IHD para medir simultáneamente en 2D, usando dos fuentes independientes de luz laser con longitud de coherencia grande

T. Saucedo, L. Pérez-Arrieta, S. Hinojosa, and J.M. Rivera

Unidad Académica de Física, Universidad Autónoma de Zacatecas, Calzada Solidaridad Esq. Con Paseo La Bufa S/N, 98060, Zacatecas, México, e-mail: tsaucedo@física.uaz.edu.mx

Recibido el 28 de noviembre de 2011. ]]> Aceptado el 25 de octubre de 2012.

Resumen

Se presenta un arreglo para medir simultáneamente dos componentes ortogonales de deformación en la superficie de un objeto. El arreglo, basado en interferometría holográfica digital, usa dos láseres para grabar independientemente dos hologramas en un sólo cuadro de la cámara CCD. El arreglo se prueba con una placa metálica que cambia ligeramente sus dimensiones al ser calentada Trabajos recientes en el desarrollo de este tipo de arreglos, muestran limitantes en el hecho de no poder usar fuentes de luz con longitud de coherencia relativamente grandes. Este arreglo esta exento de esa limitante.

Descriptores: Interferometría holográfica; patrones de Speckle y Moiré; técnicas de pruebas ópticas; interferometría de desplazamiento de fase.

Abstract

One presents an arrangement to measure simultaneously two orthogonal components of deformation in the surface of an object. The arrange-ment, based in digital holographic interferometry, uses two lasers to record two holograms independently in a single frame from the camera CCD. The arrangement is proved by a metallic plate that changes lightly his dimensions to be heated. Recent works in the development of this type of arrangement, show constraints in the fact to not use light sources with relatively large coherence length. This arrangement is exempt from this limitation.

Keywords: Holographic interferometry; Speckle and Moiré patterns; optical testing techniques; phase shifting interferometry.

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Referencias

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