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<article-title xml:lang="es"><![CDATA[Comportamiento electroquímico de las películas delgadas de CrN/Cr obtenidas variando el potencial bias]]></article-title>
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<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[In this article is presented the applicability of the Kramers-Kronig relations (KK) to the validity study of the impedance measurements (EIS) on the variation of bias potential of the CrN / Cr, depositing on AISI 4140 steel substrates by the method of DC reactive sputtering magnetron in contact with NaCl 0.5 M. Nyquist diagrams show a capacitive behavior with a high impedance module and two time constants. In the implementation of KK integrals, were used two procedures: one based on an equivalent circuit thaa meets the KK relations, and another, according to on ohmic resistor connected in parallel. Additionally, from Tafel polarization curves were validated the found results with EIS. The morphology of the coating was evaluated by scanning electron microscopy of high-resolution; the optical microscopy (OM) was used to determine the morphology after the electrochemical evaluation. The results of impedance as a function of bias potential of CrN / Cr deposited on AISI 4140 steel substrates satisfy the KK relations; also it was found a dependency ratio of polarization potential on corrosion rate.]]></p></abstract>
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</front><body><![CDATA[  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="4">Materiales</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="4"><b>Comportamiento electroqu&iacute;mico de las pel&iacute;culas delgadas de CrN/Cr obtenidas variando el potencial bias</b></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="3"><b>Electrochemical behavior of thin films of CrN/Cr obtained varying the bias potential</b></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><b>W. Aperador<sup>1*</sup>, J. H. Bautista Ru&iacute;z<sup>2</sup> y O. Pardo Cuervo<sup>3</sup></b></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i><sup>1</sup> Departamento de Ingenier&iacute;a Mecatr&oacute;nica, Universidad Militar Nueva Granada, Carrera 11 No. 101&#45;80, Fax:+57(1) 6343200, Bogot&aacute;, Colombia</i>. <i>Autor para la correspondencia. E&#45;mail:</i> <a href="mailto:g.ing.materiales@gmail.com">g.ing.materiales@gmail.com</a> <i>Tel. (57+1)2757300, Fax (57+1)2147280</i></font></p>  	    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i><sup>2</sup> Departamento de F&iacute;sica, Universidad Francisco de Paula Santander. Avenida Gran Colombia No 12E &#45; 96. B Colsag. Edificio de Laboratorios. San Jos&eacute; de C&uacute;cuta. Norte de Santander. Colombia</i></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i><sup>3</sup> Escuela de Ciencias Qu&iacute;micas. Universidad Pedag&oacute;gica y Tecnol&oacute;gica de Colombia. Tunja, Boyac&aacute;., Colombia</i></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Recibido 29 de Agosto 2011    <br> 	Aceptado 15 de Febrero 2012</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Resumen</b></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En este art&iacute;culo se presenta la aplicabilidad de las relaciones de Kramers&#45;Kronig (KK) al estudio de la validez de las medidas de impedancia (EIS) en la variaci&oacute;n del potencial bias del CrN/Cr, depositado sobre sustratos de acero AISI4140 por el m&eacute;todo de magnetr&oacute;n sputtering reactivo DC en contacto con NaCl 0.5 M. Los diagramas de Nyquist muestran un comportamiento capacitivo con un m&oacute;dulo de impedancia elevado <i>y</i> dos constantes de tiempo. En la implementaci&oacute;n de las integrales de KK se emplearon dos procedimientos: uno, basado en un circuito equivalente que cumple con las relaciones de KK; y otro, en funci&oacute;n de una resistencia &oacute;hmica conectada en paralelo. Adicionalmente, a partir de las curvas de polarizaci&oacute;n Tafel se validaron los resultados hallados con EIS. La morfolog&iacute;a del recubrimiento se evalu&oacute; mediante un microscopio electr&oacute;nico de barrido de alta resoluci&oacute;n; la microscopia &oacute;ptica (OM) se utiliz&oacute; para determinar la morfolog&iacute;a despu&eacute;s de la evaluaci&oacute;n electroqu&iacute;mica. Los resultados de impedancia en funci&oacute;n del potencial bias del CrN/Cr depositado sobre sustratos de acero AISI 4140 satisfacen las relaciones de KK; adem&aacute;s, se encontr&oacute; una relaci&oacute;n de dependencia del potencial de polarizaci&oacute;n sobre velocidad de corrosi&oacute;n.</font></p>      <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Palabras clave:</b> Kramers&#45;Kronig, CrN/Cr, EIS, Tafel , circuito equivalente.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>  	    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Abstract</b></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">In this article is presented the applicability of the Kramers&#45;Kronig relations (KK) to the validity study of the impedance measurements (EIS) on the variation of bias potential of the CrN / Cr, depositing on AISI 4140 steel substrates by the method of DC reactive sputtering magnetron in contact with NaCl 0.5 M. Nyquist diagrams show a capacitive behavior with a high impedance module and two time constants. In the implementation of KK integrals, were used two procedures: one based on an equivalent circuit thaa meets the KK relations, and another, according to on ohmic resistor connected in parallel. Additionally, from Tafel polarization curves were validated the found results with EIS. The morphology of the coating was evaluated by scanning electron microscopy of high&#45;resolution; the optical microscopy (OM) was used to determine the morphology after the electrochemical evaluation. The results of impedance as a function of bias potential of CrN / Cr deposited on AISI 4140 steel substrates satisfy the KK relations; also it was found a dependency ratio of polarization potential on corrosion rate.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Keywords:</b> Kramers&#45;Kronig, CrN/Cr, EIS, Tafel, equivalent circuit.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>1 Introducci&oacute;n</b></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la actualidad existe un creciente inter&eacute;s en la aplicaci&oacute;n de la frecuencia de las relaciones de dominio&#45;integrante conocidas como Kramers&#45;Kronig (KK) (Gertner y Schlesinger, 2003), que son empleadas para analizar las medidas el&eacute;ctricas en el cuerpo humano, el transporte a trav&eacute;s de membranas, como la piel (Orazem <i>y col.,</i> 1991), y en otros materiales biol&oacute;gicos (Urquidi <i>y col.,</i> 1990). Dos aplicaciones principales se han ideado para las relaciones de KK: (i) calcular la parte imaginaria de la impedancia cuando s&oacute;lo se conoce la real, ya que la medici&oacute;n de &eacute;sta suele ser menos propensa a errores que la primera, y (ii) evaluar la validez de una impedancia medida cuando tanto los componentes reales como los imaginarios se obtienen experimentalmente. Algunos errores introducidos por la medici&oacute;n producen efectos que se pueden identificar por las relaciones de KK, otros no. En investigaci&oacute;n sobre corrosi&oacute;n, la prueba KK de datos de la impedancia es una herramienta muy valiosa para la validaci&oacute;n de los resultados. Estos pueden ser incorrectos por varias causas, entre ellas: errores sistem&aacute;ticos en los datos del archivo, debido a un cambio en el sistema electroqu&iacute;mico, y uso de un circuito equivalente inadecuado. La distinci&oacute;n se puede hacer con la ayuda de las relaciones KK (Boukamp, 1995). En la actualidad, algunos programas inform&aacute;ticos disponibles en el mercado se complementan con los procedimientos de KK transformabilidad pruebas D (Johnson, 2000; Bouwmeester y col., 2009; Bernard <i>y col.,</i> 2011).</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Las relaciones KK son puramente matem&aacute;ticas en la naturaleza, y por lo tanto no reflejan cualquier otra propiedad o condici&oacute;n f&iacute;sica del sistema (Macdonald <i>y col.,</i> 1998). Las relaciones KK se pueden utilizar como herramienta de diagn&oacute;stico para evaluar la validez de un conjunto particular de datos de impedancia, medida antes de colocar un circuito equivalente mec&aacute;nico o el&eacute;ctrico (EEqC) (Victoria y Ramanathan, 2011). Por lo tanto, las relaciones KK son un m&eacute;todo adecuado para comprobar si los datos experimentales de la impedancia pertenecen a una lineal y EEqC real o no. Desde el punto de vista practico, la condici&oacute;n finita no es cr&iacute;tica en estudios de corrosi&oacute;n. Sin embargo, el criterio de estabilidad es el m&aacute;s importante en el proceso de validaci&oacute;n de datos, en particular en las frecuencias bajas, en las que el desempe&ntilde;o de una sola medici&oacute;n toma un largo tiempo (Morteza <i>y col.,</i> 2011; Roy <i>y col.,</i> 2011; Ispas y col., 2011).</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La modificaci&oacute;n superficial de diferentes dispositivos por medio de la deposici&oacute;n de pel&iacute;culas delgadas o recubrimientos duros es un proceso ampliamente utilizado para proteger materiales ceramicos y met&aacute;licos del desgaste, la fatiga, la corrosi&oacute;n y muchos otros fenomenos que involucran el deterioro de la superficie. Al respecto, los m&eacute;todos modernos que involucran t&eacute;cnicas de deposici&oacute;n f&iacute;sica en fase vapor asistida por plasma ofrecen un grado de control superior en la obtenci&oacute;n de pel&iacute;culas con una estequiometr&iacute;a y una microestructura espec&iacute;ficas, lo que conduce a recubrimientos con propiedades &uacute;nicas (Endrino <i>y col.,</i> 2006). Diversos tipos de recubrimientos han sido obtenidos con el in de incrementar la resistencia a la corrosi&oacute;n de elementos met&aacute;licos utilizados en atm&oacute;sferas corrosivas (Aperador <i>y col.,</i> 2010). Para este fin, recubrimientos duros como el nitruro de aluminio (AlN), cuyas propiedades de buena conductividad termica (320 W m<sup>&#45;1</sup> K<sup>&#45;1</sup> un coeficiente de expansi&oacute;n termica (5.3 x 10<sup>&#45;6</sup> K<sup>&#45;1</sup>) cercano al del silicio han despertado un considerable inter&eacute;s para la investigaci&oacute;n de este material en los ultimos a&ntilde;os (Ding (2008)), han sido aplicados en una industria tan exigente como la microelectr&oacute;nica debido a su resistencia t&eacute;rmica y sus propiedades anticorrosivas (Moreno y col., 2011; Correa y col., 2008). Otro de los materiales utilizado para mitigar da&ntilde;os superficiales es el nitruro de cromo (CrN), debido a sus excelentes propiedades mec&aacute;nicas (dureza alrededor de los 20 GPa) (Caicedo <i>y col.,</i> 2010), tribol&oacute;gicas (coeficiente de fricci&oacute;n comparable con el nitruro de titanio &#91;TiN&#93;, cuando esta en contacto con acero), alta estabilidad qu&iacute;mica y t&eacute;rmica con una temperatura de oxidaci&oacute;n alrededor de 700&deg;C, que lo hacen util en una amplia variedad de aplicaciones industriales como la automotriz. A pesar de las excelentes propiedades exhibidas por ambos recubrimientos, la resistencia de estos materiales a la corrosi&oacute;n ha estado condicionada por la presencia de defectos estructurales inherentes, tales como microporos, valles y grietas que aparecen durante el proceso de deposici&oacute;n; de ah&iacute; el esfuerzo de los investigadores en la optimizaci&oacute;n de los par&aacute;metros de deposito (Yate <i>y col.,</i> 2008). La presencia de esos defectos es un factor importante debido a la influencia en la integridad del recubrimiento, no solo en t&eacute;rminos de resistencia a la corrosi&oacute;n sino tambi&eacute;n en cuanto a propiedades tribol&oacute;gicas y mec&aacute;nicas (Schafer y Stock., 2005).</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El prop&oacute;sito de este trabajo es estudiar el efecto del potencial de polarizaci&oacute;n (bias) r.f. sobre la respuesta electroqu&iacute;mica de pel&iacute;culas de CrN/Cr, depositadas por la t&eacute;cnica de magnetr&oacute;n <i>sputtering</i> r.f. reactivo, y adem&aacute;s aplicar las relaciones de KK para validar las mediciones de impedancia real e imaginaria de los recubrimientos.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>1.1 Conceptos b&aacute;sicos: Relaciones de Kramers&#45;Kronig (K&#45;K)</i></font></p>  	    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">Siempre que se intenta analizar un diagrama de impedancia surge la duda de si es correcta la interpretaci&oacute;n mediante modelos lineales y estables tales como algunos circuitos el&eacute;ctricos. La simple inspecci&oacute;n visual de los resultados no es suficiente para determinar si &eacute;stos son v&aacute;lidos o han sido distorsionados durante la adquisici&oacute;n experimental. Esta duda se resuelve utilizando las relaciones de Kramers&#45;Kronig (K&#45;K) (Polo, 1999). La aplicabilidad de las transformadas de K&#45;K requiere que el sistema objeto de estudio, invariante en el tiempo, cumpla cuatro condiciones: causalidad, linealidad, estabilidad, y valor finito (Macdonald, 1990; Esteban yOrazem, 1991).</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Un sistema es causal si su respuesta no precede a la perturbaci&oacute;n (Macdonald, 1998). Si a un sistema en reposo se le aplica una perturbation en <i>t =</i> 0, la respuesta del sistema debe ser 0 para <i>t &lt;</i> 0. F&iacute;sicamente esto quiere decir que el sistema no genera ruido independiente de la se&ntilde;al aplicada para <i>t</i> <u>&gt;</u> 0.</font></p>      <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Un sistema es lineal si la relaci&oacute;n entre la perturbaci&oacute;n introducida y la respuesta se puede describir mediante ecuaciones diferenciales lineales (Polo, 1999). Esto significa que es valido el principio de superposici&oacute;n: la respuesta a una suma de entradas individuales es igual a la suma de respuestas individuales. En los sistemas electroqu&iacute;micos la relaci&oacute;n tensi&oacute;n/corriente es de naturaleza exponencial, ecuaci&oacute;n de Butler&#45;Volmer (Agarwal <i>y col.,</i> 1992), y para asegurar la linealidad es necesario considerar un regimen de peque&ntilde;a se&ntilde;al. Un sistema electroqu&iacute;mico es estable si cuando cesa la perturbaci&oacute;n impuesta vuelve al estado original (Gabrielli <i>y col.,</i> 1993). La impedancia debe tener un valor finito en todo el espectro de frecuencia analizado, incluyendo &#969; &#8594; 0 y &#969; &#8594; &#8734;. Desde un punto de vista practico, la condici&oacute;n de valor finito no es cr&iacute;tica. En estudios de corrosi&oacute;n, sin embargo, la falta de consistencia de los datos electroqu&iacute;micos al aplicar las relaciones de K&#45;K se debe a menudo a un fallo en la condici&oacute;n de estabilidad (Sunil <i>y col.,</i> 2011).</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Las integrales de las transformadas de K&#45;K se pueden expresar como (Macdonald, 1990):</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/rmiq/v11n1/a12e1.jpg"></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">donde Z'(x) y Z"(x) son funciones continuas que proporcionan as partes rea e imaginaria de a impedancia, respectivamente, en funci&oacute;n de la frecuencia angular (x) &#45;en rad/s&#45;, con &#8734; &lt; <i>x &lt;</i> &#8734; Z'(&#969;) y Z"(&#969;) son las partes real e imaginaria de la impedancia, respectivamente, para la frecuencia angular <i>x =</i> &#969;;&nbsp;&#934;(&#969;) es el &aacute;ngulo de fase para la frecuencia angular <i>x =</i> &#969;; &#124;Z(x)&#124; es el m&oacute;dulo de la impedancia: &#91;&#124;Z(x)&#124;&#93;<sup>2</sup> = &#91;Z'(x)&#93;<sup>2</sup> + &#91;Z''(x)&#93;<sup>2</sup>; finalmente, Z'(&#8734;) y Z'(0) son los valores de la parte real de la impedancia para &#969; &#8594; &#8734; y para &#969; &#8594; 0, respectivamente. Utilizando las ecuaciones de la 7 a la 10 es posible transformar la parte real de la impedancia en la parte imaginaria y viceversa (Hassanzadeh, 2007).</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>2 Desarrollo experimental</b></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>2.1 Materiales y m&eacute;todos</i></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se depositaron pel&iacute;culas delgadas de CrN/Cr sobre sustratos de acero AISI 4140 mediante un sistema de radio frecuencia. (13,56 MHz) magnetr&oacute;n sputtering con Ar (99.9% de pureza) como gas de trabajo. El blanco de una pulgada de di&aacute;metro est&aacute; compuesto por Cr (99.9%). En el proceso de deposici&oacute;n se vari&oacute; el potencial de polarizaci&oacute;n (bias) (0, &#45;100, &#45;200 y &#45;300 V d.c.), y se dejaron fijos los demas par&aacute;metros de deposici&oacute;n. La camara se evacuo, mediante una bomba turbomolecular, hasta una presi&oacute;n base de 10<sup>&#45;4</sup> mbar antes de la deposici&oacute;n. La presi&oacute;n durante el proceso de trabajo fue de 6 x 10<sup>&#45;3</sup> mbar, con una potencia de r.f. de 100 W sobre el blanco. El tiempo de deposici&oacute;n de las pel&iacute;culas de CrN/Cr fue de 90 minutos a una temperatura de 200&deg;C.</font></p>  	    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">La caracterizaci&oacute;n electroqu&iacute;mica se realiz&oacute; en un equipo Gamry modelo PCI 4 mediante las t&eacute;cnicas de espectroscop&iacute;a de impedancia electroqu&iacute;mica (EIS) y curvas de polarizaci&oacute;n Tafel, a temperatura ambiente, empleando una celda compuesta por el electrodo de trabajo con un &aacute;rea expuesta de 1 cm<sup>2</sup>, un electrodo de referencia de Ag/AgCl y un alambre de platino contra electrodo en una soluci&oacute;n de NaCl al 0.5 M, preparada con agua destilada. Los diagramas de Nyquist se obtuvieron realizando barridos de frecuencia en el intervalo de 100 kHz hasta 0.001 Hz empleando una amplitud de la se&ntilde;al sinusoidal de 10 mV. Los diagramas de Tafel se obtuvieron a una velocidad de barrido de 0.125 mV/s en un intervalo de voltajes de &#45;0.25V<i><sub>Ag/AgCl</sub></i> a <i>1.25V<sub>Ag/AgCl</sub></i> empleando un &aacute;rea expuesta de 1 cm<sup>2</sup>. Las normas utilizadas en los criterios de medici&oacute;n y c&aacute;lculos corresponden a las ASTM G5 y G59. Las curvas de polarizaci&oacute;n fueron medidas despu&eacute;s de 1 h de inmersi&oacute;n a una temperatura de 25&deg; C. La observaci&oacute;n microestructural se realiz&oacute; mediante un microscopio electr&oacute;nico de barrido de alta resoluci&oacute;n (Philips XL 30 FEG) con una resoluci&oacute;n de 1&#45;nm en 30 kV; los fen&oacute;menos de degradaci&oacute;n fueron observados con un microscopio de polarizaci&oacute;n marca Olympus BX 51 TF.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>3 Resultados y discusi&oacute;n</b></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>3.1 Circuitos equivalentes</i></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En este trabajo se obtuvieron dos circuitos equivalentes: uno tipo Randles (<a href="#f1">Fig. 1</a>) para el acero AISI 4140 sin recubrir y otro con dos elementos de fase constante para las pel&iacute;culas delgadas de CrN/Cr con la variaci&oacute;n de potencial de polarizaci&oacute;n (bias) (0, &#45;100, &#45;200 y &#45;300 V d.c), el cual se observa en la <a href="#f2">Fig. 2</a>.</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f1"></a></font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/rmiq/v11n1/a12f1.jpg"></font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f2"></a></font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/rmiq/v11n1/a12f2.jpg"></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La impedancia total del circuito de la <a href="#f1">Fig. 1</a> se calcula con la combinaci&oacute;n de circuitos en serie y en paralelo. Lo primero que se realiz&oacute; fue el c&aacute;lculo de la impedancia para la resistencia a la soluci&oacute;n y una a la polarizaci&oacute;n (Rp = R<sub>1</sub>), y la capacitancia de la doble capa <i>(Cf</i> = <i>CPE</i><sub>1</sub><i>),</i> correspondiente a un circuito en paralelo. En el dominio de frecuencia es posible hallar la impedancia real e imaginaria.</font></p>  	    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/rmiq/v11n1/a12e5.jpg"></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Con la Ec. (5) se puede calcular el valor te&oacute;rico de la impedancia total. Este resultado es de gran importancia para los diagramas de Nyquist, en los que se trabajan la impedancia real correspondiente a los valores de las resistencias involucradas en el proceso y la impedancia imaginaria correspondiente a los valores de la capacitancia a la doble capa (<a href="/img/revistas/rmiq/v11n1/a12t2.jpg" target="_blank">Tabla 2</a>).</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Para el c&aacute;lculo de la impedancia total del circuito de la <a href="#f2">Fig. 2</a> se emplearon las resistencias <i>R</i><sub>1</sub> y <i>R</i><sub>2</sub>. El valor de la resistencia a la soluci&oacute;n (R<sub>&#937;</sub>) no se tiene en cuenta debido a su bajo valor frente a <i>R</i><sub>1</sub> y <i>R</i><sub>2</sub>, el cual es despreciable en este caso. Las capacitancias de la interfaz soluci&oacute;n&#45;pel&iacute;culas delgadas de CrN/Cr (CPE<sub>1</sub>) y capacitancia a la doble capa (CPE<sub>2</sub>), por lo tanto, son utilizadas para efectos del c&aacute;lculo de la impedancia total.</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/rmiq/v11n1/a12e9.jpg"></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Al desarrollar el circuito en serie planteado en la Ec. (9) se obtiene</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/rmiq/v11n1/a12e10.jpg"></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Donde</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/rmiq/v11n1/a12i1.jpg"></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Al igual que en el caso anterior, la Ec. (10) permite calcular el valor teorico de los valores de la impedancia total, que es necesario para diagnosticar el estado de protecci&oacute;n de las pel&iacute;culas delgadas investigadas.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>3.2 Morfolog&iacute;a de los recubrimientos</i></font></p>  	    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la <a href="/img/revistas/rmiq/v11n1/a12f3.jpg" target="_blank">Fig. 3</a> se muestra la superficie de los recubrimiento de CrN/Cr a una variaci&oacute;n de potencial de polarizaci&oacute;n (bias) (0, &#45;100, &#45;200 y &#45;300 V d.c.). Se puede observar que la superficie es uniforme con granos reinados, para los recubrimientos con 0V, &#45;100V y &#45;200V y para &#45;300V, se obtiene una capa poco uniforme con medio nivel de imperfecciones (poros). Esto muestra que bajo los par&aacute;metros de deposici&oacute;n seleccionados se genera un crecimiento ordenado, lo que indica un recubrimiento con menor rugosidad se debe disminuir el potencial de polarizaci&oacute;n (bias). Lo anterior es de vital importancia en el comportamiento de esta resistencia frente a su resistencia a la corrosi&oacute;n.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>3.3 Evaluaci&oacute;n electroqu&iacute;mica</i></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">De acuerdo con las curvas de polarizaci&oacute;n an&oacute;dica mostradas en la <a href="#f4">Fig. 4</a>, obtenidas en el intervalo de potencial entre &#45;0.25<i>V<sub>Ag/AgCl</sub></i> y 1.25 <i>V<sub>Ag/AgCl</sub>,</i> los potenciales de corrosi&oacute;n se desplazan hacia valores mas nobles (protecci&oacute;n), a medida que se disminuye el potencial bias, lo cual genera una protecci&oacute;n del substrato por parte de los recubrimientos.</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f4"></a></font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/rmiq/v11n1/a12f4.jpg"></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En el recubrimiento de CrN/Cr a 0V (bias) en un electrolito de NaCl 0.5 M se presenta un cambio en el comportamiento en la rama an&oacute;dica a potencial cercano a &#45;15mV<i><sub>Ag/AgCl</sub></i> aproximadamente. Este cambio se puede distinguir como el inicio de la formaci&oacute;n de una leve capa pasiva, cuya estabilidad es poca ya que al llegar a 24 mV<i><sub>Ag/AgCl</sub></i> se observa el incremento gradual de la densidad de corriente. Acompa&ntilde;ando este fen&oacute;meno se encuentra el plateau a 0 V vs. SCE, lo que puede indicar una ruptura de la pel&iacute;cula pasiva, por lo tanto se observa el incremento de la velocidad de disoluci&oacute;n del recubrimiento.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El recubrimiento CrN/Cr a &#45;100V (bias) muestra en forma similar el plateau descrito anteriormente; se puede observar la existencia de una bicapa obtenida por una capa inestable en el rango de potencial amplio, por lo tanto este tipo de recubrimiento indica un buen comportamiento del recubrimiento en presencia del electrolito. Los recubrimientos de CrN/Cr a &#45;300V y &#45;200V (bias) presentan el comportamiento caracter&iacute;stico del sustrato en t&eacute;rminos de la variaci&oacute;n del potencial en funci&oacute;n de la densidad de corriente de corrosi&oacute;n. Esto sugiere que la cin&eacute;tica del proceso esta dominada por difusi&oacute;n, observandose una disoluci&oacute;n del recubrimiento, en la regi&oacute;n an&oacute;dica evaluada.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Los recubrimientos realizados por los m&eacute;todos de deposici&oacute;n f&iacute;sica de vapor con voltajes &#45;300V y &#45;200V (bias) presentan porosidad (<a href="/img/revistas/rmiq/v11n1/a12f3.jpg" target="_blank">Fig. 3</a>). Esta porosidad puede debilitar el material de la interfase y proporcionar una v&iacute;a facil para el fracaso de fractura de adhesi&oacute;n. Defectos locales pueden formar una ruta directa entre un ambiente corrosivo y el substrato y el riesgo de corrosi&oacute;n galvanica se presentar&iacute;a. Una de las causas es el bombardeo, debido a la aplicaci&oacute;n de un sesgo negativo durante la deposici&oacute;n que produce una serie de defectos intr&iacute;nsecos, como la fase y los l&iacute;mites de grano y dislocaciones. Por esta razon los voltajes de polarizaci&oacute;n con valores bajos generan una curva de polarizaci&oacute;n an&oacute;dica similar a la obtenida en el sustrato.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Los datos registrados en la <a href="#t1">Tabla 1</a> indican efectivamente un desempe&ntilde;o electroqu&iacute;mico con respecto a la corrosi&oacute;n relativamente aceptable para el recubrimiento de CrN/Cr con &#45;300V de bias frente al acero 4140, ya que tanto el potencial de corrosi&oacute;n como la densidad de corriente de corrosion son menores, por lo menos cinco veces. Los recubrimientos con bias de &#45;200V, &#45;100V y 0V muestran un amplio desplazamiento hacia menores densidades de corriente de corrosi&oacute;n, lo cual indica una menor susceptibilidad a la corrosion en la soluci&oacute;n analizada. Esto puede ser atribuido al grado de porosidad presente, producida en los recubrimientos por el bombardeo ionico a voltajes altos de polarizaci&oacute;n, que suelen darse en el recubrimiento por fenomenos de nucleaci&oacute;n durante el crecimiento, y generan una trayectoria de menor resistencia para el paso del ion cloruro.</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="t1"></a></font></p>  	    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/rmiq/v11n1/a12t1.jpg"></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La <a href="#f5">Fig. 5a</a> muestra los diagramas de Nyquist y la <a href="#f5">5b</a> el diagrama de Bode del sustrato y los recubrimientos CrN/Cr sumergido en soluci&oacute;n de NaCl al 0.5 M. En todos los diagramas de Nyquist y bode de las <a href="#f5">figs. 5a</a> y <a href="#f5">5b</a> se observa un comportamiento capacitivo a elevadas frecuencias, en el que se define un semic&iacute;rculo aplanado cuyo centro esta situado debajo del eje real (el centro del diagrama de Nyquist esta rotado debajo del eje real con un &aacute;ngulo &#934;). Este fen&oacute;meno de aplanamiento del semic&iacute;rculo se asocia con un proceso de dispersi&oacute;n en la frecuencia, debido a que la superficie del electrodo no es homog&eacute;nea. Adicionalmente, se observa un proceso de difusi&oacute;n que pretende deinir un segundo semic&iacute;rculo a bajas frecuencias. La <a href="#f5">Fig. 5a</a> tambi&eacute;n incluye los resultados de la simulaci&oacute;n utilizando el circuito el&eacute;ctrico indicado en la <a href="#f2">Fig. 2</a>. Como se puede observar, hay una buena concordancia entre los resultados experimentales y los simulados. En la <a href="/img/revistas/rmiq/v11n1/a12t2.jpg" target="_blank">Tabla 2</a> se indican los valores de los par&aacute;metros utilizados en la simulaci&oacute;n. Se calcularon te&oacute;ricamente los valores de la impedancia total (ecs. 3 y 4), los cuales son equivalentes con los de la <a href="#t1">tabla 1</a>. Ademas, se incluyen los par&aacute;metros empleados en la simulaci&oacute;n.</font></p>      <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f5"></a></font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/rmiq/v11n1/a12f5.jpg"></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Los valores de dichos par&aacute;metros se han obtenido mediante un programa no lineal de m&iacute;nimos cuadrados complejos (CNLS). En la <a href="#f2">Fig. 2</a> se observa el circuito equivalente correspondiente a los diagramas de Nyquist para los recubrimientos, los cuales muestran una capacitancia denominada 'elemento de fase constante de doble fase' (CPE), que es independiente de reacciones faradicas, las cuales contribuyen con una pseudocapacitancia (CPE2+CPE1) a la impedancia total del sistema. Por otra parte, en esta celda electroqu&iacute;mica existe tambi&eacute;n una resistencia electrica, asociada a la resistencia del electrolito (Rs), que igualmente se hara manifiesta en impedancia total del sistema.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Los valores de &#945; (<a href="/img/revistas/rmiq/v11n1/a12t2.jpg" target="_blank">Tabla 2</a>), corresponde al coeficiente exponencial del corrimiento del &aacute;ngulo de fase (&#960;/2); los valores de &#945;, para los recubrimientos y el sustrato para el CPE a altos valores de frecuencia, est&aacute;n en el rango de 0.79 y 0.86, lo que indica que la rugosidad de la superficie genera una distribuci&oacute;n de carga, para el CPE a bajas frecuencias muestra un &#945;, de 0.55 para &#45;300V y 0,62 para &#45;200V, indicando que hay presencia de migraci&oacute;n o difusi&oacute;n de especies, para &#45;100V y 0V se presentan valores de <i>a</i> de 0.87 y 0.73, generando distribuci&oacute;n de la densidad de portadores de carga, es decir, una doble capa con una estructura compleja.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la <a href="/img/revistas/rmiq/v11n1/a12t2.jpg" target="_blank">Tabla 2</a> se muestra el contraste de los c&aacute;lculos te&oacute;ricos de los valores de la impedancia total (ecs. 3 y 4), que son equivalentes con los datos simulados con los circuitos equivalentes (<a href="#f1">figs. 1</a> y <a href="#f2">2</a>). Para el sustrato solamente se tiene un semic&iacute;rculo y es debido a la capa de oxido que forma el acero con el contacto de la soluci&oacute;n agresiva al que esta sometido. Los datos de impedancia total, mejor conocida como la sumatoria de las resistencias R<sub>1</sub>+R<sub>2</sub>, van aumentando conforme se incrementa el potencial bias (<a href="/img/revistas/rmiq/v11n1/a12t2.jpg" target="_blank">Tabla 2</a>). Se observa, adem&aacute;s, que son muy superiores a los hallados en el sustrato, debido a que el electrolito es bastante agresivo y genera una velocidad de reacci&oacute;n mayor sobre el acero sin recubrimiento.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Las transformadas de Kramers&#45;Kronig (K&#45;K) fueron utiles para validar los resultados de impedancia de los recubrimientos de CrN/Cr, depositado sobre sustratos de acero AISI 4140 por el m&eacute;todo de magnetr&oacute;n sputtering reactivo DC en contacto con NaCl 0.5 M. La consistencia de los datos experimentales es excelente y pueden ser utilizados para realizar an&aacute;lisis de mecanismos (difusi&oacute;n). La ventaja de las relaciones de Kramers&#45;Kronig (K&#45;K) es que no se requiere un circuito el&eacute;ctrico equivalente en el ajuste para determinar la consistencia de los datos experimentales de impedancia.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la <a href="#f6">Fig. 6</a> se evidencia, mediante microscopia &oacute;ptica, el proceso de degradaci&oacute;n de los recubrimientos como funci&oacute;n del ataque del ion cloruro. En estas im&aacute;genes se nota claramente el ataque superficial que sufre el substrato de acero 4140 sin recubrimiento (<a href="#f6">Fig. 6a</a>) y el substrato recubierto con cada una de las variaciones del potencial bias (<a href="#f6">figs. 6b, 6c, 6d,</a> y <a href="#f6">6e</a>). El ataque corrosivo origina un da&ntilde;o elevado en la superficie del sustrato. Ademas genera da&ntilde;os por picadura y rotura de la continuidad de las pel&iacute;culas, como se muestra en las <a href="#f6">figs. 6b, 6c</a> y <a href="#f6">6d</a>, lo que incrementa drasticamente la velocidad de corrosi&oacute;n, lo cual se demostr&oacute; en las curvas de polarizaci&oacute;n y los diagramas de Nyquist y bode (<a href="#f4">figs. 4</a> y <a href="#f5">5</a>). Finalmente, se observa que la pel&iacute;cula depositada con 0V (<a href="#f6">Fig. 6e</a>) ofrece mayor resistencia al ataque, debido al crecimiento de forma ordenada, lo que genero un recubrimiento con menor rugosidad.</font></p>      <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f6"></a></font></p>  	    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/rmiq/v11n1/a12f6.jpg"></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Conclusiones</b></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se depositaron pel&iacute;culas delgadas de CrN/Cr sobre sustratos de acero AISI 4140 mediante un sistema de radio frecuencia variando el potencial de polarizaci&oacute;n (bias) (0, &#45;100, &#45;200 y &#45;300 V d.c.). De los an&aacute;lisis de EIS se obtuvieron dos tipos de circuitos equivalentes: tipo Randless que describe el comportamiento del sustrato sin recubrir y, el otro, con dos elementos de fase constante que describen el comportamiento del sistema sustrato &#45; pel&iacute;cula delgada de CrN/Cr.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se ha demostrado la aplicabilidad de las transformadas de Kramers&#45;Kronig (K&#45;K) para validar los resultados de impedancia del sistema sustrato &#45; pel&iacute;cula delgada de CrN/Cr. La consistencia de los datos experimentales es excelente y pueden ser utilizados para realizar an&aacute;lisis de mecanismos. La ventaja de las relaciones de Kramers&#45;Kronig (K&#45;K) es que no se requiere un circuito el&eacute;ctrico equivalente en el ajuste para determinar la consistencia de los datos experimentales de impedancia.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Los resultados de espectroscop&iacute;a de impedancia electroqu&iacute;mica y las curvas de polarizaci&oacute;n Tafel corroboran un buen desempe&ntilde;o anticorrosivo de los recubrimientos de CrN/Cr aplicados sobre el sustrato de acero 4140. Adem&aacute;s, se encontr&oacute; una tendencia a aumentar la protecci&oacute;n anticorrosiva de las mencionadas pel&iacute;culas a medida que se incrementa el potencial de polarizaci&oacute;n.</font></p>      <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Agradecimientos</b></font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El primer autor agradece el apoyo a la direcci&oacute;n de investigaciones de la Universidad Militar Nueva Granada, por el apoyo para la ejecuci&oacute;n del presente estudio.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>  	    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Referencias</b></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Agarwal, P., Orazem, M.E. y Garcia&#45;Rubio L.H. (1992). Measurement models for electrochemical impedance spectroscopy I. Demonstration of applicability. <i>Journal of the Electrochemical Society 139,</i> 1917&#45;1927.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554404&pid=S1665-2738201200010001200001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">ASTM G5&#45;03 Standard Reference Test Method for Making Potentiostatic and Potentiodynamic Anodic Polarization Measurements, West Conshohocken, PA, American Society for Testing and Materials, 2003.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554406&pid=S1665-2738201200010001200002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">ASTM G59&#45;04 Standard Test Method for Conducting Potentiodynamic Polarization Resistance Measurements, West Conshohocken, PA, American Society for Testing and Materials, 2004.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554408&pid=S1665-2738201200010001200003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Aperador, W. Caicedo, J.C. Espa&ntilde;a, C. Cabrera, G. y Amaya, C. (2010). Bilayer period effect on corrosion&#45;erosion resistance for &#91;TiN/AlTiN&#93;<sub>n</sub> multilayered growth on AISI 1045 steel. <i>Journal of Physics and Chemistry of Solids 71,</i> 1754&#45;1759.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554410&pid=S1665-2738201200010001200004&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Bernard, A., Boukamp, N. H., Pieter, N. y Dave, H.A. (2011). The impedance of thin dense oxide cathodes. <i>Solid State Ionics 192,</i> 404&#45;408.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554412&pid=S1665-2738201200010001200005&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Boukamp, B.A. (1995) A linear Kronig&#45;Kramers transform test for immittance data validation. <i>Journal of the Electrochemical Society 142,</i> 1885&#45;1894.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554414&pid=S1665-2738201200010001200006&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Bouwmeester, H.J.M., Song, C., Zhu, J., Yi, J.M., Sint Annaland, V y Boukamp, B.A. (2009). A novel pulse isotopic exchange technique for rapid determination of the oxygen surface exchange rate of oxide ion conductors. <i>Physical Chemistry Chemical Physics 11,</i> 9640&#45;9643.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554416&pid=S1665-2738201200010001200007&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Caicedo, J.C., Amaya, C., Cabrera, G., Esteve, J., Aperador W., Gomez, M.E. y Prieto. P. (2011). Corrosion surface protection by using titanium carbon nitride/titanium?niobium carbon nitride multilayered system. <i>Thin Solid Films 519,</i> 6362&#45;6368.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554418&pid=S1665-2738201200010001200008&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Correa, F., Caicedo, J.C., Aperador, W., Rincon. C.A y Bejarano, G. (2008). Mejoramiento de la resistencia a la corrosi&oacute;n del acero AISI 4140 utilizando multicapas de titanio/nitruro de titanio. <i>Revista de la Facultad de Ingenier&iacute;a de la Universidad Antioquia 46,</i> 7&#45;14.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554420&pid=S1665-2738201200010001200009&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Ding X&#45;Z. (2008). Corrosion resistance of CrAlN and TiAlN coatings deposited by lateral rotating cathode arc.Thin <i>Solid Films 516,</i> 5716&#45;5720.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554422&pid=S1665-2738201200010001200010&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Endrino, J.L., Fox&#45;Rabinovich, J.L. y Gey, C. (2006). Hard AlTiN, AlCrN PVD coatings for machining of austenitic stainless steel. <i>Surface &amp; Coatings Technology 200,</i> 6840&#45;6845.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554424&pid=S1665-2738201200010001200011&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Esteban, J.M. y Orazem, M.E. (1991). On the application of the Kramers&#45;Kronig relations to evaluate the consistency of electrochemical impedance data. <i>Journal of the Electrochemical Society 138,</i> 67&#45;76.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554426&pid=S1665-2738201200010001200012&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Gabrielli, C., Keddam, M. y Takenouti, H. (1993). Kramers&#45;Kronig transformation in relation to the interface regulating device. <i>Electrochemical Impedance: Analysis and Interpretation, ASTM STP 1188,</i> 140&#45;153.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554428&pid=S1665-2738201200010001200013&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Gertner, V. y Schlesinger, M. (2003). Electrochemistry and medical devices: friend or foe?. <i>The Electrochemical Society Interface 12,</i> 20&#45;24.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554430&pid=S1665-2738201200010001200014&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Hassanzadeh, A. (2007). Validity of dynamic electrochemical impedance spectra of some amine corrosion inhibitors in petroleum/water corrosive mixtures by Kramers&#45; transformation. <i>Corrosion Science 49,</i> 1895&#45;1906.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554432&pid=S1665-2738201200010001200015&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Ispas, A., Matsushima, H., Bund, A. y Bozzini, B. (2011). A study of external magnetic&#45;field effects on nickel&#45;iron alloy electrodeposition, based on linear and non&#45;linear differential AC electrochemical response measurements. <i>Journal of Electroanalytical Chemistry 651,</i> 197&#45;203.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554434&pid=S1665-2738201200010001200016&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Johnson, D. (2000) ZPlot, ZView Electrochemical Impedance Software, Version 2.3b, Scribner Associates Inc.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554436&pid=S1665-2738201200010001200017&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Macdonald, D.D. (1990). Some advantages and pitfallson electrochemical impedance spectroscopy. <i>Corrosion 46,</i> 229&#45;242.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554438&pid=S1665-2738201200010001200018&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Macdonald, D.D., Sikora, E. y Engelhardt, G. (1998). Characterizing electrochemical systems in the frequency domain. <i>Electrochimica Acta 43,</i> 87&#45;107.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554440&pid=S1665-2738201200010001200019&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Moreno, H., Caicedo, J.C., Amaya, C., Cabrera, G., Yate, L. Aperador, W. y Prieto P. (2011) Improvement of the electrochemical behavior of steel surfaces using a TiN&#91;BCN/BN&#93;<sub>n</sub>/c&#45;BN multilayer system. <i>Diamond and Related Materials 20,</i> 588&#45;595.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554442&pid=S1665-2738201200010001200020&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Morteza, H., Saryn, G. y Jeremy, L.G. (2011). The voltage dependent electrochemical impedance spectroscopy of CoCrMo medical alloy using time&#45;domain techniques: Generalized Cauchy&#45;Lorentz, and KWW&#45;Randles functions describing non&#45;ideal interfacial behavior. <i>Corrosion Science 53,</i> 582&#45;588.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554444&pid=S1665-2738201200010001200021&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Orazem, M.E., Esteban, J.M. y Moghissi, O.C. (1991). Practical applications of the Kramers&#45;Kronig relations. <i>Corrosion 47,</i> 248&#45;259.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554446&pid=S1665-2738201200010001200022&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Polo, J.L. (1999). <i>Modelado de diagramas de impedancia en procesos de corrosi&oacute;n,</i> Tesis Doctoral, Universidad Pontificia Comillas de Madrid, Madrid.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554448&pid=S1665-2738201200010001200023&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Sch&auml;fer. H y Stock. H&#45;R. (2005). Improving the corrosion protection of aluminium alloys using reactive magnetron sputtering. <i>Corrosion Science 47,</i> 953&#45;960.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554450&pid=S1665-2738201200010001200024&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Sunil, K. R., Hagelin&#45;Weaver, H, y Orazem M. E. (2011). Application of complementary analytical tools to support interpretation of polymer&#45;electrolyte&#45;membrane fuel cell impedance data. <i>Journal ofPower Sources 196,</i> 3736&#45;3742.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554452&pid=S1665-2738201200010001200025&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Urquidi, M., Macdonald, D.D. y Real S. (1990) Applications of Kramers&#45;Kronig transforms in the analysis of electrochemical impedance dataIII. Stability and linearity. <i>Electrochimica Acta</i> 35,1559&#45;1566.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554454&pid=S1665-2738201200010001200026&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Victoria, N. S. y Ramanathan S. (2011) Effect of potential drifts and ac amplitude on the electrochemical impedance spectra. <i>Electrochimica Acta 56,</i> 2606&#45;2615.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554456&pid=S1665-2738201200010001200027&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Yate, L., Aperador, W., Caicedo, J. C., Espinoza, F. J., Zambrano, G. y Mu&ntilde;oz. J. (2008). Efecto del Potencial Bias D.C. en las Propiedades Electroqu&iacute;micas de Pel&iacute;culas Delgadas de AlN Obtenidas por Medio de la t&eacute;cnica magnetr&oacute;n Sputtering R.F. <i>Revista Colombiana de F&iacute;sica 40,</i> 576&#45;578.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=8554458&pid=S1665-2738201200010001200028&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>      ]]></body><back>
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