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<article-title xml:lang="es"><![CDATA[Desarrollo de un modelo electro-térmico para apartarrayos de ZnO bajo contaminación]]></article-title>
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<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[An electro-thermal model for a Zinc Oxide (ZnO) surge arrester under contamination tests is presented. The model is based in three sub-models: electrical, thermal and contamination, which interact in order to obtain the surge arrester performance under contamination tests. The electrical model is obtained from measurements and is based on a capacitance and a non-linear resistor. The thermal model takes into account the heat generated and dissipated by the column of varistors and its surroundings. The contamination is represented by a dynamic impedance obtained from measurements in the arrester column during contamination tests. The full model is validated by calculating the temperature increase during contamination tests carried out in a two units ZnO surge arrester, class 190 kV. Finally, the results of the effect of several design and construction parameters in the voltage and temperature distribution in the arrester columns during contamination tests are presented.]]></p></abstract>
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</front><body><![CDATA[ <p align="center"><font face="verdana" size="4"><b>Desarrollo de un modelo electro&#150;t&eacute;rmico para apartarrayos de ZnO bajo contaminaci&oacute;n</b></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="3"><b><i>Development of an Electro&#150;Thermal Model for ZnO Surge Arrester Under Contamination</i></b></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><b>J.L. Guardado&#150;Zavala<sup>1</sup>, M. Moreno&#150;Barraza<sup>2</sup> &#8224;, H. Zazueta&#150;Pe&ntilde;a<sup>3</sup>, V. Venegas&#150;Rebollar<sup>4</sup> y E. Melgoza&#150;V&aacute;zquez<sup>5</sup></b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i><sup>1</sup> Posgrado en Ingenier&iacute;a El&eacute;ctrica, Instituto Tecnol&oacute;gico de Morelia, M&eacute;xico. E&#150;mail</i>: <a href="mailto:lguarda@prodigy.net.mx">lguarda@prodigy.net.mx</a></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i><sup>2</sup> Posgrado en Ingenier&iacute;a El&eacute;ctrica, Instituto Tecnol&oacute;gico de Morelia, M&eacute;xico. E&#150;mail</i>: <a href="mailto:mmoreno_mx@yahoo.com">mmoreno_mx@yahoo.com</a></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i><sup>3</sup> Posgrado en Ingenier&iacute;a El&eacute;ctrica, Instituto Tecnol&oacute;gico de Morelia, M&eacute;xico. E&#150;mail</i>: <a href="mailto:hzazuetapea@yahoo.com">hzazuetapea@yahoo.com</a></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i><sup>4</sup> Posgrado en Ingenier&iacute;a El&eacute;ctrica, Instituto Tecnol&oacute;gico de Morelia, M&eacute;xico. E&#150;mail</i>: <a href="mailto:vvenegas@yahoo.com">vvenegas@yahoo.com</a></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i><sup>5</sup> Posgrado en Ingenier&iacute;a El&eacute;ctrica, Instituto Tecnol&oacute;gico de Morelia, M&eacute;xico. E&#150;mail</i>: <a href="mailto:emelgoza@iimorelia.edu.mx">emelgoza@iimorelia.edu.mx</a></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Recibido: febrero de 2008    <br> Aceptado: octubre de 2008</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Resumen</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se presenta el modelo electro&#150;t&eacute;rmico para un apartarrayos de &Oacute;xido de Zinc (ZnO) durante pruebas de contaminaci&oacute;n. El modelo est&aacute; compuesto de tres sub&#150;modelos: el&eacute;ctrico, t&eacute;rmico y de contaminaci&oacute;n, los cuales interact&uacute;an arm&oacute;nicamente para obtener el comportamiento del apartarrayos durante pruebas de contaminaci&oacute;n. El modelo el&eacute;ctrico se obtiene de mediciones y est&aacute; compuesto de una capacitancia y una resistencia no&#150;lineal. El modelo t&eacute;rmico considera el calor generado y disipado en la columna de varistores y su entorno. La contaminaci&oacute;n se representa como una impedancia din&aacute;mica, cuyos valores se obtienen de mediciones en la columna del apartarrayos durante pruebas de contaminaci&oacute;n. El modelo se valida determinando el incremento de temperatura durante pruebas de contaminaci&oacute;n en un apartarrayos de ZnO de dos unidades clase 190 kV Finalmente, se presentan los resultados del impacto de diversos par&aacute;metros de dise&ntilde;o y construcci&oacute;n en la distribuci&oacute;n de voltaje y temperatura en el apartarrayos durante pruebas de contaminaci&oacute;n.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Descriptores: </b>modelo electro&#150;t&eacute;rmico, apartarrayos de ZnO, contaminaci&oacute;n, pruebas de contaminaci&oacute;n, impedancia din&aacute;mica.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b><i>Abstract</i></b></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>An electro&#150;thermal model for a Zinc Oxide (ZnO) surge arrester under contamination tests is presented. The model is based in three sub&#150;models: electrical, thermal and contamination, which interact in order to obtain the surge arrester performance under contamination tests. The electrical model is obtained from measurements and is based on a capacitance and a non&#150;linear resistor. The thermal model takes into account the heat generated and dissipated by the column of varistors and its surroundings. The contamination is represented by a dynamic impedance obtained from measurements in the arrester column during contamination tests. The full model is validated by calculating the temperature increase during contamination tests carried out in a two units ZnO surge arrester, class 190 kV. Finally, the results of the effect of several design and construction parameters in the voltage and temperature distribution in the arrester columns during contamination tests are presented.</i></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b><i>Keywords: </i></b><i>Electro&#150;thermal model, ZnO surge arrester, contamination, contamination test, dynamic impedance.</i></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Introducci&oacute;n</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Los apartarrayos de ZnO se utilizan ampliamente en las redes de transmisi&oacute;n y distribuci&oacute;n de energ&iacute;a para limitar las sobretensiones el&eacute;ctricas. Bajo condiciones de contaminaci&oacute;n en su cubierta de porcelana, los varistores presentan un calentamiento adicional que bajo ciertas condiciones puede conducir a inestabilidad t&eacute;rmica y su destrucci&oacute;n.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Para investigar este comportamiento se desarroll&oacute; un nuevo modelo electro&#150;t&eacute;rmico del apartarrayos, el cual incluye los efectos de la contaminaci&oacute;n.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El desarrollo de modelos electro&#150;t&eacute;rmicos para apartarrayos ha sido un t&oacute;pico de inter&eacute;s para la industria el&eacute;ctrica. En 1988, Lat (1988) present&oacute; un modelo electro&#150;t&eacute;rmico para apartarrayos tipo distribuci&oacute;n y sin contaminaci&oacute;n. El modelo t&eacute;rmico estuvo compuesto por una fuente de corriente, capacitancias y resistencia t&eacute;rmicas. Por otro lado, el modelo el&eacute;ctrico estuvo representado por las curvas experimentales de los varistores a varias temperaturas. La interacci&oacute;n de los modelos el&eacute;ctrico y t&eacute;rmico constituyen el modelo electro&#150;t&eacute;rmico del apartarrayos.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Posteriormente, Hinrichsen <i>et al</i>. (1987) presentaron un modelo electro&#150;t&eacute;rmico para apartarrayos de transmisi&oacute;n. Su modelo consiste de un modelo el&eacute;ctrico formado por un arreglo paralelo de capacitancias y resistencias no lineales para una secci&oacute;n dada del apartarrayos. Para el modelo completo se tiene una red en escalera en paralelo con otra red en escalera representativa del modelo t&eacute;rmico, similar al de Lat.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Hasta aqu&iacute; no se ha tratado el efecto de la contaminaci&oacute;n. Vitet <i>et al</i>. (1992) realiza una investigaci&oacute;n experimental en campo y presenta un modelo electro&#150;t&eacute;rmico similar al de Lat, modific&aacute;ndolo en tres aspectos. La capacidad t&eacute;rmica de la cubierta de porcelana se dividi&oacute; en dos ramas, se incorpor&oacute; la capacidad t&eacute;rmica de las placas met&aacute;licas en la columna de varistores y el calor espec&iacute;fico del material de ZnO se consider&oacute; dependiente de la temperatura. Vitet encuentra que la temperatura de un varistor durante una prueba de contaminaci&oacute;n puede ser estimada si la carga interna es conocida en funci&oacute;n del tiempo. El modelo electro&#150;t&eacute;rmico propuesto considera dos fuentes, una debida a la disipaci&oacute;n de potencia en los varistores y otra debida a la contaminaci&oacute;n. Bargigia <i>et al</i>. (1998) desarrollan un modelo electro&#150;t&eacute;rmico similar, considerando el efecto de la contaminaci&oacute;n como una fuente de corriente adicional en el modelo el&eacute;ctrico. En ambos casos, la contaminaci&oacute;n se considera constante.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Posteriormente, Feser <i>et al</i>. (1991), presentan un modelo electro&#150;t&eacute;rmico para una sola unidad de apartarrayos y lo considera como una doble red de capacitancia en paralelo con una resistencia no lineal. As&iacute;, la contaminaci&oacute;n se modela como una resistencia superficial y una capacitancia en paralelo.</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">Siguiendo el desarrollo de los modelos, Naito <i>et al</i>. (1997), modifican la caracter&iacute;stica est&aacute;tica de la capa de contaminaci&oacute;n y propone un modelo para describir la variaci&oacute;n con el tiempo de la misma, es decir, considera una impedancia din&aacute;mica. Es importante mencionar que este trabajo no fue validado experimentalmente.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Los autores realizaron una investigaci&oacute;n experimental sobre el comportamiento de la contaminaci&oacute;n superficial siguiendo el m&eacute;todo del contaminante h&uacute;medo del IEEE (1993). De esta manera, el modelo propuesto para la impedancia din&aacute;mica de Naito se valid&oacute; experimentalmente en pruebas y mediciones realizadas. Posteriormente, el modelo din&aacute;mico de la contaminaci&oacute;n se incorpor&oacute; a un modelo electro&#150;t&eacute;rmico del apartarrayos utilizando el Alternative Transient Program (ATP). Una vez integrados los tres modelos: el&eacute;ctrico, t&eacute;rmico y de contaminaci&oacute;n, se valid&oacute; el modelo de apartarrayos y se efectuaron diversos estudios de sensitividad a fin de evaluar el comportamiento de las diferentes variables el&eacute;ctricas y t&eacute;rmicas en el modelo de apartarrayos durante pruebas de contaminaci&oacute;n. Se tom&oacute; como referencia un apartarrayos de dos unidades, clase 190 kV y un MCOV de 210 kV.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la <a href="#f1">figura 1</a> se presenta el apartarrayos de dos unidades considerado, as&iacute; como sus partes constitutivas m&aacute;s importantes.</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f1"></a></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v11n1/a9f1.jpg"></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Modelo del apartarrayos bajo pruebas de contaminaci&oacute;n</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El modelo completo del apartarrayos est&aacute; integrado por tres sub&#150;modelos que son el el&eacute;ctrico, el de contaminaci&oacute;n y el t&eacute;rmico, que al interactuar arm&oacute;nicamente permiten obtener el comportamiento del apartarrayos durante pruebas de contaminaci&oacute;n.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Para prop&oacute;sitos de modelado, el apartarrayos se dividi&oacute; en ocho secciones (S1&#150;S8) y dos redes en escalera unidas por las capacitancias de acoplamiento, <i>C<sub>a</sub></i>, como se observa en la <a href="#f2">figura 2</a>. En esta figura, la red en escalera de lado izquierdo representa el comportamiento de los elementos no lineales del apartarrayos (varistores). Por otro lado, la red del lado derecho representa el comportamiento de la capa de contaminaci&oacute;n en la superficie externa de la porcelana.</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f2"></a></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v11n1/a9f2.jpg"></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Adem&aacute;s, existen las capacitancias par&aacute;sitas a tierra, <i>C<sub>p</sub>. </i>A continuaci&oacute;n, se describen cada uno de los tres sub&#150;modelos.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>A. Sub&#150;Modelo el&eacute;ctrico</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El modelo el&eacute;ctrico de los varistores del apartarrayos est&aacute; integrado por la resistencia y capacitancia en paralelo del lado izquierdo de la red en escalera de la <a href="#f2">figura 2</a>. Mientras que la capacitancia es pr&aacute;cticamente constante (Hinrichen <i>et al</i>., 1987), la resistencia del varistor es no&#150;lineal y dependiente del voltaje y la temperatura, <i>R</i>(<i>v,T</i>).</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Para obtener los valores espec&iacute;ficos de resistencia, se obtuvieron de manera experimental las curvas <i>V&#150;I </i>de los varistores a temperaturas y voltajes discretos.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">As&iacute;, para valores intermedios de corriente y/o voltaje requeridos durante las simulaciones se efectuaron interpolaciones entre los resultados medidos a fin de obtener <i>R</i>(<i>v,T</i>).</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Por otro lado, las capacitancias par&aacute;sitas, <i>C<sub>p</sub></i>, se obtuvieron experimentalmente midiendo la corriente axial en la columna de varistores, de acuerdo con (Hinrichen <i>et al</i>., 1987).</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La capacitancia de acoplamiento, <i>C<sub>a</sub></i>, se presenta entre la columna de varistores y la superficie externa de la porcelana. Esta capacitancia es el equivalente de dos capacitancias en serie. La primera es la capacitancia debida al espacio de aire y la segunda debida al espesor de la porcelana. Sus valores se calcularon utilizando un modelo de cilindros conc&eacute;ntricos, as&iacute; como las dimensiones y caracter&iacute;sticas de los materiales involucrados.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la <a href="#f3">figura 3</a> se presentan los valores de resistencia del varistor para varias temperaturas y voltajes discretos.</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f3"></a></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v11n1/a9f3.jpg"></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Obs&eacute;rvese que a tensiones elevadas la resistencia del varistor disminuye significativamente, debido a que el dispositivo entra en su zona de conducci&oacute;n.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>B. Sub&#150;modelo t&eacute;rmico</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El modelo t&eacute;rmico desarrollado, debe considerar el calor generado y disipado entre la columna de varistores y su entorno. En direcci&oacute;n axial, la disipaci&oacute;n de calor se realiza mediante conducci&oacute;n entre los varistores y las bridas localizadas en los extremos de la columna. En direcci&oacute;n radial, el calor se transmite de la columna de varistores al medio externo por conducci&oacute;n, <i>q<sub>c</sub></i>, convecci&oacute;n, <i>q<sub>conv</sub></i>, y radiaci&oacute;n <i>q<sub>r</sub></i>.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El flujo de calor en direcci&oacute;n axial es peque&ntilde;o y normalmente no se considera en el an&aacute;lisis (Lat, 1985) y (Swalin <i>et al</i>., 1972). Por tanto, es posible establecer la ecuaci&oacute;n de equilibrio t&eacute;rmico para el flujo de calor radial en los varistores, la cual establece que el flujo de calor que entra es igual al flujo de calor que sale, como se muestra en la expresi&oacute;n (1). La fuente de calor es la potencia disipada en las resistencias no lineales. La ecuaci&oacute;n de balance t&eacute;rmico es:</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v11n1/a9s1.jpg"></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se considera que el equilibrio t&eacute;rmico se alcanza cuando el calor generado, menos el calor almacenado en los varistores, es igual al calor disipado por conducci&oacute;n, convecci&oacute;n y radiaci&oacute;n, con lo cual se obtiene:</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v11n1/a9s2.jpg"></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">En (2), el primer t&eacute;rmino del lado izquierdo es el calor generado por los varistores, debido al voltaje aplicado durante la prueba. El segundo t&eacute;rmino es el calor almacenado en los varistores por la capacitancia t&eacute;rmica del varistor, <i>C<sub>i</sub></i>, la cual se define como la capacidad que tienen los cuerpos s&oacute;lidos de almacenar calor o energ&iacute;a t&eacute;rmica (Swalin <i>et al., </i>1972).</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Por otro lado, el primer t&eacute;rmino del lado derecho involucra al calor disipado por conducci&oacute;n y convecci&oacute;n, la constante <i>h </i>combina los coeficientes de conducci&oacute;n y convecci&oacute;n para el &Oacute;xido de Zinc y <i>S </i>es la superficie lateral del varistor. Aqu&iacute; se considera un valor para <i>h </i>de <i>8</i>&#955;<i>, </i>siendo &#955; la conductividad del material (Swalin <i>et al., </i>1972) y (Moreno, 2003). Asimismo, considerando que:</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>S </i>= 2 &#960;<i> r l, </i></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">donde <i>r </i>es el radio de una secci&oacute;n de varistores y <i>l </i>su altura; por consiguiente, se obtiene un coeficiente de conducci&oacute;n y convecci&oacute;n para un varistor de &Oacute;xido de Zinc (Moreno, 2003):</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v11n1/a9s3.jpg"></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El segundo t&eacute;rmino del lado derecho en (2) es el calor disipado por radiaci&oacute;n e involucra la emisividad del material &#949; y la constante de Stefan&#150;Boltzmann &#963; (Swalin <i>et al., </i>1972) y (Moreno, 2003). Al sustituir (3) en (2), la ecuaci&oacute;n de equilibrio t&eacute;rmico resultante es:</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v11n1/a9s4.jpg"></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La temperatura de la secci&oacute;n de varistores se determina resolviendo la ecuaci&oacute;n diferencial (4) mediante un m&eacute;todo num&eacute;rico adecuado, tomando en cuenta que &eacute;sta es una ecuaci&oacute;n diferencial no&#150;lineal. El m&eacute;todo de integraci&oacute;n empleado fue el de Euler, el cual se describe en (Chapra <i>et al</i>., 1999) y consiste en obtener la derivada <i>dT/dt </i>y aplicar las condiciones iniciales (Moreno, 2003).</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>C. Sub&#150;modelo de contaminaci&oacute;n</b></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">La capa contaminante en el apartarrayos se puede modelar como un circuito <i>RC </i>paralelo, rama derecha de la <a href="#f2">figura 2</a>. La <i>R </i>representa la resistencia superficial del contaminante de cada secci&oacute;n y <i>C </i>es la capacitancia de cada secci&oacute;n contaminada. Tambi&eacute;n existe un acoplamiento capacitivo, <i>C<sub>a</sub></i>, entre la columna de varistores y la capa contaminante.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El modelo para representar la capa contaminante en el apartarrayos se basa en considerar a &eacute;sta como una impedancia que var&iacute;a con el tiempo. La <a href="#f4">figura 4</a> presenta el comportamiento de la resistencia superficial medida en la secci&oacute;n 6 (S6) del apartarrayos bajo estudio, durante una prueba de contaminaci&oacute;n artificial realizada en el laboratorio de Pruebas El&eacute;ctricas de la Comisi&oacute;n Federal de Electricidad (LAPEM&#150;CFE) (Moreno, 2003). Para efectuar las mediciones se construy&oacute; un brazo especial, el cual permite efectuar ocho mediciones de resistencia superficial en secciones predefinidas del apartarrayos.</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f4"></a></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v11n1/a9f4.jpg"></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Los resultados medidos se pueden representar computacionalmente mediante una curva sigmoide con cuatro par&aacute;metros de ajuste (Naito <i>et al</i>., 1997), (Moreno, 2003) y (Transforms and Regressions for Windows, 1997).</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La expresi&oacute;n matem&aacute;tica que describe la curva sigmoide es:</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v11n1/a9s5.jpg"></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Al modificar la expresi&oacute;n (5) para el caso de la parte real e imaginaria de la impedancia capacitiva de la capa contaminante se tiene:</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v11n1/a9s6.jpg"></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">donde:</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<blockquote>       <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>R<sub>0</sub></i>: Valor inicial de la resistencia h&uacute;meda.</font></p>       <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>R:</i> Valor de la resistencia seca.</font></p>       <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>X<sub>0</sub>:</i> Valor inicial de la reactancia h&uacute;meda.</font></p>       <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>X:</i> Valor de la reactancia seca.</font></p>       <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>t:</i> Variable de tiempo.</font></p>       <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>mi, a, </i>&#945;, &#946;: Constantes.</font></p>       <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>V</i>: Voltaje aplicado.</font></p> </blockquote>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la expresi&oacute;n (8) se han incluido los t&eacute;rminos &#945;<i>, </i>&#946; <i>y V</i>(<i>t</i>), a fin de considerar un efecto observado experimentalmente, consistente en que a mayor voltaje aplicado el secado, es m&aacute;s r&aacute;pido, o bien, el tiempo de humectaci&oacute;n se reduce.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se desarrollaron programas de c&oacute;mputo para ajustar matem&aacute;ticamente el comportamiento experimental de la resistencia y la reactancia medida en cada una de las secciones del apartarrayos durante pruebas de contaminaci&oacute;n. En la <a href="/img/revistas/iit/v11n1/a9f5.jpg" target="_blank">figura 5</a> se presenta el comportamiento de la resistencia superficial de las diferentes secciones del apartarrayos (S1&#150;S8) durante una prueba de contaminaci&oacute;n. Obs&eacute;rvese que la contaminaci&oacute;n no es uniforme en las diferentes secciones durante la prueba.</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>D. Procedimiento de soluci&oacute;n</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Para resolver las diferentes ecuaciones del modelo de apartarrayos propuesto, se utiliz&oacute; el paquete computacional ATP y su secci&oacute;n de MODELS. As&iacute;, en cada instante de tiempo &#916;<i>t </i>se estimaron los voltajes en los nodos y las corrientes circulando por las ramas. Posteriormente, en MODELS se estimaron los nuevos valores de las resistencias no&#150;lineales representativas del varistor y la capa de contaminaci&oacute;n, las cuales son dependientes del voltaje, temperatura y tiempo.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Asimismo, en MODELS se revolvi&oacute; el circuito t&eacute;rmico, cuyas entradas son las potencias disipadas en los varistores. Una vez calculadas las nuevas temperaturas en las diferentes secciones del apartarrayos se determinaron los valores de <i>R</i>(<i>v,T</i>), v&aacute;lidos para la siguiente iteraci&oacute;n.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">De esta manera, los resultados del modelo el&eacute;ctrico sirven de entrada al modelo t&eacute;rmico, y en el siguiente instante de tiempo, los resultados del modelo t&eacute;rmico se utilizan en el modelo el&eacute;ctrico y as&iacute; sucesivamente. Este proceso din&aacute;mico de c&aacute;lculo y actualizaci&oacute;n se muestra en el diagrama de la <a href="#f6">figura 6</a>.</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f6"></a></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v11n1/a9f6.jpg"></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Resultados obtenidos</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>A. Pruebas de laboratorio</b></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">Para validar el modelo desarrollado se efectu&oacute; una prueba de contaminaci&oacute;n artificial bajo condiciones controladas y los resultados de temperatura medidos se compararon con las temperaturas calculadas. En este caso, se contamin&oacute; solamente la unidad inferior del apartarrayos, dej&aacute;ndose la parte superior sin contaminaci&oacute;n, lo cual representa las condiciones m&aacute;s cr&iacute;ticas para el apartarrayos.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la <a href="#f7">figura 7</a> se presenta el comportamiento considerado para la resistencia superficial de la capa de contaminaci&oacute;n en las diferentes secciones del apartarrayos.</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f7"></a></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v11n1/a9f7.jpg"></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Por otro lado, en la <a href="#t1">tabla 1</a> se presentan las temperaturas m&aacute;ximas obtenidas durante la prueba. Las mediciones se efectuaron utilizando bandas t&eacute;rmicas colocadas directamente sobre los varistores, por lo que solamente se registraron las temperaturas m&aacute;ximas en tres secciones de la unidad superior.</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="t1"></a></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v11n1/a9t1.jpg"></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">De la <a href="#t1">tabla 1</a> se observa que el modelo es capaz de predecir la temperatura m&aacute;xima en los varistores durante la prueba de contaminaci&oacute;n. Las temperaturas en la unidad inferior oscilan alrededor de 46 &deg;C. El margen de error estimado es de 5&#150;6%. Obs&eacute;rvese que las temperaturas m&aacute;s elevadas se localizan en las secciones de varistores que est&aacute;n directamente sobre la banda seca, en este caso, la unidad superior. Las temperaturas calculadas en las diferentes secciones de la unidad superior son las mismas porque se considera la misma variaci&oacute;n de la resistencia superficial en la columna de apartarrayos, (<a href="#f7">figura 7</a>).</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>B. Reproducci&oacute;n de pruebas de laboratorio</b></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">En esta secci&oacute;n se presenta la simulaci&oacute;n de una prueba de contaminaci&oacute;n utilizando el modelo de apartarrayos completo y una impedancia din&aacute;mica para simular la resistencia superficial debida a la contaminaci&oacute;n. En la <a href="/img/revistas/iit/v11n1/a9f5.jpg" target="_blank">figura 5</a> se presentaron las curvas de resistencia superficial de las diferentes secciones del apartarrayos ajustadas computacionalmente, por medio de la funci&oacute;n sigmoide, las cuales se utilizaron para simular la prueba. En general, se observa que durante la prueba, la resistencia superficial de las secciones se comporta de manera diferente en cada secci&oacute;n. Con base a este comportamiento de la resistencia superficial, se estimaron voltajes, corrientes y temperaturas en las diferentes secciones en las que se dividi&oacute; el apartarrayos, los cuales se presentan a continuaci&oacute;n.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la <a href="#f8">figura 8</a> se presentan las tensiones estimadas en la porcelana. Obs&eacute;rvese que en la parte externa de la secci&oacute;n 8 se presenta pr&aacute;cticamente la mayor parte de la tensi&oacute;n aplicada al apartarrayos, y en el resto de las secciones la magnitud de tensi&oacute;n es m&aacute;s peque&ntilde;a. Esto se explica por el hecho de que la secci&oacute;n 8 presenta una banda seca pr&aacute;cticamente desde el inicio de la prueba (<a href="/img/revistas/iit/v11n1/a9f5.jpg" target="_blank">figura 5</a>).</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f8"></a></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v11n1/a9f8.jpg"></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la <a href="#f9">figura 9</a> se presentan las tensiones internas entre las secciones de varistores. En este caso, la secci&oacute;n 8 alcanza una tensi&oacute;n m&aacute;xima de 44 kV, mientras que en las secciones inferiores la diferencia de potencial a trav&eacute;s de los varistores es m&aacute;s peque&ntilde;a.</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f9"></a></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v11n1/a9f9.jpg"></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se efectuaron varios estudios modificando los diferentes par&aacute;metros de dise&ntilde;o y construcci&oacute;n del apartarrayos, a fin de evaluar su impacto en el incremento de temperatura del mismo durante una prueba de contaminaci&oacute;n. A continuaci&oacute;n se presentan los resultados m&aacute;s importantes.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la <a href="#f10">figura 10</a> se presentan las corrientes internas de las secciones de varistores 8 y 3. Se observa que en la secci&oacute;n 8 se presenta la corriente m&aacute;xima de 28 mA. Despu&eacute;s de los 10 minutos, esta corriente disminuye y se estabiliza. La corriente m&aacute;xima de la secci&oacute;n 3 es de 1 mA. Como se puede observar, gran parte de la corriente circula por la unidad superior, teniendo por consecuencia que los varistores de esta zona incrementen su temperatura, mientras que en la unidad inferior las corrientes son m&aacute;s peque&ntilde;as y las secciones de varistores casi no presentan cambio de temperaturas.</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f10"></a></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v11n1/a9f10.jpg"></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Finalmente, en la <a href="#f11">figura 11</a> se muestran las temperaturas de las diferentes secciones del apartarrayos durante la prueba de contaminaci&oacute;n.</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f11"></a></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v11n1/a9f11.jpg"></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">De la figura se observa que las temperaturas alcanzadas en las secciones superiores es del orden de <i>T</i>= 46 &deg;C. Esto se explica por el hecho de que los varistores de la unidad superior se encuentran frente a las bandas secas y experimentan una diferencia de potencial mayor que aquellos que se encuentran frente al contaminante h&uacute;medo.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>C. An&aacute;lisis de sensitividad</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se analiz&oacute; primeramente el efecto de la capacitancia de acoplamiento entre las dos redes en escalera. El intervalo de variaci&oacute;n de la capacitancia de acoplamiento fue de 50&#150;130 pF. Este es el intervalo en el que puede variar la capacitancia, considerando el espacio entre la columna de varistores y la pared interna de la porcelana. El an&aacute;lisis del comportamiento se realiz&oacute; considerando varios par&aacute;metros de crecimiento de la resistencia superficial y asumiendo que la parte externa de la secci&oacute;n 1 (S1) se seca primero que las dem&aacute;s secciones. En la <a href="#f12">figura 12</a> se presentan los resultados de estas simulaciones y en general, se puede establecer que al aumentar la capacitancia de acoplamiento se incrementa la temperatura. </font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Con prop&oacute;sitos ilustrativos, se efectuaron simulaciones considerando una variaci&oacute;n en la magnitud de la conductividad t&eacute;rmica &#955;. Las conductividades t&eacute;rmicas empleadas fueron &#955;<i>= </i>1.16 y 0.6. Con el cambio de este par&aacute;metro se modifican los par&aacute;metros del circuito t&eacute;rmico del apartarrayos. Los resultados obtenidos se muestran en la <a href="#f13">figura 13</a>. Como fue de esperarse, se observa una fuerte influencia de la conductividad t&eacute;rmica del varistor en la temperatura del apartarrayos, aunque tambi&eacute;n cabe mencionar que el cambio en la conductividad t&eacute;rmica es significativo.</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f12"></a></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v11n1/a9f12.jpg"></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f13"></a></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v11n1/a9f13.jpg"></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se evalu&oacute; tambi&eacute;n el impacto de considerar una tensi&oacute;n mayor durante la prueba de contaminaci&oacute;n. Para efectuar este estudio se consideraron varios valores de sobretensi&oacute;n aplicada (p.u.). Los resultados obtenidos se presentan en la <a href="#f14">figura 14</a>. Como es de esperarse, tambi&eacute;n se observa un incremento de temperatura en los varistores para mayores tensiones de prueba.</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f14"></a></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v11n1/a9f14.jpg"></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Conclusiones</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se ha presentado un modelo computacional para el apartarrayos de ZnO durante pruebas de contaminaci&oacute;n en laboratorio. El modelo est&aacute; integrado por tres sub&#150;modelos que al interactuar arm&oacute;nicamente permiten obtener las temperaturas en los varistores durante la prueba, as&iacute; como diversas variables el&eacute;ctricas en funci&oacute;n del tiempo. El modelo se valid&oacute; con una prueba de contaminaci&oacute;n controlada, obteni&eacute;ndose un margen de error en la estimaci&oacute;n de la temperatura del 5&#150;6 %, el cual se considera aceptable. Con base al modelo desarrollado se efectuaron diversos estudios para estimar qu&eacute; par&aacute;metros tienen un impacto importante en la temperatura del apartarrayos durante la prueba de contaminaci&oacute;n. Se determin&oacute; que la capacitancia de acoplamiento, la conductividad t&eacute;rmica de los varistores y la tensi&oacute;n de prueba influyen de manera importante en las temperaturas finales.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Agradecimientos</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Los autores expresan su reconocimiento a la Direcci&oacute;n General de Educaci&oacute;n Superior Tecnol&oacute;gica (DGEST) y al Consejo Nacional de Ciencia y Tecnolog&iacute;a (CONACYT) por el apoyo econ&oacute;mico brindado para la realizaci&oacute;n de estos estudios.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Referencias</b></font></p>     <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Bargigia A., Mazza G., Le Roy G., Rousseau A. y Sparrow L. Behaviour of Metal Oxide Surge Arrester Under Different Environmental Conditions. En: CIGRE Session, Paris France, 1998, Paper 33&#150;14. </font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4251297&pid=S1405-7743201000010000900001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Chapra S.C., Canales R.P. <i>M&eacute;todos num&eacute;ricos para ingenieros. </i>McGraw&#150;Hill Interamericana. 1999. </font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4251298&pid=S1405-7743201000010000900002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Feser K., Kohler W., Qiu D., Chrzan K. Behaviour of Zinc Oxide Surge Arresters Under Pollution. <i>IEEE Transactions on Power Delivery</i>, 6. April 1991. </font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4251299&pid=S1405-7743201000010000900003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Hinrichsen V., Peiser R. Simulation of the AC Performance of Gapless ZnO Arresters. Proceedings of the 5<sup>th</sup> International Symposium on High Voltage Engineering, 1987, Paper 82.09, Braunschweig, Germany. <i>    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4251300&pid=S1405-7743201000010000900004&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref -->IEEE Standard for Metal Oxide Surge Arresters for Alternating Current Power Circuits</i>. ANSI Standard C62.11&#150;1993.</font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4251301&pid=S1405-7743201000010000900005&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Lat M.V. Analytical Method for Performance Prediction of Metal Oxide Surge Arresters. <i>IEEE Transactions on Power Apparatus and Systems</i>, 104(10). 1985.</font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4251302&pid=S1405-7743201000010000900006&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Moreno M. Simulaci&oacute;n del comportamiento electro&#150;t&eacute;rmico de apartarrayos de ZnO bajo contaminaci&oacute;n. Tesis (Doctorado). Instituto Tecnol&oacute;gico de Morelia. Junio 2003.</font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4251303&pid=S1405-7743201000010000900007&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Naito K., Mizuno Y., Murasige K. Behavior of Two Units Stacked Arrester Under Contaminated and Wet Conditions. Proceedings of the 5<sup>th</sup> International Conference on Electrical Engineering, July 1997, Matsue, Japan.</font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4251304&pid=S1405-7743201000010000900008&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Reference Manual 1997. <i>Transforms &amp; Regressions for Windows</i>. Chapter 3. Sigma Plot. 1997.</font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4251305&pid=S1405-7743201000010000900009&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Swalin V., Richard A. <i>Thermodynamics of Solids</i>. New York. John Wiley &amp; Sons. 1972.</font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4251306&pid=S1405-7743201000010000900010&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Vitet S., Stenstrom L., Lundquist J. Thermal Stress on ZnO Surge Arresters in Pollution Conditions. Parts I and II. <i>IEEE Transactions on Power Delivery</i>, 7(4):432&#150;442 y 443&#150;451. October 1992.</font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4251307&pid=S1405-7743201000010000900011&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Semblanza de los autores</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>Jos&eacute; Leonardo Guardado&#150;Zavala. </i>Se gradu&oacute; como ingeniero electricista en la UMSNH en 1982. Ingres&oacute; al Instituto de Investigaciones El&eacute;ctricas en 1983, trabajando en l&iacute;neas de transmisi&oacute;n, equipos el&eacute;ctricos y transitorios electromagn&eacute;ticos. Realiz&oacute; estudios de maestr&iacute;a (1986) y doctorado (1990) en UMIST Inglaterra. Miembro del Sistema Nacional de Investigadores (SNI) desde 1990. Senior Member en el IEEE desde 2004. Actualmente es profesor investigador en el Instituto Tecnol&oacute;gico de Morelia.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>Marcos Moreno&#150;Barraza </i><b>&#8224;</b>. Ingeniero electricista (1970), estudios de maestr&iacute;a (1977) y doctorado en ingenier&iacute;a el&eacute;ctrica (2003) por el Instituto Tecnol&oacute;gico de Morelia. Trabaj&oacute; durante 30 a&ntilde;os en la Comisi&oacute;n Federal de Electricidad (CFE), fue miembro del SC33 Insulation Coordination de la CIGRE. Ha sido profesor de alta tensi&oacute;n en el Instituto Polit&eacute;cnico Nacional (IPN) y la Universidad de Guanajuato, as&iacute; como del Instituto Tecnol&oacute;gico Superior de Irapuato. Actualmente es profesor de tiempo parcial FIMEE 2007. Sus &aacute;reas de inter&eacute;s son la prueba de equipos el&eacute;ctricos, ingenier&iacute;a de alta tensi&oacute;n y fen&oacute;menos transitorios.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>Horacio Zazueta&#150;Pe&ntilde;a. </i>Realiz&oacute; estudios de ingenier&iacute;a el&eacute;ctrica en el Instituto Tecnol&oacute;gico de Sonora (ITSON), gradu&aacute;ndose en el 2005. Realiz&oacute; estudios de maestr&iacute;a en ingenier&iacute;a el&eacute;ctrica en el Programa de Graduados e Investigaci&oacute;n en Ingenier&iacute;a El&eacute;ctrica del Instituto Tecnol&oacute;gico de Morelia (ITM), obteniendo el grado en el 2007 con la especialidad en sistemas el&eacute;ctricos de potencia.</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>Vicente Venegas&#150;Rebollar. </i>Realiz&oacute; estudios de ingenier&iacute;a el&eacute;ctrica en el Instituto Tecnol&oacute;gico de Morelia (ITM), recibiendo su t&iacute;tulo en 1992. Tambi&eacute;n, obtuvo el grado de maestro en ciencias en 1996, por parte del ITM. Realiz&oacute; sus estudios de doctorado en la SEPI&#150;ESIME del IPN (2004). Actualmente es profesor&#150;investigador en el programa de graduados e investigaci&oacute;n en ingenier&iacute;a el&eacute;ctrica del Instituto Tecnol&oacute;gico de Morelia y miembro del Sistema Nacional de Investigadores. Sus &aacute;reas de inter&eacute;s son transitorios electromagn&eacute;ticos y t&eacute;cnicas de elemento finito aplicadas al an&aacute;lisis de equipo el&eacute;ctrico.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>Enrique Melgoza&#150;V&aacute;zquez. </i>Realiz&oacute; estudios de ingenier&iacute;a industrial en el&eacute;ctrica y maestr&iacute;a en ciencias en ingenier&iacute;a el&eacute;ctrica (1996), en el Instituto Tecnol&oacute;gico de Morelia, M&eacute;xico. Asimismo, obtuvo el doctorado en la Universidad de Bath (2002), Reino Unido. Miembro del Sistema Nacional de Investigadores. Sus &aacute;reas de inter&eacute;s son el c&aacute;lculo de campo electromagn&eacute;tico aplicado a m&aacute;quinas el&eacute;ctricas y fen&oacute;menos transitorios.</font></p>      ]]></body><back>
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