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<article-title xml:lang="es"><![CDATA[Desempeño de cartas de control estadístico con límites bilaterales de probabilidad para monitorear procesos Weibull en mantenimiento]]></article-title>
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<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[Manufacturing with optimal quality standards is underpinned to the high reliability of its equipment and systems, among other essential pillars. Maintenance Engineering is responsible for planning control and continuous improvement of its critical equipment by any approach, such as Six Sigma. This is nourished by numerous statistical tools highlighting, among them, statistical process control charts. While their first applications were in production, other designs have emerged to adapt to new needs as monitoring equipment and systems in the manufacturing environment. The time between failures usually fits an exponential or Weibull model. The t chart and adjusted t chart, with probabilistic control limits, are suitable alternatives to monitor the mean time between failures. Unfortunately, it is difficult to find publications of them applied to the models Weibull, very useful in contexts such as maintenance. In addition, literature limits the study of their performance to the analysis of the standard metric average run length, thus giving a partial view. The aim of this paper is to explore the performance of the t chart and adjusted t chart using three metrics, two unconventional. To do this, it incorporates the concept of lateral variability, in their forms left and right variability. Major precisions of the behavior of these charts allow to understand the conditions under which are suitable: if the main objective of monitoring lies in detecting deterioration, the t chart with adjustment is recommended. On the other hand, when the priority is to detect improvements, the t chart without adjustment is the best choice. However, the response speed of both charts is very variable from run to run.]]></p></abstract>
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</front><body><![CDATA[   							    <p align="center"><font face="verdana" size="4"><b>Desempe&ntilde;o de cartas de control estad&iacute;stico con l&iacute;mites bilaterales de probabilidad para monitorear procesos Weibull en mantenimiento</b></font></p>     <p align="center">&nbsp;</p> 							    <p align="center"><font face="verdana" size="3"> <b>Performance of Statistical Control Charts with Bilateral Limits 						    of Probability to Monitor Processes Weibull in Maintenance</b></font></p>     <p align="center">&nbsp;</p>      <p align="center"><font face="verdana" size="2"><b>Quintana Alicia Esther<sup>1</sup>, Pisani Mar&iacute;a Virginia<sup>2</sup> y Casal Ricardo N&eacute;stor<sup>3</sup></b></font></p>     <p align="center">&nbsp;</p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><sup><i>1</i></sup><i> Departamento de Matem&aacute;tica, 						    Universidad Nacional del Sur, Rep&uacute;blica de Argentina.</i> Correo: <a href="mailto:quintana@uns.edu.ar">quintana@uns.edu.ar</a></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><sup><i>2</i></sup><i> Departamento de Matem&aacute;tica, Universidad Nacional del Sur, Rep&uacute;blica de Argentina.</i> Correo: <a href="mailto:mvpisani@uns.edu.ar">mvpisani@uns.edu.ar</a></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><sup><i>3</i></sup><i>   Departamento de Ingenier&iacute;a, 						    Universidad Nacional del Sur, Rep&uacute;blica de Argentina</i>. Correo: <a href="mailto:rcasal@uns.edu.ar">rcasal@uns.edu.ar</a></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify">&nbsp;</p>  							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Informaci&oacute;n del art&iacute;culo: recibido: noviembre de 2013    <br> Aceptado: marzo de 2014</font></p>     <p align="center">&nbsp;</p>      <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Resumen</b></font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">   Una manufactura con &oacute;ptimos est&aacute;ndares de calidad est&aacute; apuntalada por la alta confiabilidad de sus equipos y sistemas, entre otros pilares esenciales. Ingenier&iacute;a de mantenimiento tiene la responsabilidad de planear el control y mejoramiento continuo de su equipamiento cr&iacute;tico mediante alg&uacute;n enfoque, como Six Sigma. Este se nutre de numerosas herramientas estad&iacute;sticas destacando, entre ellas, a las cartas de control estad&iacute;stico de procesos. Si bien sus primeras aplicaciones fueron en producci&oacute;n, otros dise&ntilde;os surgieron para adaptarse a nuevas necesidades como el monitoreo de los equipos y sistemas en el h&aacute;bitat fabril. El tiempo entre fallas suele ajustarse a un modelo Exponencial o Weibull. Las cartas t y t ajustada, con l&iacute;mites probabil&iacute;sticos de control, son alternativas aptas para monitorear el tiempo medio entre fallas. Desafortunadamente, es dif&iacute;cil encontrar publicaciones de ellas aplicadas a modelos Weibull, muy &uacute;tiles en contextos como mantenimiento. Adem&aacute;s, la literatura limita el estudio de su desempe&ntilde;o al an&aacute;lisis de la m&eacute;trica est&aacute;ndar: longitud de corrida promedio, dando as&iacute; una visi&oacute;n parcial. El objetivo de este trabajo es explorar el desempe&ntilde;o de las cartas t y las cartas t ajustada mediante el uso de tres m&eacute;tricas, dos no convencionales. Para ello, incorpora el concepto de variabilidad lateral, en sus formas variabilidad derecha e izquierda. Mayores precisiones del comportamiento de estas cartas permitieron entender las condiciones bajo las cuales son convenientes: si el objetivo principal del monitoreo recae en detectar deterioros, se recomienda la carta t con ajuste. En cambio, cuando la prioridad es detectar mejoras, la carta t sin ajuste es la mejor opci&oacute;n. No obstante, la velocidad de respuesta de ambas cartas es muy variable de corrida en corrida.</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    <b>Descriptores:</b> mantenimiento, confiabilidad, Weibull, cartas de control con l&iacute;mites de probabilidad, carta t, carta t&#45;ajustada, <i>LCP</i> insesgada, variabilidad lateral.</font></p>     <p align="justify">&nbsp;</p>      <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Abstract</b></font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">   Manufacturing with optimal quality standards is underpinned to the high reliability of its equipment and systems, among other essential pillars. Maintenance Engineering is responsible for planning control and continuous improvement of its critical equipment by any approach, such as Six Sigma. This is nourished by numerous statistical tools highlighting, among them, statistical process control charts. While their first applications were in production, other designs have emerged to adapt to new needs as monitoring equipment and systems in the manufacturing environment. The time between failures usually fits an exponential or Weibull model. The t chart and adjusted t chart, with probabilistic control limits, are suitable alternatives to monitor the mean time between failures. Unfortunately, it is difficult to find publications of them applied to the models Weibull, very useful in contexts such as maintenance. In addition, literature limits the study of their performance to the analysis of the standard metric average run length, thus giving a partial view. The aim of this paper is to explore the performance of the t chart and adjusted t chart using three metrics, two unconventional. To do this, it incorporates the concept of lateral variability, in their forms left and right variability. Major precisions of the behavior of these charts allow to understand the conditions under which are suitable: if the main objective of monitoring lies in detecting deterioration, the t chart with adjustment is recommended. On the other hand, when the priority is to detect improvements, the t chart without adjustment is the best choice. However, the response speed of both charts is very variable from run to run.</font></p> 							    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    <b>Key words:</b> maintenance, reliability, Weibull, control charts with probability limits, t chart, adjusted t chart, <i>ARL</i> unbiased, lateral variability.</font></p>     <p align="justify">&nbsp;</p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Introducci&oacute;n</b></font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    En el contexto mundial competitivo actual, el control y mejoramiento continuo de los procesos cr&iacute;ticos de una empresa mediante un programa sistem&aacute;tico como por ejemplo, Six Sigma, se reconoce no solo como una necesidad, sino tambi&eacute;n como una estrategia de negocios, una ventaja competitiva (Guti&eacute;rrez y de la Vara, 2009). Ingenier&iacute;a del mantenimiento no escapa a esta realidad; por el contrario, desempe&ntilde;a una funci&oacute;n cada vez m&aacute;s comprometida dentro de las empresas. Esto se ve reflejado en los diversos cambios que sus pr&aacute;cticas diarias experimentan desde hace a&ntilde;os.</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    La obtenci&oacute;n de una manufactura con est&aacute;ndares de calidad &oacute;ptimos est&aacute; respaldada esencialmente por la alta confiabilidad de su equipamiento y sistemas, entendi&eacute;ndose esta como su capacidad para suministrar largos per&iacute;odos de desempe&ntilde;o satisfactorio sin fallas. Ingenier&iacute;a de mantenimiento tiene entonces la responsabilidad clave de elaborar y ejecutar un plan de control y mejoramiento continuo de la confiabilidad de sus activos cr&iacute;ticos, identificando y tratando adecuadamente deterioros o aspectos posibles de mejora.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Si bien las primeras aplicaciones de la metodolog&iacute;a Six Sigma surgieron en manufactura, se han extendido a otras &aacute;reas y contin&uacute;a creciendo. Un programa Six Sigma comprende una serie de etapas bien definidas: definir, medir, analizar, mejorar y controlar. Cada una de ellas se nutre de una gran diversidad de herramientas estad&iacute;sticas. La &uacute;ltima se apoya en el <i>control estad&iacute;stico de procesos</i> (CEP) destacando, como su principal herramienta, las <i>cartas de control</i>.</font></p>     <p align="justify">&nbsp;</p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Cartas de control</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Son m&eacute;todos gr&aacute;ficos para monitorear y diagnosticar el desempe&ntilde;o de un proceso en el tiempo, detectando posibles corrimientos de magnitud <i>D</i> en los valores nominales de sus principales par&aacute;metros; por ejemplo, en la media o desviaci&oacute;n est&aacute;ndar de una variable descriptiva de su desempe&ntilde;o (Surucu y Sazak, 2009; Ryan, 2011). Las cartas bilaterales tienen un doble rol: permiten detectar corrimientos por abajo (<i>D</i> &lt; 0) y por arriba (<i>D</i> &gt; 0) del valor nominal del par&aacute;metro, lo que se&ntilde;ala deterioros y mejoras en el desempe&ntilde;o. Las cartas bilaterales son entonces claves en todo programa de mejoramiento continuo y, en particular, del pensamiento Six Sigma. Lecturas peri&oacute;dicas del desempe&ntilde;o del proceso se vuelcan a un <i>estad&iacute;stico de control</i> cuya estructura matem&aacute;tica depende del tipo de carta. Sus valores, representados en la gr&aacute;fica mediante puntos, se comparan con dos l&iacute;neas horizontales: los l&iacute;mites de control superior (<i>LS</i>)<i>,</i> para detectar corrimientos <i>D</i> &gt; 0, e inferior (<i>LI</i>), para corrimientos <i>D</i> &lt; 0.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Con reglas de decisi&oacute;n preestablecidas, si el par&aacute;metro ha sufrido cambios (<i>D</i> &#8800; 0) la carta emite una se&ntilde;al de alerta y se concluye que el proceso est&aacute; fuera de control con una consecuente toma de acciones en funci&oacute;n del tipo de cambio, perjudicial o beneficioso. De lo contrario (<i>D</i> = 0), se concluye que el proceso est&aacute; bajo control en cuyo caso sigue su curso normal. La regla de decisi&oacute;n est&aacute;ndar para cartas de control bilaterales indica que un solo punto fuera de alguno de los l&iacute;mites es se&ntilde;al de alerta y debe actuarse en consecuencia. A&uacute;n cuando <i>D</i> = 0, la carta puede emitir una se&ntilde;al de falsa alarma. Para minimizar su riesgo, se fija de antemano la probabilidad <i>p</i><sub>0</sub> definida, bajo la regla de decisi&oacute;n est&aacute;ndar para cartas bilaterales por:</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e1.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">A partir de <i>p</i><sub>0</sub> y los principios estad&iacute;sticos se establecen los l&iacute;mites de control. La teor&iacute;a general de las cartas de control nace de la mano de Shewhart en la segunda d&eacute;cada del siglo pasado con el objeto de monitorear procesos de manufactura que pueden modelarse con una distribuci&oacute;n de probabilidad normal.</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Con el tiempo y el avance tecnol&oacute;gico, otros dise&ntilde;os emergieron para cubrir nuevas necesidades y contextos de uso m&aacute;s all&aacute; de la producci&oacute;n, por ejemplo en mantenimiento, para monitorear la confiabilidad de los equipos y sistemas en su h&aacute;bitat fabril. La variable de monitoreo m&aacute;s usual es <i>TBE</i> (<i>Time Between Events</i>). Si bien este t&eacute;rmino se usa en un contexto m&aacute;s amplio, en confiabilidad representa el tiempo entre fallas consecutivas del equipo o sistema. Desde el punto de vista estad&iacute;stico, la inestabilidad del activo se manifiesta mediante una distorsi&oacute;n de la variable <i>TBE</i> en su media, variabilidad o distribuci&oacute;n, situaciones que pueden ser detectadas con una carta de control. Es un excelente recurso para combinar con actividades de mantenimiento preventivo permitiendo reducir costos y tiempo (Linderman <i>et al</i>., 2005; Zhao <i>et al</i>., 2012).</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Si las fallas del proceso se pueden describir por un proceso de Poisson, lo que implica que la tasa de fallas es constante, la distribuci&oacute;n exponencial es adecuada para modelar datos <i>TBE</i> (Xie <i>et al</i>., 2002; Zhao <i>et al</i>., 2012). Sin embargo, las maquinarias sufren procesos de envejecimiento o desgaste con lo cual la tasa de fallas crece con el tiempo. En estos casos, los modelos de probabilidad Weibull son los m&aacute;s indicados. Su versatilidad le ha permitido ganar un lugar protag&oacute;nico en varios contextos de uso: mantenimiento, producci&oacute;n y servicios. As&iacute; lo evidencia la literatura y el &aacute;mbito empresarial que, desde hace d&eacute;cadas, muestran inter&eacute;s por ellos y no cesa en la actualidad (Lai <i>et al</i>., 2006).</font></p>     <p align="justify">&nbsp;</p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Dise&ntilde;os de cartas de control</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    En presencia de procesos asim&eacute;tricos como, por ejemplo, los que pueden modelarse por la distribuci&oacute;n de probabilidad de Weibull, las cartas de Shewhart no se comportan bien. Causan, entre otras desventajas, un incremento sustancial en la probabilidad de emisi&oacute;n de una se&ntilde;al de falsa alarma y la posibilidad de un l&iacute;mite de control inferior inexistente con lo cual, la detecci&oacute;n de mejoramientos del proceso, clave en un programa Six Sigma, no es factible. Numerosos dise&ntilde;os surgen para corregir estos y otros problemas. Sin pretender hacer una lista exhaustiva, se citan las cartas: CUSUM, EWMA, no param&eacute;tricas, basadas en el m&eacute;todo de las varianzas ponderadas y con l&iacute;mites de probabilidad.</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Los esquemas CUSUM y EWMA son muy veloces para detectar peque&ntilde;os cambios en los par&aacute;metros de inter&eacute;s del proceso. Si bien su dise&ntilde;o surgi&oacute; para monitorear procesos normales, con el tiempo se extendi&oacute; a modelos asim&eacute;tricos (Hawkins y Olwell, 1998; Castagliola <i>et al</i>., 2006; Ryan, 2011). Las cartas no param&eacute;tricas tienen la ventaja de que no se basan en una premisa acerca del modelo de probabilidad que rige a la variable de monitoreo. Los trabajos de Bakir (2004) y Chakraborti y van de Wiel (2008) se basan en conocidos <i>tests</i> no param&eacute;tricos. Alemi (2004) propuso una sencilla y atractiva carta no param&eacute;trica con base en el gr&aacute;fico de caja (box plot). Un interesante trabajo para monitorear tiempos de falla puede encontrarse en Li <i>et al</i>. (2012). Las cartas no param&eacute;tricas son insensibles ante la presencia de valores at&iacute;picos (<i>outliers</i>) como los que pueden producirse con una variable de monitoreo que se modela con una distribuci&oacute;n de probabilidad asim&eacute;trica como Weibull, por lo que varios autores mostraron inter&eacute;s en cartas con l&iacute;mites de control construidos con base en el m&eacute;todo de la varianza ponderada, entre ellos Khoo <i>et al</i>.(2009) y Castagliola y Khoo (2009).</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    El inter&eacute;s de este trabajo se enfoca en las cartas con l&iacute;mites bilaterales de probabilidad. Conservan los principios de las cartas de Shewhart, pero corrigen sus problemas ante procesos asim&eacute;tricos, su dise&ntilde;o es m&aacute;s amigable que el de otras cartas mencionadas. Una interesante variedad de dise&ntilde;os, refinamientos y aplicaciones de cartas con l&iacute;mites de probabilidad emergen a fines de la d&eacute;cada de los 80 y en forma ininterrumpida hasta nuestros d&iacute;as como respuesta a la necesidad de monitorear procesos de alto rendimiento o alta calidad (<i>high&#45;quality</i> o <i>high&#45;yield processes</i>), que se caracterizan por tener una tasa de fallas muy baja, propias de un ambiente Six Sigma. Entre sus dise&ntilde;os, aptas para ambientes de producci&oacute;n autom&aacute;tica, se cuenta con las cartas CCC (<i>Cumulative Count Control Chart</i>) y su extensi&oacute;n CCC&#45;r. Tambi&eacute;n, sus equivalentes continuas: las cartas CQC (<i>Cumulative Quantity Control Chart</i>) y CQC&#45;r (Xie y Goh<i>,</i> 2006).</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Basadas en las cartas CQC y su extensi&oacute;n, surgen en la &uacute;ltima d&eacute;cada otros esquemas con l&iacute;mites de probabilidad para usarse en contextos m&aacute;s all&aacute; de la producci&oacute;n. Se trata de las cartas t (t chart) y su extensi&oacute;n a cartas t<sub>r</sub> (t<sub> r</sub>  chart) introducidas por Xie <i>et al</i>.(2002) con el objeto de monitorear la confiabilidad de los equipos y sistemas de una empresa a trav&eacute;s de la media de la variable <i>TBE</i> y suponiendo que estos tiempos pueden modelarse con la distribuci&oacute;n de probabilidad exponencial o Weibull. En el caso de la carta t, la gr&aacute;fica registra directamente las observaciones <i>TBE</i>. En cambio, en la carta t<sub>r</sub> , se maneja el "tiempo total transcurrido hasta la obtenci&oacute;n de <i>r</i> fallas". Estas cartas no son exclusivas del &aacute;rea de mantenimiento, pueden utilizarse tambi&eacute;n en servicios (Santiago y Smith, 2013). En la literatura, las cartas CCC, CQC, t y sus extensiones suelen agruparse dentro de un grupo m&aacute;s general de cartas llamado cartas <i>TBE</i> (<i>TBE</i> Charts) (Liu <i>et al</i>., 2006).</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify">&nbsp;</p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Desempe&ntilde;o de las cartas de control</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    A la hora de seleccionar una carta, es imprescindible examinar su desempe&ntilde;o en t&eacute;rminos de su velocidad de respuesta ante un corrimiento <i>D</i> en el par&aacute;metro. La m&eacute;trica usual es la <i>longitud de corrida promedio</i> (<i>LCP</i>), representa la media de la variable<i> longitud de corrida</i> (<i>LC</i>) definida por:</font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e2.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>LCP</i> es una funci&oacute;n que depende del corrimiento <i>D</i>. Cuando <i>D</i> = 0, <i>LCP</i> toma aqu&iacute; la notaci&oacute;n <i>LFAP</i> para representar la <i>longitud de falsa alarma promedio</i>, la media de la variable <i>longitud de falsa alarma</i> (<i>LFA</i>). La carta tendr&aacute; un mejor desempe&ntilde;o cuanto mayor sea su <i>LFAP</i> y menor su <i>LCP</i> para un rango de valores D de inter&eacute;s.</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Desafortunadamente, la variable <i>LC</i> est&aacute; afectada por una alta variabilidad (Ryan, 2011; Govindaraju y Lai, 2004) por lo que el mero uso de <i>LCP</i> es insuficiente para mostrar el comportamiento real de la carta, solo brinda una visi&oacute;n parcial. Sin embargo, en la literatura, numerosos estudios de desempe&ntilde;o a&uacute;n se focalizan, exclusivamente en el an&aacute;lisis de <i>LCP</i>. Afortunadamente, el n&uacute;mero de publicaciones con an&aacute;lisis m&aacute;s completos est&aacute; creciendo. Lo m&aacute;s usual es complementar la <i>LCP</i> con otras medidas de resumen de uso corriente en la disciplina estad&iacute;stica (Luce&ntilde;o y Puig, 2000; Tang y Cheong, 2004; Zhang <i>et al</i>., 2006; Chakraborti, 2007). En otros enfoques, una medida alternativa a <i>LCP</i> apta para corridas cortas de producci&oacute;n fue propuesta por Govindaraju (2005). Gr&aacute;ficos amigables introducidos por Radson y Boyd (2005) permiten comparar r&aacute;pidamente varios dise&ntilde;os a la vez. Govindaraju y Lai (2004) redefinen la <i>LC</i> modificando la regla de decisi&oacute;n est&aacute;ndar. En cartas donde el tiempo para graficar dos puntos consecutivos var&iacute;a de un par a otro como en las cartas CCC, CQC, t y sus extensiones, si el factor tiempo es de inter&eacute;s, la m&eacute;trica ATS(<i>Average Time to Signal</i>) es adecuada; o, en sus formas particulares, ANI (<i>Average Number Inspected</i>) para las cartas CCC y CCC&#45;r y AQI (<i>Average Quantity Inspected</i>) para la carta CQC (Sharma <i>et al</i>., 2006; Liu <i>et al</i>., 2006; Lai y Govindaraju, 2008; Lai <i>et al</i>., 2001).</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">   Quintana <i>et al</i>.(2009) y(2011) presentan un m&eacute;todo no convencional al demostrar que las varianzas de <i>LC</i> y <i>LFA</i> pueden descomponerse en dos varianzas laterales, a izquierda y derecha de <i>LCP</i> y <i>LFAP</i>, respectivamente. A partir de este resultado proponen, para cada estado del proceso (<i>D</i> = 0 y <i>D</i>&#8800;0), una terna diferente de medidas de resumen, una convencional y dos no. Para <i>D</i> = 0, la terna est&aacute; integrada por: <i>LCP</i>, la variabilidad izquierda y la proporci&oacute;n de corridas tempranas (con <i>LC</i> inferior a <i>LCP</i>). En cambio, para <i>D</i>&#8800;0: <i>LCP</i>, la variabilidad derecha y la proporci&oacute;n de corridas tard&iacute;as (con <i>LC</i> superior a <i>LCP</i>). La informaci&oacute;n combinada de las 3 medidas permite caracterizar, para cada estado del proceso, el desempe&ntilde;o real de la carta de forma m&aacute;s completa y precisa.</font></p>     <p align="justify">&nbsp;</p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Cartas con l&iacute;mites de probabilidad</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">   Desafortunadamente, las cartas con l&iacute;mites de probabilidad presentan una desventaja. Es de sentido com&uacute;n pretender de una carta que su <i>LCP</i> sea inferior a <i>LFAP</i> para todo corrimiento <i>D</i> &#8800; 0. En t&eacute;rminos gr&aacute;ficos, significa que se pretende que la curva <i>LCP</i> tenga su m&aacute;ximo en <i>D</i> = 0. Se dice entonces que la carta presenta un desempe&ntilde;o con <i>LCP</i> no sesgada (<i>ARL</i> <i>unbiased</i>) (Ryan, 2011). Esta propiedad no se satisface en las cartas con l&iacute;mites de probabilidad. No obstante, como soluci&oacute;n, es posible ajustar sus l&iacute;mites. Una alternativa es asignar valores desiguales a las probabilidades en (1) (Chen y Cheng, 2011). Otra muy usual es incorporar un factor de ajuste a las l&iacute;neas de control recurriendo a m&eacute;todos cl&aacute;sicos de an&aacute;lisis matem&aacute;tico para la b&uacute;squeda de los valores &oacute;ptimos de funciones (Sharma, 2003; Tang y Cheong, 2004; Zhang <i>et al</i>., 2006).</font></p> 							    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Sin embargo, independientemente de la alternativa aplicada, se observa en la literatura que el estudio de su desempe&ntilde;o se limita al an&aacute;lisis de <i>LCP</i>. Surgen dudas entonces sobre su desempe&ntilde;o real en relaci&oacute;n con otras medidas de desempe&ntilde;o muy significativas. En particular, es dif&iacute;cil encontrar publicaciones, salvo en Sharma <i>et al</i>. (2003) aunque no en forma completa, que traten la carta t con <i>LCP</i> no sesgada para monitorear tiempos <i>TBE</i> modelados seg&uacute;n Weibull, muy &uacute;tiles en contextos como mantenimiento y servicios.</font></p>     <p align="justify">&nbsp;</p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Objetivo y alcance del trabajo</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">   El objetivo del presente trabajo fue realizar un estudio comparativo del desempe&ntilde;o de las cartas bilaterales t con y sin ajuste de sus l&iacute;mites de control con base en la metodolog&iacute;a propuesta por Quintana <i>et al</i>.(2009) para monitorear la media de los tiempos <i>TBE</i> cuando se modelan mediante una distribuci&oacute;n de probabilidad Weibull de dos par&aacute;metros. Esto fue motivado por la falta de publicaciones con an&aacute;lisis de su desempe&ntilde;o m&aacute;s all&aacute; de <i>LCP</i>, la repercusi&oacute;n de las cartas con l&iacute;mites de probabilidad en el ambiente Six Sigma, el alcance de los modelos Weibull en mantenimiento y el creciente inter&eacute;s por el uso de cartas de control en contextos m&aacute;s all&aacute; de producci&oacute;n. Mayores precisiones del comportamiento de estas cartas permiten entender las condiciones bajo las cuales son convenientes.</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    La distribuci&oacute;n Weibull de dos par&aacute;metros depende de los par&aacute;metros de forma &#945; y escala &#946;. Dado que su media est&aacute; en funci&oacute;n de ambos, un cambio en ella puede generarse por un cambio en uno solo de sus par&aacute;metros o en ambos. Se contempla aqu&iacute; el control de la media de <i>TBE</i> a trav&eacute;s de &#946;, ya que generalmente, un cambio en la operaci&oacute;n del proceso provoca un cambio en &#946;. A lo largo del trabajo, &#945; se supone conocido. En cuanto a la carta con ajuste, el enfoque usado es la incorporaci&oacute;n de un factor de ajuste a las l&iacute;neas de control de la carta t.</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    La estructura del presente art&iacute;culo es de la siguiente manera: en la primera secci&oacute;n (desarrollo) se presentan los supuestos en los que se basa el trabajo, las expresiones matem&aacute;ticas de los l&iacute;mites de control y de las medidas <i>LCP</i> y <i>LFAP</i> para las cartas t con y sin ajuste con sus respectivas justificaciones, las medidas de resumen propuestas por Quintana <i>et al</i>. (2009) para evaluar el desempe&ntilde;o de una carta con una breve descripci&oacute;n del por qu&eacute; de su elecci&oacute;n y el c&aacute;lculo de ellas para las cartas t con y sin ajuste. En la segunda secci&oacute;n (discusi&oacute;n y an&aacute;lisis de resultados) se presentan los gr&aacute;ficos que permiten comparar el desempe&ntilde;o de ambas cartas en t&eacute;rminos de cada una de las medidas de resumen presentadas y el an&aacute;lisis de los resultados encontrados. En la tercera secci&oacute;n (conclusiones) se presentan los aportes del trabajo y futuras l&iacute;neas de investigaci&oacute;n.</font></p>     <p align="justify">&nbsp;</p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Desarrollo</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Supuestos del trabajo</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Dado que el dise&ntilde;o de la carta t depende del modelo de probabilidad de las observaciones <i>TBE</i> y que tanto los par&aacute;metros del modelo Weibull como el corrimiento <i>D</i> en la media pueden tomar cualquier valor positivo dentro de una escala continua, es necesario establecer algunos supuestos y restricciones:</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<blockquote>                                   <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&#8226; <i>Los valores convenidos para</i> &#945; <i>son</i>: 1, 2, 3, 4, 6 <i>y</i> 8</font></p>                                   <blockquote>                                     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">                                 Este conjunto es suficiente para evaluar las diferencias en el comportamiento de las cartas y la mayor&iacute;a de las aplicaciones. El caso &#945; = 1 coincide con el modelo de probabilidad exponencial.</font></p>                               </blockquote>                                   <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&#8226; <i>Sea</i> &#946;<sub>0</sub> = 1 <i>donde</i> &#946;<sub>0</sub> <i>es el valor nominal de</i> &#946; <i>cuando D</i> = 0.</font></p>                                   <blockquote>                                     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">                                 Este supuesto no causa p&eacute;rdida de generalidad. Se justifica en que, si <i>TBE</i> se ajusta a un modelo Weibull con par&aacute;metros &#945; y &#946;, <i>TBE</i>/&#946; sigue un modelo Weibull con par&aacute;metros &#945; y &#946; = 1.</font></p>                               </blockquote>                                   <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&#8226; <i>Sean</i> &micro;<sub>0</sub> <i>y</i> &#963;<sub>0</sub> <i>los valores nominales de la media y la desviaci&oacute;n est&aacute;ndar de la variable TBE que se ajusta a un modelo de probabilidad Weibull con par&aacute;metros</i> &#945; <i>y</i> &#946;<sub>0</sub> = 1:</font></p>                                   <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e3.jpg"></p>                                   <blockquote>                                     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">Es importante notar que estos valores dependen de &#945;.</font></p>                               </blockquote>                                   <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&#8226;<i> Sea</i> &micro; <i>la media desplazada de TBE. Su forma de expresi&oacute;n usual es</i></font></p>                                   <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e4.jpg"></p>                                   <blockquote>                                     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">donde <i>D</i> = <i>d&#963;</i><sub>0</sub> con <i>d</i> = 0, &plusmn;0.25, &plusmn;0.50, &plusmn;1, &plusmn;1.5 y &plusmn;2. </font></p>                                     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Cabe observar que &#956; depende tanto de <i>D</i> como de &#945;.</font></p>                               </blockquote>                                   <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&#8226; <i>Los valores</i> &#946; <i>desplazados toman la forma</i></font></p>                                   <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e5.jpg"></p>                                   <blockquote>                                     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Estos valores tambi&eacute;n dependen de <i>D</i> y &#945;<i>.</i> La identidad (5) se justifica f&aacute;cilmente: reemplazando &#956; por <img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e5a.jpg" align="middle">&nbsp;en (4) y teniendo en cuenta (3) se despeja &#946;. En particular y como es de esperar</font></p>                               </blockquote>                                   ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e6.jpg"></p>                                   <blockquote>                                     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Adem&aacute;s, si <i>D</i> &gt; 0 entonces &#946; &gt; 1 y &#956; &gt; &#956;<sub>0</sub>. Luego, en t&eacute;rminos de <i>TBE</i>, el tiempo medio entre fallas es m&aacute;s amplio, lo cual implica que se produce un mejoramiento en el desempe&ntilde;o del equipo. En cambio, si <i>D</i> &lt; 0, &#946; &lt; 1 y &#956; &lt; &#956;<sub>0</sub>; es decir, el tiempo medio entre fallas se ha reducido lo que equivale a un deterioro de su desempe&ntilde;o.</font></p>                               </blockquote>                                   <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>&#8226; Sea p</i>0 = 0.0027 <i>siendo p</i><sub>0</sub> <i>la probabilidad dada por</i> (1)</font></p>                                   <blockquote>                                     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se convino en tomar este valor est&aacute;ndar para mantener la consonancia con las cartas de Shewhart.</font></p>                               </blockquote> </blockquote>     <p align="justify">&nbsp;</p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">L&iacute;mites de control de la carta t sin ajuste</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Las cartas con l&iacute;mites de probabilidad se caracterizan por la sencillez de su dise&ntilde;o. En el caso de la carta <i>t</i>, su estad&iacute;stico de control es directamente <i>TBE</i>, la variable a monitorear. Ante cada falla del equipo o sistema se registra, mediante un punto en la gr&aacute;fica, el tiempo transcurrido desde su &uacute;ltima falla. Las l&iacute;neas de control <i>LS</i> y <i>LI</i> se muestran en (10) y se justifican como sigue (Xie <i>et al</i>., 2002).</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    La expresi&oacute;n (1) se reescribe en funci&oacute;n de <i>TBE</i> como sigue</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e7.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En cartas bilaterales, lo usual es considerar ambas probabilidades iguales. Chen (2011) considera probabilidades desiguales para que la carta tenga un desempe&ntilde;o con <i>LCP</i> insesgada. En este trabajo, para obtener una carta con esta propiedad se ha optado por la incorporaci&oacute;n de un factor de ajuste a los l&iacute;mites de control manteniendo las probabilidades de (7) iguales</font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e8.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Como <i>TBE</i> se ajusta a un modelo Weibull, su funci&oacute;n de distribuci&oacute;n de probabilidad acumulada es</font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e9.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">A partir de (6) y (9), se resuelve (8). Al despejar <i>LS</i> y <i>LI</i> se obtiene</font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e10.jpg"></p>     <p>&nbsp;</p>  							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>LCP</i> en la carta t sin ajuste</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Como cada tiempo de falla se considera independiente de los anteriores, la variable <i>LC</i> definida en (2) se ajusta a un modelo de probabilidad geom&eacute;trico con par&aacute;metro <i>p</i> definido como sigue para cada corrimiento <i>D</i></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e10a.jpg"></p>  							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Considerando (9)</font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e10b.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se reemplaza <i>LS</i> y <i>LI</i> por (10)</font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e11.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">De la naturaleza geom&eacute;trica de la variable <i>LC</i></font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e12.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Es importante notar que <i>LCP</i> depende de <i>D</i> y &#945;.</font></p>     <p align="justify">&nbsp;</p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>LFAP</i> en la carta t sin ajuste</font></p> 							    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Si <i>D</i> = 0, considerando (6) se reemplaza &#946; por &#946;<sub>0</sub> = 1 en (11) y se obtiene <i>p = p</i><sub>0</sub>. Al igual que <i>LC</i>, <i>LFA</i> se ajusta a un modelo de probabilidad geom&eacute;trico. Luego, reemplazando <i>p</i> por <i>p</i><sub>0</sub> en (12), sigue la primera igualdad de (13). Dado el supuesto <i>p</i><sub>0</sub> = 0.0027, sigue la segunda igualdad de (13). Esto significa que, se espera en concepto de promedio, una falsa alarma cada 370 puntos graficados en la carta a&uacute;n cuando <i>D</i> = 0, an&aacute;logo a lo que se espera en una carta est&aacute;ndar de Shewhart.</font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e13.jpg"></p>     <p>&nbsp;</p>  							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">L&iacute;mites de control de la carta t con ajuste</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Al igual que en la carta t, el estad&iacute;stico de control de la carta t con ajuste es directamente <i>TBE</i>, la variable a monitorear. Para transformar la carta t en una que tenga desempe&ntilde;o con <i>LCP</i> no sesgada, la alternativa elegida aqu&iacute; es multiplicar los l&iacute;mites (10) por una constante apropiada, el factor <i>f</i> de ajuste:</font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e14.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">donde <i>q</i><sub>0</sub> es la probabilidad admisible y fijada de antemano de que la carta t con ajuste emita una se&ntilde;al de falsa alarma. El rol del factor <i>f</i> es provocar que la curva <i>LCP</i> alcance su m&aacute;ximo en <i>D</i> = 0, es decir en &#946;<sub>0</sub> = 1 (Sharma <i>et al</i>., 2003). Esto implica</font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e15.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La b&uacute;squeda del factor <i>f</i> requiere de la resoluci&oacute;n de (15). Para ello, es necesario que <i>LCP</i> se exprese en funci&oacute;n de &#946;. La variable <i>LC</i> de la carta t con ajuste sigue tambi&eacute;n un modelo de probabilidad geom&eacute;trico con par&aacute;metro <i>q</i> definido para cada corrimiento <i>D</i> por:</font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e15a.jpg"></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">Considerando (9)</font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e15b.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se reemplaza <i>LS</i> y <i>LI&nbsp;</i> por (14) y se obtiene</font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e16.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">De la naturaleza geom&eacute;trica de la variable <i>LC</i></font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e16a.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Tomando en cuenta las dos &uacute;ltimas expresiones se resuelve (15). Al despejar <i>f</i> se obtiene (17). Aplicando criterios cl&aacute;sicos de an&aacute;lisis matem&aacute;tico como el de la derivada primera, se comprueba que <i>LCP</i> presenta su m&aacute;ximo en &#946;<sub>0</sub> = 1.</font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e17.jpg"></p>  							    <p align="justify">&nbsp;</p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">LCP en la carta t con ajuste</font></p> 							    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Como se explic&oacute; anteriormente, de la naturaleza geom&eacute;trica de la variable <i>LC</i></font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e16a.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">donde <i>q</i> est&aacute; dada por (16). Al igual que con la carta t sin ajuste, <i>LCP</i> depende de <i>D</i> y &#945;.</font></p>     <p align="justify">&nbsp;</p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>LFAP</i> en la carta t con ajuste</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Si <i>D</i> = 0, teniendo en cuenta (6) se reemplaza &#946; por &#946;<sub>0</sub> = 1 y <i>f</i> por (17) en (16). Se obtiene <i>q</i> = <i>q</i>*, la probabilidad real de que la carta t con ajuste emita una se&ntilde;al de falsa alarma dada por:</font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e19.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">De la naturaleza geom&eacute;trica de <i>LFA</i> y reemplazando <i>q</i> por (19) en (18) se obtiene</font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e20.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Desafortunadamente, la incorporaci&oacute;n del factor de ajuste causa un inconveniente. A diferencia de lo que ocurre con la carta t sin ajuste y contrario a lo que es de esperar, de (19) se observa que <i>q*</i>&#8800;<i>q</i><sub>0</sub>. Esto significa que, a&uacute;n fijando inicialmente una probabilidad <i>q</i><sub>0</sub>de falsa alarma en 0.0027 como en la carta t sin ajuste, la probabilidad real de que la carta t con ajuste emita una falsa alarma (<i>q*</i>) difiere de 0.0027. Luego, de (20) resulta que <i>LFAP</i>&#8800;370.37, lo que provoca que las cartas t con y sin ajuste no sean comparables cuando se fijan <i>p</i><sub>0</sub> y <i>q</i><sub>0</sub> en el mismo valor dado que las <i>LFAP</i> de ambas cartas son desiguales.</font></p> 							    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Afortunadamente, de (19) se observa que <i>q*</i> es una funci&oacute;n que depende de <i>q</i><sub>0</sub>, pero no de &#945;. Esta ventaja permite remendar el problema modificando estrat&eacute;gicamente el valor de <i>q</i><sub>0</sub>. La correcci&oacute;n consiste en fijar <i>q</i><sub>0</sub> en un valor conveniente tal que <i>q*</i> = 0.0027. La engorrosa expresi&oacute;n de <i>q*</i> en (19) requiere que se trabaje num&eacute;ricamente con la ayuda de alg&uacute;n <i>software</i> adecuado como EXCEL o MATHEMATICA:</font></p>      <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e20a.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Luego</font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e21.jpg"></p>      <p>&nbsp;</p>  							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Desempe&ntilde;o de las cartas</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    El desempe&ntilde;o de las cartas se evalu&oacute; siguiendo la metodolog&iacute;a propuesta por Quintana <i>et al</i>.(2009) que contempla el uso de una terna de medidas de resumen integrada por un promedio, una medida de variabilidad lateral y una proporci&oacute;n, diferente para cada estado posible (<i>D</i> = 0 y <i>D</i> &#8800; 0), a partir de los argumentos que se describen brevemente a continuaci&oacute;n.</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    La alta variabilidad de <i>LC</i> y <i>LFA</i> hacen que, el uso de <i>LCP</i> y <i>LFAP</i> como &uacute;nicas medidas del desempe&ntilde;o de una carta, sean insuficientes. El coeficiente de variaci&oacute;n de una variable aleatoria, m&eacute;trica usual en estad&iacute;stica para medir su variabilidad relativa, es igual al cociente entre la desviaci&oacute;n est&aacute;ndar y la media de la variable. Sin embargo, el coeficiente de variaci&oacute;n <i>(VT)</i> de <i>LC o LFA</i> no es una medida completamente adecuada para evaluar la dispersi&oacute;n en la velocidad de respuesta de una carta, dado que <i>LC</i> y <i>LFA</i> presentan una acentuada asimetr&iacute;a. Para solucionar este problema, Quintana <i>et al.</i> (2009) demuestran que el coeficiente <i>VT</i> puede ser descompuesto en dos componentes discriminando las <i>LFA</i> inferiores a <i>LFAP</i> de las superiores si <i>D</i> = 0. Asimismo, si <i>D</i>&#8800;0, discrimina las <i>LC</i> inferiores a <i>LCP</i> de las superiores:</font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e22.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">   donde</font></p> 							    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>PCC</i> = proporci&oacute;n de corridas m&aacute;s cortas (m&aacute;s tempranas) que <i>LCP (o LFAP)</i></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> <i>PCL</i>= proporci&oacute;n de corridas m&aacute;s largas (m&aacute;s tard&iacute;as) que <i>LCP (o LFAP)</i></font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    PCC + PCL = 1</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    <i>VI</i> = variabilidad relativa o coeficiente de variaci&oacute;n a la izquierda de <i>LCP</i> (o <i>LFAP</i>)</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    <i>VD =</i> variabilidad relativa o coeficiente de variaci&oacute;n a la derecha de <i>LCP</i> (o <i>LFAP</i>)</font></p>     <p align="justify">&nbsp;</p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Importancia de las variabilidades laterales seg&uacute;n el estado del proceso</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Debido a la naturaleza asim&eacute;trica de las variables <i>LFA</i> y <i>LC</i>, las variabilidades laterales no contribuyen en iguales proporciones a <i>VT</i> y no revisten la misma importancia para ambos estados (<i>D</i> = 0 y <i>D</i> &#8800; 0) si se tiene en cuenta lo que mide una y otra variable. No toda la variabilidad contenida en <i>VT</i> &nbsp;es perjudicial. Teniendo en cuenta que, la carta es m&aacute;s eficiente cuando, en lo que respecta a <i>LCP</i> y <i>LFAP</i>, mayor es <i>LFAP</i> si <i>D</i> = 0 y menor es <i>LCP</i> si <i>D</i> &#8800; 0, se deduce:</font></p>     <blockquote>                                   <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&#65517; <i>Si D = 0,</i> las corridas con longitudes superiores a <i>LFAP</i> contribuyen a engrosar <i>VT</i> favoreci&eacute;ndola. El hecho de que <i>VD</i> sea grande no es motivo de preocupaci&oacute;n. <i>VI</i> es el &uacute;nico componente realmente perjudicial que incrementa <i>VT,</i> dado que proviene de las corridas con longitudes inferiores a <i>LFAP</i>.</font></p>                                   ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2"> &#65517; <i>Si D</i> &#8800; 0, la situaci&oacute;n es a la inversa. Las corridas con longitudes inferiores a <i>LCP</i> son bienvenidas. Luego, el hecho de que <i>VI</i> sea grande no es un problema. <i>VD</i> es el &uacute;nico componente realmente preocupante que incrementa <i>VT,</i> dado que proviene de las corridas con longitudes superiores a <i>LCP</i>.</font></p> </blockquote>     <p align="justify">&nbsp;</p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Medidas de resumen para evaluar el desempe&ntilde;o de una carta de control</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    De lo analizado se concluye que, cuando <i>D</i> = 0, <i>LFAP</i> y <i>VI</i> son indicadores adecuados para evaluar el desempe&ntilde;o de la carta. En cambio, <i>LCP</i> y <i>VD</i> son aptos para <i>D</i> &#8800; 0. Resulta conveniente completar la primera dupla anterior con <i>PCC</i> para evaluar el grado de incidencia de valores altos de <i>VI</i>. An&aacute;logamente, para <i>D</i> &#8800; 0, la dupla se completa con <i>PCL</i> para evaluar el grado de incidencia de valores altos de <i>VD.</i> En resumen, para evaluar el desempe&ntilde;o de una carta, se proponen las ternas:</font></p>     <blockquote>                                   <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&#65517;<i> LFAP</i>, <i>VI</i> y <i>PCC</i> para <i>D</i> = 0</font></p>                                   <p align="justify"><font face="verdana" size="2">                               &#65517;<i> LCP</i>, <i>VD</i> y <i>PCL</i> para cada corrimiento <i>D</i> &#8800; 0</font></p> </blockquote>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La carta tendr&aacute; mejor desempe&ntilde;o cuanto mayor sea su <i>LFAP</i> y menor sea el resto de las medidas para un rango de valores <i>D</i> de inter&eacute;s. An&aacute;logo a las cartas de Shewhart, cada tiempo de falla se considera independiente de los anteriores. Luego, tanto <i>LFA</i> como <i>LC</i> siguen el modelo de probabilidad geom&eacute;trico. En s&iacute;mbolos:</font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e22a.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">donde</font></p> 							    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    <i>X</i> = <i>LFA</i> o <i>LC</i> seg&uacute;n sea <i>D</i> = 0 o <i>D</i> &#8800; 0, respectivamente</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    <i>&#960; = p</i><sub>0</sub> o <i>q*</i> para la carta t sin ajuste o con ajuste, respectivamente si <i>X</i> = <i>LFA</i></font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    &#960; <i>=</i> <i>p</i> o <i>q</i>&nbsp; para la carta t sin ajuste o con ajuste, respectivamente si <i>X</i> = <i>LC</i></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Luego, su funci&oacute;n de distribuci&oacute;n acumulada es una suma finita de una progresi&oacute;n geom&eacute;trica:</font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e23.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">donde &#91;<i>x</i>&#93;, parte entera de <i>x</i>.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Las expresiones de las medidas de resumen propuestas surgen a partir de la demostraci&oacute;n de la igualdad (22) en el trabajo de Quintana <i>et al</i>.(2009) (el operador <i>P</i>(&middot;) significa probabilidad):</font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e24.jpg"></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e25.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El numerador de (25) es la desviaci&oacute;n est&aacute;ndar a la izquierda de <i>LFAP</i>.</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e26.jpg"></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e27.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El numerador de (27) es la desviaci&oacute;n est&aacute;ndar a derecha de <i>LCP</i>.</font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e27a.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">   La primera igualdad de (28) se justifica a partir de (24) teniendo en cuenta (23). De (13) y (21), <i>LFAP</i> = 370.3 para ambas cartas. De lo visto, <i>p</i><sub>0</sub> = <i>q*</i> = 0.0027 (siempre y cuando se fije <i>q</i><sub>0</sub> en 0.003721213378). Luego, sigue la segunda igualdad de (28).</font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e28.jpg"></p>     <p align="justify"><font size="2" face="verdana">   donde &#960; = <i>p</i><sub>0</sub> o <i>q*</i> seg&uacute;n se trate de la carta t sin o con ajuste, respectivamente<i>.</i></font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e28b.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">   De (13), (21) y (28), <i>LFAP</i> = 370.37 y <i>PCC0</i> = 0.6312 para ambas cartas. Luego de trabajar num&eacute;ricamente (25) con el <i>software</i> MATHEMATICA, se obtiene:</font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e28a.jpg"></p>  							    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify">&nbsp;</p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">PCL para D &#8800; 0</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    A partir de (23), (26) se convierte en</font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e29.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">donde &#960; = <i>p</i> o <i>q</i> seg&uacute;n se trate de la carta t sin o con ajuste, respectivamente<i>. </i>Es importante notar que <i>PCL</i> depende de <i>D</i> y &#945;.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">VD para D &#8800; 0</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">   Si bien (27) define a <i>VD,</i> involucra el engorroso c&aacute;lculo de una suma infinita. Una alternativa m&aacute;s sencilla es despejar <i>VD</i> de (22)</font></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e30.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Dado que <i>LC</i> es una variable geom&eacute;trica con par&aacute;metro <i>&#960;</i>, su media es 1/<i>&#960;</i> y su desviaci&oacute;n est&aacute;ndar, <img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e30a.jpg">. Luego, el coeficiente de variaci&oacute;n total <i>VT</i> es <img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e30b.jpg">&nbsp;con &#960; = <i>p</i> o <i>q</i> para la carta sin ajuste o con ajuste, respectivamente</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La expresi&oacute;n de <i>VI</i> surge a partir de la demostraci&oacute;n de la igualdad (22) en el trabajo de Quintana <i>et al</i>.(2009):</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14e30c.jpg"></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Al igual que <i>PCL</i>, cabe destacar que el valor de <i>VD</i> depende de <i>D</i> y &#945;.</font></p>     <p align="justify">&nbsp;</p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Gr&aacute;ficos</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Es importante notar que los c&aacute;lculos de <i>LCP</i>, <i>PCL</i> y <i>VD</i> para ambas cartas dados por (12), (18), (29) y (30) se deben realizar para cada par de valores (<i>D</i>, &#945;) con <i>D</i> &#8800; 0, contemplados en la secci&oacute;n supuestos del trabajo. Dada la numerosa cantidad de combinaciones posibles y para facilitar el an&aacute;lisis de las conclusiones, se presentan gr&aacute;ficos apropiados. En las <a href="#f1">figuras 1</a>, <a href="#f4">4</a> y <a href="#f5">5</a> se aprecian los resultados de la carta t sin ajuste. En la <a href="#f2">figura 2</a>, los de <i>LCP</i> para la carta t con ajuste. Para comparar las cartas, se grafican las relaciones:</font></p>     <blockquote>                                   <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>LCP</i> con ajuste / <i>LCP</i> sin ajuste (<a href="#f3">figura 3</a>)</font></p>                                   <p align="justify"><font face="verdana" size="2">                               <i>VD</i> con ajuste / <i>VD</i> sin ajuste (<a href="#f6">figura 6</a>) y</font></p>                                   <p align="justify"><font face="verdana" size="2">                               <i>PCL con ajuste / PCL</i> sin ajuste (<a href="#f7">figura 7</a>)</font></p> </blockquote>     <p align="center"><a name="f1"></a></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14f1.jpg"></p>     <p align="center"><a name="f2"></a></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14f2.jpg"></p>     <p align="center"><a name="f3"></a></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14f3.jpg"></p>     <p align="center"><a name="f4"></a></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14f4.jpg"></p>     <p align="center"><a name="f5"></a></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14f5.jpg"></p>     <p align="center"><a name="f6"></a></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14f6.jpg"></p>     <p align="center"><a name="f7"></a></p>     <p align="center"><img src="/img/revistas/iit/v16n1/a14f7.jpg"></p>  							    <p>&nbsp;</p>  							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Discusi&oacute;n y an&aacute;lisis de resultados</b></font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Para <i>D</i> &#8800; 0, el ajuste de los l&iacute;mites de control ha dado sus frutos como se observa en las <a href="#f1">figuras 1</a> y <a href="#f2">2</a>. En la carta t sin ajuste (<a href="#f1">figura 1</a>), para peque&ntilde;os deterioros del equipo o sistema (<i>D</i> &lt; 0 muy peque&ntilde;o), <i>LCP</i> supera significativamente al valor <i>LFAP</i> preasignado de 370 puntos. Esto significa que, ante peque&ntilde;os deterioros, la carta tarda m&aacute;s en emitir una se&ntilde;al que cuando no se producen. De la <a href="#f2">figura 2</a>, la ventaja del ajuste es evidente, mantiene a <i>LCP</i> por debajo de ese nivel, cualesquiera sean <i>D</i> y &#945;.</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    La naturaleza asim&eacute;trica de Weibull hace que, para valores <i>D</i> de igual magnitud pero distinto sentido, las <i>LCP</i> de ambas cartas difieran significativamente, aunque con menor intensidad en la carta t con ajuste y ser mayores para <i>D</i> &lt; 0. Esto significa que, a igual tenor de <i>D</i>, ambas cartas son mucho m&aacute;s veloces para detectar mejoramientos que deterioros. No obstante, estas discrepancias se suavizan conforme aumenta la magnitud de <i>D</i>. Se observa adem&aacute;s que, para la mayor&iacute;a de los corrimientos <i>D</i>, el valor <i>LCP</i> de cada carta no difiere significativamente de un valor &#945; a otro, para los contemplados en este trabajo.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El comportamiento de <i>LCP</i> en la carta t con ajuste var&iacute;a seg&uacute;n el signo de <i>D</i> (<a href="#f3">figura 3</a>). Para <i>D</i> &lt; 0 (deterioros), es claramente ventajosa, significativamente m&aacute;s sensible, m&aacute;s r&aacute;pida que la carta t sin ajuste. Su <i>LCP</i> es aproximadamente 40% inferior a la del caso sin ajuste.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">   En cambio, para <i>D</i> &gt; 0 (mejoramientos), la carta t con ajuste se torna perjudicial. Su <i>LCP</i> es significativamente superior a la de la carta t sin ajuste, especialmente para corrimientos <i>D</i> &gt; 0 muy peque&ntilde;os, aunque, la magnitud del incremento disminuye conforme aumenta <i>D</i> y tambi&eacute;n con &#945;. En conclusi&oacute;n, la carta t con ajuste trae como contrapartida una carta menos sensible, m&aacute;s lenta que la carta t sin ajuste para detectar mejoramientos del equipo o sistema.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En cuanto a las otras medidas de desempe&ntilde;o, en la carta t sin ajuste se aprecia una muy elevada variabilidad derecha (<a href="#f4">figura 4</a>). Para deterioros (<i>D</i> &lt; 0), es del orden de 140% aproximadamente. Para mejoramientos (<i>D</i> &gt; 0), disminuye levemente hasta alcanzar un m&iacute;nimo de 110%. Esos altos niveles de <i>VD</i> est&aacute;n acompa&ntilde;ados por una proporci&oacute;n de corridas largas <i>PCL</i> de 37% aproximadamente, para <i>D</i> &lt; 0, y oscilando entre 30% y 40%, para <i>D</i> &gt; 0 (<a href="#f5">figura 5</a>).</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2"> </font><font face="verdana" size="2">La carta t con ajuste, para <i>D</i> &lt; 0, mantiene los mismos niveles elevados de <i>VD</i> de la carta t sin ajuste y tambi&eacute;n casi iguales valores <i>PCL</i>. Similar comportamiento se aprecia para corrimientos positivos de magnitud peque&ntilde;a (0 &lt; <i>D</i> &lt; 1&#963;) (<a href="#f6">figuras 6</a> y <a href="#f7">7</a>).</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">   Para la mayor&iacute;a de los corrimientos positivos de mayor magnitud (<i>D</i>&#8805;1&#963;), el incremento en <i>LCP</i> de la carta con ajuste est&aacute; acompa&ntilde;ado de un leve incremento en los valores <i>VD</i> (inferior a 20%) (<a href="#f6">figura 6</a>). Sin embargo, este aumento no es preocupante dado que est&aacute; atenuado por una reducci&oacute;n en <i>PCL</i> (inferior a 20%) (<a href="#f7">figura 7</a>). Es decir, si bien la <i>LC</i> carta t con ajuste es m&aacute;s variable que la del caso sin ajuste, menor es la probabilidad de que presente una corrida m&aacute;s larga que el promedio.</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    En resumen, el ajuste de los l&iacute;mites de control solo alcanza para corregir aquellos valores <i>LCP</i> de la carta t sin ajuste que est&aacute;n por encima del valor <i>LFAP</i> preasignado, pero no para disminuir sus elevados niveles de <i>VD</i>.</font></p>     <p align="justify">&nbsp;</p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Conclusiones</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">   El principal objetivo de este trabajo fue realizar un an&aacute;lisis y comparaci&oacute;n de las ventajas y desventajas del uso de cartas de relativa sencillez que surgieron en a&ntilde;os recientes en concordancia con la evoluci&oacute;n de la metodolog&iacute;a Six Sigma y de particular inter&eacute;s en mantenimiento, evaluando no solo la tradicional <i>LCP,</i> sino tambi&eacute;n otras facetas poco exploradas de la velocidad de respuesta de una carta de control.</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Atendiendo a la velocidad media de respuesta, si el objetivo principal del monitoreo del equipo o sistema recae en detectar deterioros, se recomienda la carta t con ajuste. En cambio, cuando la prioridad es detectar mejoramientos, la carta t sin ajuste es la mejor opci&oacute;n. Sin embargo, en un programa Six Sigma, el inter&eacute;s recae en detectar tanto deterioros como mejoramientos del proceso, para no desatender informaci&oacute;n valiosa que pueda dar lugar a una oportunidad de mejora. De usar estas cartas, se sugiere su uso simult&aacute;neo.</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    No obstante, la velocidad de respuesta de ambas cartas es muy variable de corrida en corrida. Con frecuencia el costo que se paga por una carta con dise&ntilde;o de relativa sencillez, como las presentadas en este trabajo, es la obtenci&oacute;n de una carta menos veloz y m&aacute;s variable que otras disponibles en la literatura, entre las que se destaca, la carta CUSUM Weibull (Quintana y Garc&iacute;a, 2010). Es bien conocido que las cartas CUSUM son r&aacute;pidas en la detecci&oacute;n de corrimientos muy peque&ntilde;os aunque su dise&ntilde;o es m&aacute;s complejo.</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Desde el punto de vista operacional, las cartas t con y sin ajuste son m&aacute;s recomendables que la carta CUSUM Weibull. La primera raz&oacute;n es que el dise&ntilde;o de las cartas t requiere del proceso menos informaci&oacute;n que CUSUM. Esto es particularmente &uacute;til en situaciones donde no se tiene plena claridad de cu&aacute;l magnitud del corrimiento <i>D</i> es la m&aacute;s cr&iacute;tica; es decir, a partir de qu&eacute; valor <i>D</i> se pueden obtener serios perjuicios en el proceso si el cambio no es detectado a tiempo (requerimiento indispensable para dise&ntilde;ar una carta CUSUM). Esto ocurre, por ejemplo, en la puesta en marcha de un equipo o sistema nuevo o cuando no se cuentan con suficientes registros de su historial de funcionamiento. Como consecuencia, para determinar los l&iacute;mites de control, es m&aacute;s simple llevarlo a cabo con la carta t que con CUSUM. La segunda raz&oacute;n es que el c&oacute;mputo de las medidas de desempe&ntilde;o de la carta es m&aacute;s sencillo en las cartas t, dado que se disponen de f&oacute;rmulas precisas para ello. Por el contrario, para la carta CUSUM, es necesario recurrir a algoritmos aproximados.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">   Sin pretender hacer una enumeraci&oacute;n exhaustiva, otras alternativas existentes en la literatura son: la carta t<sub>r</sub>(extensi&oacute;n de la carta t), las cartas no param&eacute;tricas y las que se basan en el m&eacute;todo de la varianza ponderada. Se dispone de estudios de sus desempe&ntilde;os aunque generalmente solo en t&eacute;rminos de <i>LCP</i> y <i>ATS</i>. En el caso de las cartas no param&eacute;tricas, pocas publicaciones hacen comparaciones con cartas dise&ntilde;adas para procesos Weibull y menos si se trata de aplicaciones a mantenimiento. En cambio, en el caso de las cartas basadas en el m&eacute;todo de la varianza ponderada, la literatura evidencia inter&eacute;s sobre su aplicaci&oacute;n a procesos Weibull, aunque con an&aacute;lisis limitados de su desempe&ntilde;o. Por ello, el an&aacute;lisis de las caracter&iacute;sticas, bondades y limitaciones de las cartas alternativas nombradas, m&aacute;s all&aacute; de las medidas convencionales de desempe&ntilde;o, es de sumo inter&eacute;s para los autores de este trabajo en una futura investigaci&oacute;n, con el objeto de comparar con las cartas t presentadas aqu&iacute; y orientar sobre la alternativa m&aacute;s conveniente a las condiciones y limitaciones de un proceso, con especial &eacute;nfasis en mantenimiento.</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify">&nbsp;</p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Referencias</b></font></p> 							    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Alemi F. Tukey's Control Chart. <i>Quality Management In Health Care,</i> volumen 13 (n&uacute;mero 4), octubre&#45;diciembre 2004 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 12 de marzo de 2014&#93;. Disponible en: <a href="http://www.openonlinecourses.com/cqi/Tukey%20Control%20Chart%20Alemi.pdf" target="_blank">http://www.openonlinecourses.com/cqi/Tukey%20Control%20Chart%20Alemi.pdf</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294243&pid=S1405-7743201500010001400001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Bakir S.T. A Distribution&#45;Free Shewhart Quality Control Chart Based on Signed&#45;Ranks. <i>Quality Engineering</i>, volumen 16 (n&uacute;mero 4), 2004 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 14 de marzo de 2014&#93;. Disponible en: <a href="http://www.tandfonline.com/doi/abs/ 10.1081/QEN-120038022" target="_blank">http://www.tandfonline.com/doi/abs/ 10.1081/QEN&#45;120038022</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294244&pid=S1405-7743201500010001400002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Castagliola P., Giovanni C., Fichera S. <i>Handbook</i> <i>of Engineering Statistics,</i> Londres, Springer&#45;Verlag, 2006 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 23 de septiembre de 2013&#93;, cap&iacute;tulo 17, Monitoring Process Variability Using EWMA. Disponible en: <a href="http://link.springer.com/referenceworkentry/10.1007/978&#45;1&#45;84628&#45;288&#45;1_17" target="_blank">http://link.springer.com/referenceworkentry/10.1007/978&#45;1&#45;84628&#45;288&#45;1_17</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294245&pid=S1405-7743201500010001400003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Castagliola P., Khoo M. A Synthetic Scaled Weighted Variance Control Chart for Monitoring the Process Mean of Skewed Populations. <i>Communications in Statistics&#45;Simulation and Computation,</i> volumen 38, 2009 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 12 de marzo de 2014&#93;. Disponible en: <a href="http://peer.ccsd.cnrs.fr/docs/00/51/43/50/PDF/PEER_stage2_10.1080%252F03610910903072409.pdf" target="_blank">http://peer.ccsd.cnrs.fr/docs/00/51/43/50/PDF/PEER_stage2_10.1080%252F03610910903072409.pdf</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294246&pid=S1405-7743201500010001400004&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Chakraborti S. Run Length Distribution and Percentiles: The Shewhart &nbsp;Chart with Unknown Parameters. <i>Quality Engineering,</i> volumen 19 (n&uacute;mero 2), marzo 2007 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 23 de septiembre de 2013&#93;. Disponible en: <a href="http://www.tandfonline.com/doi/abs/10.1080/08982110701276653" target="_blank">http://www.tandfonline.com/doi/abs/10.1080/08982110701276653</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294247&pid=S1405-7743201500010001400005&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Chakraborti S., Van de Wiel M. Institute of Mathematical Statistics Collections: Beyond Parametrics in Interdisciplinary Research: Festschrift in Honor of Professor Pranab K. Sen, volumen 1, USA,    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294248&pid=S1405-7743201500010001400006&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --> Balakrishnan N.,&nbsp;Pe&ntilde;a E.A., Silvapulle M.J., 2008 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 14 de marzo de 2014&#93;, pp. 156&#45;172, A Nonparametric Control Chart Based on the Mann&#45;Whitney Statistic. Disponible en: <a href="http://projecteuclid.org/euclid.imsc/1207058271" target="_blank">http://projecteuclid.org/euclid.imsc/1207058271</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294249&pid=S1405-7743201500010001400007&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Chen P.W., Cheng C.S. On Statistical Design of the Cumulative Quantity Control Chart for Monitoring High Yield Processes. <i>Communications in Statistics&#45; Theory and Methods,</i> volumen 40 (n&uacute;mero 11), marzo 2011 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 23 de septiembre de 2013&#93;. Disponible en: <a href="http://www.tandfonline.com/doi/abs/10.1080/03610920903391329" target="_blank">http://www.tandfonline.com/doi/abs/10.1080/03610920903391329</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294250&pid=S1405-7743201500010001400008&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Govindaraju K., Lai C.D. Run Length Variability and Three Sigma Control Limits. <i>Economic Quality Control,</i>volumen 19 (n&uacute;mero 2), octubre 2004 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 23 de septiembre de 2013&#93;. Disponible en: <a href="http://www.degruyter.com/view/j/%20eqc.2004.19.issue&#45;2/eqc.2004.175/eqc.2004.175.xml" target="_blank">http://www.degruyter.com/view/j/ eqc.2004.19.issue&#45;2/eqc.2004.175/eqc.2004.175.xml</a> &nbsp;    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294251&pid=S1405-7743201500010001400009&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p> 							    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Govindaraju K. Statistical Performance of Control Charts. <i>Economic Quality Control,</i> volumen 20 (n&uacute;mero 1), marzo 2005 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 23 de septiembre de 2013&#93;. Disponible en: <a href="http://www.degruyter.com/view/j/%20eqc.2005.20.issue&#45;1/eqc.2005.5/eqc.2005.5.xml" target="_blank">http://www.degruyter.com/view/j/ eqc.2005.20.issue&#45;1/eqc.2005.5/eqc.2005.5.xml</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294253&pid=S1405-7743201500010001400010&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Guti&eacute;rrez&#45;Pulido H., De la Vara Salazar R. <i>Control estad&iacute;stico de calidad y seis sigma,</i> 2&ordf; ed., M&eacute;xico, Mc Graw Hill Interamericana Editores, 2009, pp. 4&#45;6</font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294254&pid=S1405-7743201500010001400011&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Hawkins D., Olwell D. <i>Cumulative Sum Charts and Charting for Quality Improvement</i>, New York, Springer&#45;Verlag, 1998, pp. 83&#45;104</font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294255&pid=S1405-7743201500010001400012&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Khoo M.B.C., Atta A.M.A., Chen C&#45;H. Proposed &nbsp;and <i>S</i> Control Charts for Skewed Distributions, en: International Conference on Industrial Engineering and Engineering Management. Proceedings IEEM IEEE, Hong Kong, China, 2009 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 10 de marzo de 2014&#93; Disponible en: <a href="http://ieeexplore.ieee.org/xpls/abs_all.jsp?arnumber=5373327&amp;tag=1" target="_blank">http://ieeexplore.ieee.org/xpls/abs_all.jsp?arnumber=5373327&amp;tag=1</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294256&pid=S1405-7743201500010001400013&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Lai C.D., Chan L.Y., Xie M. Distribution Of Runs In A Two&#45;Stage Process Monitoring Model. <i>Communications in Statistics&#45;Simulation and Computation</i>, volumen 30 (n&uacute;mero 3), 2001 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 23 de septiembre de 2013&#93;. Disponible en: <a href="http://www.tandfonline.com/doi/abs/10.1081/SAC-100105078" target="_blank">http://www.tandfonline.com/doi/abs/10.1081/SAC&#45;100105078</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294257&pid=S1405-7743201500010001400014&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Lai C.D., Govindaraju K. Reduction of Control&#45;Chart Signal Variablity for High&#45;Quality Processes. <i>Journal of Applied Statistics</i>, volumen 35 (n&uacute;mero 6), mayo 2008 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 23 de septiembre de 2013&#93;. Disponible en: <a href="http://www.tandfonline.com/doi/abs/10.1080/02664760801921232" target="_blank">http://www.tandfonline.com/doi/abs/10.1080/02664760801921232</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294258&pid=S1405-7743201500010001400015&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Lai C.D., Pra&#45;Murphy D.N., Xie M. <i>Handbook</i> <i>of Engineering Statistics</i>, London, Springer&#45;Verlag, 2006 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 23 de septiembre de 2013&#93;, cap&iacute;tulo 3, Weibull Distributions and Their Applications. Disponible en: <a href="http://link.springer.com/referenceworkentry/10.1007/978-1-84628-288-1_3" target="_blank">http://link.springer.com/referenceworkentry/10.1007/978&#45;1&#45;84628&#45;288&#45;1_3</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294259&pid=S1405-7743201500010001400016&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Li Z., Zhou S., Sievenpiper C., Choubey S. Statistical Monitoring of Time&#45;to&#45;Failure Data Using Rank Tests. <i>Quality and Reliability Engineering International</i>, volumen 28, 2012 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 11 de marzo de 2014&#93;. Disponible en: <a href="http://homepages.cae.wisc.edu/~zhous/papers/qre1248.pdf" target="_blank">http://homepages.cae.wisc.edu/~zhous/papers/qre1248.pdf</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294260&pid=S1405-7743201500010001400017&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Linderman K., McKone&#45;Sweet K.E., Anderson J.C. An Integrated Systems Approach to Process Control and Maintenance. <i>European Journal of Operational Research,</i> volumen 164 (n&uacute;mero 2), 2005 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 10 de marzo de 2014&#93;. Disponible en: <a href="http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0377221704000219#" target="_blank">http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0377221704000219#</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294261&pid=S1405-7743201500010001400018&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Liu J.Y., Xie M., Goh, T.N., Sharma P.R. A Comparative Study of Exponential Time between Events Charts. <i>Quality Technology and Quantitative Management</i>, volumen 3 (n&uacute;mero 3), 2006 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 23 de septiembre de 2013&#93;. Disponible en: <a href="http://web.it.nctu.edu.tw/~qtqm/qtqmpapers/2006V3N3/2006V3N3_F8.pdf" target="_blank">http://web.it.nctu.edu.tw/~qtqm/qtqmpapers/2006V3N3/2006V3N3_F8.pdf</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294262&pid=S1405-7743201500010001400019&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Luce&ntilde;o A., Puig&#45;Pey J. Evaluation of the Run&#45;Length Probability Distribution for Cusum Charts: Assessing Chart Performance. <i>Technometrics</i>, volumen 42 (n&uacute;mero 4), 2000 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 23 de septiembre de 2013&#93;. Disponible en: <a href="http://amstat.tandfonline.com/doi/abs/10.1080/00401706.2000.10485714" target="_blank">http://amstat.tandfonline.com/doi/abs/10.1080/00401706.2000.10485714</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294263&pid=S1405-7743201500010001400020&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Quintana A., Garc&iacute;a L., Casal, R. Medidas de resumen para evaluar la performance de una carta de control para cada estado de un proceso. Su aplicaci&oacute;n a cartas de Shewhart y Cusum. <i>Revista de la Escuela de Perfeccionamiento en Investigaci&oacute;n Operativa</i>, Argentina, volumen XVII (n&uacute;mero 30), mayo 2009: 39&#45;58.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294264&pid=S1405-7743201500010001400021&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p> 							    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Quintana A., Garc&iacute;a L. Dise&ntilde;o y performance de la carta de control Cusum Weibull bilateral para individuales. Comparaci&oacute;n con la carta Cusum normal ante la presencia de procesos Weibull, en: <i>Encuentro Regional Argentino Brasile&ntilde;o de Investigaci&oacute;n Operativa</i> (II, 2010, Tandil, Argentina).    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294266&pid=S1405-7743201500010001400022&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --> Anales XXIII ENDIO&#45;XXI EPIO&#45;II ERABIO, Tandil, Argentina, Universidad Nacional del Centro de la Provincia de Buenos Aires, Escuela de Perfeccionamiento en Investigaci&oacute;n Operativa (EPIO), Sociedade Brasileira de Pesquisa Operacional (SOBRAPO), 2010, 213 a 232.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294267&pid=S1405-7743201500010001400023&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p> 							    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Quintana A., Garc&iacute;a L., Casal R. Variabilidad lateral para evaluar la velocidad de respuesta de una carta de control de procesos. <i>Revista Ingenier&iacute;a Industrial,</i> Universidad del B&iacute;o&#45;B&iacute;o, Chile, volumen 10 (n&uacute;mero 2), 2011 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 23 de septiembre de 2013&#93;. Disponible en: <a href="http://www.ici.ubiobio.cl/revista/index.php?option=com_content&amp;task=view&amp;id=35&amp;Itemid=36" target="_blank">http://www.ici.ubiobio.cl/revista/index.php?option=com_content&amp;task=view&amp;id=35&amp;Itemid=36</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294269&pid=S1405-7743201500010001400024&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Radson D., Boyd A.H. Graphical Representation of Run Length Distributions. <i>Quality Engineering</i>, volumen 17 (n&uacute;mero 2), 2005 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 23 de septiembre de 2013&#93;. Disponible en: <a href="http://www.tandfonline.com/doi/abs/10.1081/QEN-200056484" target="_blank">http://www.tandfonline.com/doi/abs/10.1081/QEN&#45;200056484</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294270&pid=S1405-7743201500010001400025&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Ryan T. <i>Statistical Methods for Quality Improvement,</i> 3a ed., Nueva Jersey, John Wiley &amp; Sons, 2011 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 23 de septiembre de 2013&#93;, cap&iacute;tulo 4, Control Charts for Measurements With Subgrouping (for One Variable). Disponible en: <a href="http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9781118058114" target="_blank">http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9781118058114</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294271&pid=S1405-7743201500010001400026&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Santiago E., Smith J. Control Charts Based on the Exponential Distribution: Adapting Runs Rules for the t chart. <i>Quality Engineering</i>, volumen 25 (n&uacute;mero 2), febrero 2013 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 23 de septiembre de 2013&#93;. Disponible en: <a href="http://www.tandfonline.com/doi/abs/10.1080/08982112.2012.740646" target="_blank">http://www.tandfonline.com/doi/abs/10.1080/08982112.2012.740646</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294272&pid=S1405-7743201500010001400027&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Sharma P.R. <i>A Study of Properties and Applications of Control Charts for High Yield Processes</i>, tesis (doctor en filolosof&iacute;a), Singapur, The National University of Singapore, Department of Industrial and Systems Engineering, 2003, 240 pp. &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 23 de septiembre de 2013&#93; Disponible en: <a href="http://scholarbank.nus.edu.sg/bitstream/handle/10635/14197/SharmaPR.pdf?sequence=1" target="_blank">http://scholarbank.nus.edu.sg/bitstream/handle/10635/14197/SharmaPR.pdf?sequence=1</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294273&pid=S1405-7743201500010001400028&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Sharma P.R., Xie M., Goh T.N. Reliability Modeling, Analysis and Optimization. <i>Series on Quality, Reliability and Engineering Statistics</i>, volumen 9, Singapur, World Scientific Publishing Co., 2006 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 23 de septiembre de 2013&#93;, cap&iacute;tulo 3, Monitoring Inter&#45;Arrival Times with Statistical Control Charts. Disponible en: <a href="http://www.worldscientific.com/doi/abs/10.1142/9789812707147_0003" target="_blank">http://www.worldscientific.com/doi/abs/10.1142/9789812707147_0003</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294274&pid=S1405-7743201500010001400029&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Surucu B., Sazak H. Monitoring Reliability for a Three Parameter Weibull Distribution. <i>Reliability Engineering and System Safety</i>, volumen 94 (n&uacute;mero 2), febrero 2009 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 23 de septiembre de 2013&#93;. Disponible en: <a href="http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0951832008001737" target="_blank">http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0951832008001737</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294275&pid=S1405-7743201500010001400030&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Tang L.C., Cheong W.T.. Cumulative Conformance Count Chart with Sequentially Updated Parameters. <i>IIE Transactions</i>, volumen 36 (n&uacute;mero 9), 2004 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 23 de septiembre de 2013&#93;. Disponible en: <a href="http://www.tandfonline.com/doi/abs/10.1080/07408170490473024" target="_blank">http://www.tandfonline.com/doi/abs/10.1080/07408170490473024</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294276&pid=S1405-7743201500010001400031&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Xie M., Goh T.N., Ranjan P. Some Effective Control Chart Procedures for Reliability Monitoring. <i>Reliability Engineering and System Safety</i>, volumen 77 (n&uacute;mero 2), agosto 2002 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 23 de septiembre de 2013&#93;. Disponible en: <a href="http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0951832002000418" target="_blank">http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0951832002000418</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294277&pid=S1405-7743201500010001400032&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Xie M., Goh T. <i>Handbook</i> <i>of Engineering Statistics</i>, Londres, Springer&#45;Verlag, 2006 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 23 de septiembre de 2013&#93;, cap&iacute;tulo 16, Some Statistical Models for the Monitoring of High&#45;Quality Processes. Disponible en: <a href="http://link.springer.com/referenceworkentry/10.1007/978-1-84628-288-1_16" target="_blank">http://link.springer.com/referenceworkentry/10.1007/978&#45;1&#45;84628&#45;288&#45;1_16</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294278&pid=S1405-7743201500010001400033&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Zhang C.W., Xie M., Goh T.N. Design of Exponential Control Charts Using a Sequential Sampling Scheme. <i>IIE Transactions</i>, volumen 38 (n&uacute;mero 12), noviembre 2006 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 23 de septiembre de 2013&#93;. Disponible en: <a href="http://www.tandfonline.com/doi/abs/10.1080/07408170600728905" target="_blank">http://www.tandfonline.com/doi/abs/10.1080/07408170600728905</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294279&pid=S1405-7743201500010001400034&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    Zhao Y., Liang G., Zhou X. Equipment Spare Parts Failure Preventive Control Based on Control Charts, en: International Conference on Management Science &amp; Engineering (19th, 2012, Dallas, USA). Proceedings ICMSE, Dallas, USA, 2012, 596 a 600 &#91;en linea&#93; &#91;fecha de consulta: 10 de marzo de 2014&#93; Disponible en: <a href="http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?arnumber=6414241" target="_blank">http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?arnumber=6414241</a></font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4294280&pid=S1405-7743201500010001400035&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><p align="justify">&nbsp;</p>      <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Este art&iacute;culo se cita:</b></font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    <b>Citaci&oacute;n estilo Chicago</b>    <br>Quintana, Alicia Esther, Mar&iacute;a Virginia Pisani, Ricardo N&eacute;stor Casal. Desempe&ntilde;o de cartas de control estad&iacute;stico con l&iacute;mites bilaterales de probabilidad para monitorear procesos Weibull en mantenimiento. <i>Ingenier&iacute;a Investigaci&oacute;n y Tecnolog&iacute;a</i>, XVI, 01 (2015): 143&#45;156.</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    <b>Citaci&oacute;n estilo ISO 690</b>    <br>Quintana&#45; A.E., Pisani&#45; M.V., Casal&#45; R.N. Desempe&ntilde;o de cartas de control estad&iacute;stico con l&iacute;mites bilaterales de probabilidad para monitorear procesos Weibull en mantenimiento. <i>Ingenier&iacute;a Investigaci&oacute;n y Tecnolog&iacute;a</i>, volumen XVI (n&uacute;mero 1), enero&#45;marzo 2015: 143&#45;156.</font></p>     <p align="justify">&nbsp;</p>  							    <p><font face="verdana" size="2"><b>Semblanza de los autores</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> <i><b>Alicia Esther Quintana:</b></i> Licenciada en matem&aacute;tica y especialista en gesti&oacute;n de la calidad por la Universidad Nacional del Sur (UNS), Argentina. Profesora de estad&iacute;stica e investigadora de la UNS, categorizada por el Sistema Nacional. Su &aacute;rea de especializaci&oacute;n es control de calidad, con &eacute;nfasis en cartas de control estad&iacute;stico de procesos. Ha publicado trabajos en revistas y reuniones cient&iacute;ficas y particip&oacute; en proyectos de investigaci&oacute;n con esa tem&aacute;tica. Actualmente participa en un proyecto sobre herramientas de mejora en la metodolog&iacute;a Six Sigma. Realiz&oacute; asesoramientos estad&iacute;sticos a empresas del medio y fue miembro de proyectos educativos a distancia en calidad en la UNS.</font></p> 							    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    <i><b>Mar&iacute;a Virginia Pisani:</b></i> Licenciada en econom&iacute;a por la Universidad Nacional del Sur (UNS), Argentina. Aspirante al grado de doctor en ciencias de la administraci&oacute;n por la UNS. Fue docente del Departamento de Econom&iacute;a, UNS. Es docente del Departamento de Matem&aacute;tica de la UNS en el &aacute;rea probabilidad y estad&iacute;stica y de la Universidad Provincial del Sudoeste (UPSO) en las asignaturas econom&iacute;a y estad&iacute;stica. Trabaja en proyectos de investigaci&oacute;n relacionados con la metodolog&iacute;a Six Sigma y la econom&iacute;a de la salud. Ha publicado trabajos en revistas y anales de reuniones cient&iacute;ficas en estas tem&aacute;ticas.</font></p> 							    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2"> 						    <i><b>Casal Ricardo N&eacute;stor:</b></i> Ingeniero industrial por la Universidad Nacional del Sur (UNS), Argentina. M&aacute;ster en estad&iacute;stica matem&aacute;tica y experto en econom&iacute;a industrial. Es docente investigador categorizado por el Sistema Nacional y profesor titular del Departamento de Ingenier&iacute;a, UNS, en las asignaturas modelizaci&oacute;n y m&eacute;todos de la ingenier&iacute;a industrial y gesti&oacute;n de calidad. Dirige proyectos de investigaci&oacute;n en temas de calidad y planificaci&oacute;n, as&iacute; como control de la producci&oacute;n en la UNS. Dirigi&oacute; tesis de magister y doctorado, ha impartido cursos de postgrado y ha publicado numerosos trabajos en revistas y anales de congresos nacionales e internacionales. Fue director decano del departamento de ingenier&iacute;a, UNS, en 4 oportunidades y secretario de investigaci&oacute;n del mismo departamento.</font></p>      ]]></body><back>
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<surname><![CDATA[Alemi]]></surname>
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