud de oscilaci&oacute;n a&uacute;n est&aacute; restringida mec&aacute;nicamente por la deflexi&oacute;n no circular que tiende a aproximarse a uno de los extremos de los capacitores.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Esto &uacute;ltimo tambi&eacute;n elimina la simetr&iacute;a electroest&aacute;tica y puede afectar tanto la estabilidad como producir una conexi&oacute;n de corto circuito entre los electrodos. Tales desventajas se eliminan en un segundo enfoque, referido como dise&ntilde;o B (<a href="#f2">Fig.2</a>), en el que los electrodos se posicionan de forma paralela al substrato. En la <a href="#f3">Fig. 3</a> se muestra un corte transversal donde se aprecia la diferencia de orientaci&oacute;n entre los dise&ntilde;os. El actuador electroest&aacute;tico se forma en las capas de POLY1&#45;POLY0 y POLY3 del proceso SUMMiT&#45;V, con el que se fabricar&aacute;n las estructuras. Sin embargo, en el dise&ntilde;o B se sacrifica la fuerza de deflexi&oacute;n producida para un mismo voltaje y &aacute;rea de traslape entre placas, con respecto al dise&ntilde;o A, lo que dificulta una detecci&oacute;n capacitiva.</font></p>  	    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f2"></a></font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/sv/v27n2/a5f2.jpg"></font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f3"></a></font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/sv/v27n2/a5f3.jpg"></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Debido a la presencia de capacitancias par&aacute;sitas con magnitudes similares al capacitor sensor, este tipo de detecci&oacute;n usualmente complica las especificaciones del dise&ntilde;o electr&oacute;nico. Por lo tanto la &uacute;ltima propuesta, referida como dise&ntilde;o C (<a href="#f4">Fig. 4</a>), intercambia el n&uacute;mero placas entre la estructura fija y la viga para obtener un plano superior m&oacute;vil. Es decir, solo existir&aacute; un electrodo para el actuador, definido en POLY2, y dos electrodos en el extremo libre de la microviga definidos en POLY1&#45;POLY0 y POLY3. Al ser POLY3 la capa superior es posible agregar una secci&oacute;n metalizada al extremo libre de la viga que se puede utilizar como espejo en un esquema de detecci&oacute;n &oacute;ptico.</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f4"></a></font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/sv/v27n2/a5f4.jpg"></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En un trabajo futuro, estos dise&ntilde;os ser&aacute;n fabricados y colocados junto a un circuito electr&oacute;nico CMOS en diferentes substratos para realizar una integraci&oacute;n h&iacute;brida MEMS&#45;CMOS.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>2. Fundamento te&oacute;rico</b></font></p>  	    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">La estructura del sensor se analiz&oacute; en dos secciones: una r&iacute;gida y una el&aacute;stica. Esto es posible al considerar que la deformaci&oacute;n en el &aacute;rea del contenedor y los peines electroest&aacute;ticos es despreciable en comparaci&oacute;n con la deflexi&oacute;n del voladizo. Para el dise&ntilde;o A (<a href="#f1">Fig. 1</a>), el contenedor se ve sometido a una fuerza tangencial al radio de la curvatura de cada diente. En consecuencia se produce un momento en el punto B, visualizado en <a href="#f5">Fig. 5</a> y <a href="#f6">Fig. 6</a>, que se expresa como:</font></p> 	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/sv/v27n2/a5ea.jpg" alt=""></font></p>      <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f5"></a></font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/sv/v27n2/a5f5.jpg"></font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f6"></a></font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/sv/v27n2/a5f6.jpg"></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Donde <i>L</i> es la longitud del voladizo, <i>&#945;</i> es el &aacute;ngulo de abertura de los dientes, <i>r<sub>i</sub></i> es el radio de cada una de las paredes de los dientes del actuador y <i>n</i> es el n&uacute;mero de pares de dientes en traslape. Para los capacitores interdigitados en peine se puede estimar la fuerza electrost&aacute;tica <i>Fe</i> producida por cada par de dientes, mientras el equilibrio electrost&aacute;tico se mantiene, como &#91;8&#93;:</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/sv/v27n2/a5e1.jpg"></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Donde <i>&#8712;</i> es la permitividad del aire, <i>w</i> es el ancho del diente, <i>V</i> es el voltaje aplicado y <i>g</i> es el espacio entre dientes. Por lo tanto, el an&aacute;lisis de la secci&oacute;n el&aacute;stica se reduce a una viga en voladizo con un momento en el extremo libre, de la cual existen descripciones anal&iacute;ticas de donde se deduce la deflexi&oacute;n en el voladizo como &#91;9&#93; &#91;10&#93;:</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/sv/v27n2/a5e2.jpg"></font></p>  	    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">Donde <i>I</i> es el segundo momento de inercia, <i>E</i> es el m&oacute;dulo de Young y <i>x</i> es un punto arbitrario a lo largo del voladizo donde se quiere calcular la deflexi&oacute;n. Para el caso de la deflexi&oacute;n en el punto B, se tiene que <i>x=L</i>.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Por lo tanto, a partir de la ecuaci&oacute;n 2 se puede estimar la frecuencia natural del sistema como sigue:</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/sv/v27n2/a5e3.jpg"></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Entonces, el m&iacute;nimo cambio medible en el sistema se expresa como:</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/sv/v27n2/a5e4.jpg"></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Para el caso de los dise&ntilde;os B y C, las ecuaciones (2), (3) y (4) se pueden aplicar de manera an&aacute;loga considerando un solo elemento de fuerza electrost&aacute;tica (<i>n=1</i>).</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Finalmente, en un actuador de electrodos interdigitados la capacitancia variable <i>C(x)</i> y la corriente producida <i>i<sub>c</sub></i> se puede expresar como:</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/sv/v27n2/a5e5.jpg"></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Donde <i>l<sub>c</sub></i> es la longitud de los dientes y <i>d</i> es la distancia de traslape entre ellos.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>  	    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>3 Simulaci&oacute;n estructural</b></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Para sustentar la viabilidad de los dise&ntilde;os, las estructuras fueron simuladas mediante la herramienta de an&aacute;lisis de elemento finito COMSOL.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En <a href="#t1">tabla 1</a> se muestran las especificaciones geom&eacute;tricas del dise&ntilde;o analizado de acuerdo a la <a href="#f5">Fig. 5</a> y la <a href="#f6">Fig. 6</a>.</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="t1"></a></font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/sv/v27n2/a5t1.jpg"></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En el caso del dise&ntilde;o con actuadores verticales (dise&ntilde;o A), la separaci&oacute;n <i>g</i> no es constante conforme la deformaci&oacute;n no circular se lleva a cabo. La ecuaci&oacute;n 1 sirve en este caso para calcular la fuerza de actuaci&oacute;n inicial y la deformaci&oacute;n total se calcula num&eacute;ricamente mediante un an&aacute;lisis acoplado de mec&aacute;nica y electrost&aacute;tica en COMSOL.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se obtuvieron desplazamientos de 1.11&micro;m, 0.24&micro;m y 0.28 &micro;m en el punto B, como se muestra en la <a href="#f7">Fig. 7</a> con unas frecuencias de oscilaci&oacute;n libre de 11.461kHz, 8.465kHz, y 5.903kHz para los dise&ntilde;os A, B y C respectivamente.</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f7"></a></font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/sv/v27n2/a5f7.jpg"></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La deformaci&oacute;n de las estructuras es producto de una atracci&oacute;n electroest&aacute;tica producida por un campo el&eacute;ctrico entre los electrodos de actuaci&oacute;n como se visualiza en la <a href="#f8">Fig. 8</a> y <a href="#f9">Fig. 9</a>. La fuerza electroest&aacute;tica calculada por cada par de dientes es de 4.8nN, 4.1nN y 4.1nN, en relaci&oacute;n con los tres dise&ntilde;os como se estima de la ecuaci&oacute;n 1.</font></p>  	    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f8"></a></font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/sv/v27n2/a5f8.jpg"></font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f9"></a></font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/sv/v27n2/a5f9.jpg"></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Un estudio din&aacute;mico realizado se muestra en la <a href="#f10">Fig. 10</a> donde se aprecia la frecuencia de oscilaci&oacute;n libre y la atenuaci&oacute;n correspondiente. En este an&aacute;lisis no se considera ning&uacute;n factor de amortiguamiento.</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f10"></a></font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/sv/v27n2/a5f10.jpg"></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se realizaron simulaciones del cambio de frecuencia para estimar la resoluci&oacute;n ideal de la estructura, en su uso como sensor de masa, la cual se presenta en la <a href="#f11">Fig. 11</a>. En la tabla 2 se muestra un resumen de resultados obtenidos.</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f11"></a></font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/sv/v27n2/a5f11.jpg"></font></p>  	    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>4 Detecci&oacute;n capacitiva</b></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Las estructuras presentadas poseen un electrodo sim&eacute;trico al actuador que se puede utilizar en una detecci&oacute;n capacitiva. El tama&ntilde;o de los capacitores utilizados en dispositivos MEMS se encuentran en el rango de fracciones de pF y la variaci&oacute;n de la capacitancia nominal de inter&eacute;s est&aacute; en el orden de fF o menos. Un actuador de peine de capacitores interdigitados es equivalente a un solo capacitor de valor nominal a la suma de las capacitancias entre cada electrodo.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la <a href="#f12">Fig. 12</a> se muestran los resultados del cambio de capacitancia debido a la deflexi&oacute;n de la viga. Se obtuvo 0.75fF/&micro;m, 0.35fF/&micro;m y 0.34fF/&micro;m para los dise&ntilde;os A, B y C respectivamente. Para una futura integraci&oacute;n, se propone el circuito convertidor de corriente a voltaje mostrado en la <a href="#f13">Fig. 13</a>, equivalente al reportado en &#91;10&#93;.</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f12"></a></font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/sv/v27n2/a5f12.jpg"></font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f13"></a></font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/sv/v27n2/a5f13.jpg"></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se representa con <i>C<sub>v</sub></i> a la capacitancia variable del sensor mientras que <i>C<sub>1</sub></i> y <i>C<sub>2</sub></i> sirven para modelar las capacitancias par&aacute;sitas. Estas capacitancias se pueden despreciar debido al efecto de tierra virtual en la entrada del amplificador y siempre y cuando la se&ntilde;al de entrada presente una resistencia interna baja. Por lo tanto se puede esperar una mejor linealidad y un mejor desempe&ntilde;o a la distorsi&oacute;n. Adem&aacute;s, para prevenir corrientes de fuga en el capacitor de retroalimentaci&oacute;n <i>C<sub>f</sub></i> se agrega el resistor <i>Rf.</i> Por lo tanto, la se&ntilde;al de salida se puede aproximar como sigue:</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/sv/v27n2/a5e7.jpg"></font></p>  	    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">Para implementar este tipo de detecci&oacute;n se dise&ntilde;ar&aacute; un amplificador de alto desempe&ntilde;o compensado en voltaje de desv&iacute;o con par&aacute;metros integrables en un microcircuito CMOS. Sin embargo, dada la configuraci&oacute;n de las estructuras A, B y C se espera una reducci&oacute;n en el esfuerzo requerido para el dise&ntilde;o del circuito interfaz.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>5 Conclusiones</b></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se presentan tres conceptos de sensores MEMS de masa basados en vigas de polisilicio en voladizo que, adem&aacute;s, se pueden utilizar como sensores inerciales. Se predice, mediante un an&aacute;lisis de elemento finito, una resoluci&oacute;n de 3.43 pg/Hz, 6.71 pg/Hz y 17.31 pg/Hz para los dise&ntilde;os A, B y C respectivamente. Su geometr&iacute;a estructural est&aacute; dise&ntilde;ada para facilitar la integraci&oacute;n electromec&aacute;nica y los dise&ntilde;os son complementarios de acuerdo a sus ventajas y desventajas. Estas propuestas ser&aacute;n fabricadas en el proceso de SUMMiT&#45;V y ser&aacute;n integradas con un circuito CMOS para obtener un dispositivo sensor h&iacute;brido que ser&aacute; posteriormente caracterizado y optimizado.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Agradecimientos</b></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Los autores agradecen a la Secretar&iacute;a de Investigaci&oacute;n y Posgrado (SIP) del Instituto Polit&eacute;cnico Nacional por el soporte y recursos que brind&oacute; a trav&eacute;s del proyecto SIP 20131505 y al CONACyT por la beca de estudios de posgrado otorgada.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Referencias</b></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">&#91;1&#93;. M. Reyes Barranca, S. Mendoza&#45;Acevedo,L. Flores&#45;Nava, A. &Aacute;vila&#45;Garc&iacute;a, E. V&aacute;zquez&#45;Acosta,J. Moreno&#45;Cadenas, G. Casados&#45;Cruz.Sensors <b>10</b>, 10413 (2010).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=9704398&pid=S1665-3521201400020000500001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">&#91;2&#93;. S. Rabbani, P. Brishbhan, Electrical and Computer Engineering (CCECE), 24th Canadian Conference (2011).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=9704400&pid=S1665-3521201400020000500002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">&#91;3&#93;. J. Puigcorb&eacute;, A. Vil&agrave;, J. Cerd&agrave;, A. Cirera, I. Gr&agrave;cia, C. Can&eacute;, J.R. Morante, Sensors and Actuators A: Physical <b>97</b>, 379(2002).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=9704402&pid=S1665-3521201400020000500003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">&#91;4&#93;. M. Narducci, E. Figueras, I. Gracia, L. Fonseca, J. Santander, and C. Can&eacute;. DTIP of MEMS and MOEMS (2007).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=9704404&pid=S1665-3521201400020000500004&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">&#91;5&#93;. M. Villarroya, J. Verd, J. Teva, G. Abadal, E. Forsen, F. P&eacute;rez, A. Uranga, E. Figueras, J. Montserrat, J. Esteve, A. Boisen, N Barniol. Sensors and Actuators A: Physical <b>132</b>, 154 (2006).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=9704406&pid=S1665-3521201400020000500005&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">&#91;6&#93;. J. Juillard, A. Bonnoit, E. Avignon, S. Hentz, E. Colinet. Journal of Applied Physics <b>107</b>, 014907 (2010).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=9704408&pid=S1665-3521201400020000500006&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">&#91;7&#93;. Design Manual, Sandia Corporation, Lockheed Martin Company. SUMMiT V Design Manual. Technical report, 2008.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=9704410&pid=S1665-3521201400020000500007&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">&#91;8&#93;. C. Kim, A. P. Pisano, R. S. Muller, M. G. Lim. Solid&#45;State Sensor and Actuator Workshop(1990).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=9704412&pid=S1665-3521201400020000500008&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">&#91;9&#93;. D. Sarid, "Scanning Force Microscopy. With Applications to Electric, Magnetic and Atomic Forces" (Oxford University Press, 1994).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=9704414&pid=S1665-3521201400020000500009&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">&#91;10&#93;. S. Baglio, S. Castorina, G. Ganci, N. Savalli. IMTC 04, Proceedings of the 21st IEEE <b>2</b>, 1542 (2004).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=9704416&pid=S1665-3521201400020000500010&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">&#91;11&#93;. W.C. Tang, T.H. Nguyen, R.T. Howe, Computer Sciences, and Berkeley Sensor. Electro Mechanical Systems, IEEE (1989).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=9704418&pid=S1665-3521201400020000500011&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">&#91;12&#93;. W.C. Tang, M.G. Lim, R.T. Howe. Journal of Microelectromechanical Systems <b>1</b>, 170(1992).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=9704420&pid=S1665-3521201400020000500012&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>      ]]></body><back>
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