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<journal-title><![CDATA[Ingeniería, investigación y tecnología]]></journal-title>
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<article-title xml:lang="es"><![CDATA[La tendencia del factor de cresta ayuda a detectar eventos nacientes; circuito electrónico, programas y aplicaciones a señales de diversos campos]]></article-title>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[The Tendency of the Crest Factor Helps Detect Nascent Events; Electronic Circuit, Software and Applications to Signals from Diverse Fields]]></article-title>
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<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[Within the signal analysis techniques in the time domain, the crest factor (CF) is undoubtedly one of the most simple and fast to implement using electronic circuits and/or software. That's why it has been used reliably to care for machinery and to evaluate the quality of supply. One of the major manufacturers of instruments for these purposes is Bruel and Kjaer and defines the crest factor of voltage or repetitive current signal as the ratio of the peak level and its rms value during a certain period of time. In this paper, we try to find out experimentally the potential of CF and their tendency to detect the nascent and evolution of events in various fields of knowledge, either by generating it with a developed electronic circuit, or with calculations, through routines that are performed with the programs DADISP and LabVlEW. The results are validated and checked for all the above factors and trends through a comparison between them and the proposed features and specifications. The results were acceptable so that the tools were applied to detect early faults in electrical machines, to identify chaosity differences between the circuits with these dynamics, to detect abnormal respiratory distress or rales in patients and to detect harmful distortions in the electrical current, all this based on simulations and measurements for each of the 4 cases studied. Other CF original applications proposed are: a) control of chaos in electronic circuits that stir/ mix industrial processes and b) correct the power factor of non-linear and inductive loads. A medium-term study and use a CF that considers the maximum signal peak to peak is contemplated, and it is thought that it can improve event detection.]]></p></abstract>
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</front><body><![CDATA[ <p align="center"><font face="verdana" size="4"><b>La tendencia del factor de cresta ayuda a detectar eventos nacientes; circuito electr&oacute;nico, programas y aplicaciones a se&ntilde;ales de diversos campos</b></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="3"><b>The Tendency of the Crest Factor Helps Detect Nascent Events; Electronic Circuit, Software and Applications to Signals from Diverse Fields</b></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><b>N&uacute;&ntilde;ez&#45;P&eacute;rez Ricardo Francisco</b></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>Electr&oacute;nica y Telecomunicaciones Centro de Investigaci&oacute;n Cient&iacute;fica y de Educaci&oacute;n Superior de Ensenada, CICESE.</i> Correo: <a href="mailto:rnunez@cicese.mx">rnunez@cicese.mx</a>.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Recibido: abril de 2012,    <br>     Aceptado: marzo de 2013</font></p>              ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Resumen</b></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Dentro de las t&eacute;cnicas de an&aacute;lisis de se&ntilde;ales en el dominio del tiempo, el <i>factor de cresta</i> (FC) es sin duda una de las m&aacute;s simples y r&aacute;pidas de implementar por medio de circuitos electr&oacute;nicos o programas de c&oacute;mputo. Es por eso que se han utilizado confiablemente para cuidar maquinaria y evaluar la calidad de la alimentaci&oacute;n el&eacute;ctrica. Uno de los fabricantes importantes de instrumentos para estos fines es Bruel y Kjaer y define al factor de cresta de una se&ntilde;al de voltaje o corriente repetitiva como el cociente entre el nivel del pico m&aacute;ximo y su valor eficaz durante un tiempo determinado. En este trabajo, se trata de averiguar experimentalmente el potencial del FC y de su tendencia para detectar el nacimiento y evoluci&oacute;n de eventos en varios campos del conocimiento; ya sea gener&aacute;ndolo por medio de un circuito electr&oacute;nico que se desarrolla o calcul&aacute;ndolo por medio de rutinas que se realizan con los programas DADISP y LabVIEW. Se validan y corroboran los resultados de todos los factores mencionados y de sus tendencias a trav&eacute;s de un estudio comparativo entre ellos y las caracter&iacute;sticas y especificaciones planteadas. Los resultados fueron aceptables, de tal suerte que las herramientas se aplican para detectar aver&iacute;as tempranas en m&aacute;quinas el&eacute;ctricas, identifican diferencias entre la caosidad de circuitos con esas din&aacute;micas, detectan deficiencias respiratorias o estertores anormales en pacientes y detectan distorsiones perjudiciales en la corriente el&eacute;ctrica; todo esto con base en simulaciones y mediciones realizadas para cada uno de los 4 casos estudiados. Otras aplicaciones originales del FC que se proponen son: a) controlar el caos en circuitos electr&oacute;nicos que agitan/mezclan procesos industriales y b) corregir el factor de potencia de cargas no&#45;lineales e inductivas. Se contempla a mediano plazo estudiar y utilizar un FC que considere la se&ntilde;al m&aacute;xima de pico a pico; se piensa que as&iacute; podr&iacute;a mejorarse su detecci&oacute;n de eventos.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Descriptores:</b> factor de cresta, tendencia, circuitos ca&oacute;ticos, cuidado de maquinaria, distorsi&oacute;n el&eacute;ctrica.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Abstract</b></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Within the signal analysis techniques in the time domain, the crest factor (CF) is undoubtedly one of the most simple and fast to implement using electronic circuits and/or software. That's why it has been used reliably to care for machinery and to evaluate the quality of supply. One of the major manufacturers of instruments for these purposes is Bruel and Kjaer and defines the crest factor of voltage or repetitive current signal as the ratio of the peak level and its rms value during a certain period of time. In this paper, we try to find out experimentally the potential of CF and their tendency to detect the nascent and evolution of events in various fields of knowledge, either by generating it with a developed electronic circuit, or with calculations, through routines that are performed with the programs DADISP and LabVlEW. The results are validated and checked for all the above factors and trends through a comparison between them and the proposed features and specifications. The results were acceptable so that the tools were applied to detect early faults in electrical machines, to identify chaosity differences between the circuits with these dynamics, to detect abnormal respiratory distress or rales in patients and to detect harmful distortions in the electrical current, all this based on simulations and measurements for each of the 4 cases studied. Other CF original applications proposed are: a) control of chaos in electronic circuits that stir/ mix industrial processes and b) correct the power factor of non&#45;linear and inductive loads. A medium&#45;term study and use a CF that considers the maximum signal peak to peak is contemplated, and it is thought that it can improve event detection.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Keywords:</b> crest factor, trend, chaotic circuits, care of machinery, electrical distortion.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Introducci&oacute;n</b></font></p>              ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">Dentro de las t&eacute;cnicas de an&aacute;lisis de se&ntilde;ales en el dominio del tiempo, el factor de cresta FC (Fink y Beaty, 1990; Bruel y Kjaer, 1989a y b) es sin duda una de las m&aacute;s simples y r&aacute;pidas de implementar por medio de circuitos electr&oacute;nicos o programas de c&oacute;mputo. Prueba de ello, es que se han utilizado confiablemente en programas para el cuidado de maquinaria, &#45;ya que miden la vibraci&oacute;n mec&aacute;nica y otras variables&#45; y para evaluar la calidad de la alimentaci&oacute;n el&eacute;ctrica &#45;basados en la distorsi&oacute;n de la corriente en la carga (Fluke, 1990; C&aacute;ceres, 2008)&#45; implantados por compa&ntilde;&iacute;as que desarrollan e integran instrumentos y equipos para esta labor (Bruel y Kjaer, 1989a y b; CSI, 1988), todo esto desde hace ya varios a&ntilde;os. En particular, se ha visto que este factor resulta apropiado para la detecci&oacute;n temprana del deterioro en rodamientos, rotores y cajas de engranes (Bruel y Kjaer, 1989b; N&uacute;&ntilde;ez, 1987; F&eacute;lix, 1992). Esto se debe a que las se&ntilde;ales en juego son una mezcla de peri&oacute;dicas, pulsantes peri&oacute;dicas, aperi&oacute;dicas, entre otras. Por ello, cuando las sintom&aacute;ticas pulsantes se incrementan distorsionan a&uacute;n m&aacute;s a las peri&oacute;dicas y por lo tanto el FC del conjunto crece, y cuando la magnitud de la frecuencia fundamental aumenta, con respecto al resto de las se&ntilde;ales, el factor mencionado disminuye; estas variaciones en el factor mencionado revisten un potencial interesante de aplicaci&oacute;n. Aunque en ese sentido, se conocen contadas aplicaciones de este factor en otros campos del conocimiento, por lo que en este trabajo se propone utilizarlo en el de los circuitos con din&aacute;mica ca&oacute;tica y en el de la biomedicina del sistema respiratorio, como se se&ntilde;alar&aacute; m&aacute;s adelante.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Uno de los fabricantes m&aacute;s importantes en estos instrumentos para el cuidado de maquinaria, Bruel y Kjaer (1985), define el factor de cresta de una se&ntilde;al de voltaje o corriente repetitiva como el cociente entre el nivel del pico m&aacute;ximo y su valor eficaz durante un tiempo predeterminado (Fink y Beaty, 1990; Lancaster, 1998; C&aacute;ceres, 2008). Como se ve, el factor es adimensional y se acostumbra graficar su tendencia; si aumenta o disminuye y con qu&eacute; tasa lo hace, &eacute;sta es la mejor manera de saber que algo imprevisto est&aacute; sucediendo con las se&ntilde;ales. Esta acci&oacute;n facilita la identificaci&oacute;n temprana de alg&uacute;n s&iacute;ntoma e indica cu&aacute;ndo es necesario utilizar instrumentos de diagn&oacute;stico m&aacute;s sofisticados, como los del dominio de la frecuencia. Algunas veces es conveniente tomar las medidas apropiadas, ya que el factor puede alterarse debido a la incorporaci&oacute;n de ruido el&eacute;ctrico en la se&ntilde;al de informaci&oacute;n.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En este trabajo, se trata de comprobar experimentalmente el potencial del FC y de su tendencia en la detecci&oacute;n de eventos nacientes tanto por medio de un circuito electr&oacute;nico sencillo que lo genera, como por los programas DADISP y LabVIEW, que lo calculan para validar resultados y poder aplicar confiablemente ambos procedimientos en la detecci&oacute;n temprana de rodamientos da&ntilde;ados y rotores desbalanceados (Bruel y Kjaer, 1989a) y de distorsi&oacute;n en la corriente de la red el&eacute;ctrica (C&aacute;ceres, 2008; Fink y Beaty, 1990; Early <i>et al.,</i> 1989) en los campos del mantenimiento de maquinaria industrial y del consumo el&eacute;ctrico eficiente, respectivamente. As&iacute; como tambi&eacute;n, con base en la experiencia adquirida, aplicar los mismos procedimientos en los campos de la medici&oacute;n de la din&aacute;mica de los circuitos ca&oacute;ticos (N&uacute;&ntilde;ez, 2008) con fines de aplicaci&oacute;n industrial y en la detecci&oacute;n de s&iacute;ntomas tempranos de deficiencias respiratorias comunes (Charbonneau <i>et al.,</i> 2000; D&iacute;az, 2008; Quezada, 2011) para un posible moni&#45;toreo permanente de pacientes.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la siguiente secci&oacute;n de explicaci&oacute;n del FC, se define y describe el FC. Se presenta un circuito electr&oacute;nico (Coughlin y Driscoll, 1982; Counts <i>et al.,</i> 1982; National Semiconductor, 1984; Kitchin y Counts, 1983; Stout y Kaufman, 1973; Analog Devices, 1983, 1985) para obtenerlo y se describe el c&aacute;lculo de este factor por medio de los programas DADISP (2002) y LabVIEW (National Instruments, 2002); se validan y corroboran los resultados de los factores mediante un estudio comparativo. En la secci&oacute;n aplicaciones se propone la aplicaci&oacute;n de los procedimientos validados para obtener y calcular el FC y su tendencia de diversas se&ntilde;ales para detectar: el nacimiento de aver&iacute;as mec&aacute;nicas, el grado de caosidad en circuitos ca&oacute;ticos, la detecci&oacute;n de deficiencias b&aacute;sicas o estertores del sistema respiratorio y el grado de distorsi&oacute;n de la corriente el&eacute;ctrica impuesta por cargas no&#45;lineales. En la secci&oacute;n de an&aacute;lisis se examinan y reportan los resultados m&aacute;s relevantes, se plantean las recomendaciones para la aplicaci&oacute;n eficiente y novedosa de este procedimiento de an&aacute;lisis temporal de se&ntilde;ales en el control de caos, el monitoreo continuo y en tiempo real de deficiencias respiratorias, la correcci&oacute;n del factor de potencia, entre otras.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En las conclusiones se menciona que el FC y su tendencia es un procedimiento confiable que cumple con las caracter&iacute;sticas y especificaciones planteadas y facilita la decisi&oacute;n de pasar a un an&aacute;lisis y diagn&oacute;stico con equipo m&aacute;s especializado. Se plantea estudiar el factor mencionado considerando ahora la diferencia entre los picos m&aacute;ximo positivo y negativo, adem&aacute;s de buscar aplicaciones en otros campos del conocimiento. Finalmente se presentan los agradecimientos y las referencias.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>El factor de cresta; circuito electr&oacute;nico, programas y validaci&oacute;n</b></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Bruel y Kjaer (1989a y b, 1985) definen el factor de cresta, FC, de una se&ntilde;al de voltaje o corriente repetitiva como el cociente entre el nivel del pico m&aacute;ximo y su valor eficaz durante un tiempo predeterminado (definici&oacute;n 1) (Fink y Beaty, 1990; Lancaster, 1998; C&aacute;ceres, 2008). Para mostrar lo anterior, en la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f1.jpg" target="_blank">figura 1</a> se presenta una se&ntilde;al ca&oacute;tica de voltaje, de la cual se observan sus caracter&iacute;sticas b&aacute;sicas: nivel del pico m&aacute;ximo positivo y negativo, el valor eficaz calculado para el tiempo de evaluaci&oacute;n, as&iacute; como su media. La se&ntilde;al mencionada proviene del circuito de Lorenz (Lorenz, 1963; M&aacute;rquez y &Aacute;lvarez, 1996 y N&uacute;&ntilde;ez, 2006) y fue adquirida y posanalizada con el programa DADISP (2002) (N&uacute;&ntilde;ez, 1998). A partir de las caracter&iacute;sticas mencionadas y utilizando la definici&oacute;n 1, se obtienen los FC correspondientes que indican la relaci&oacute;n que existen entre cada nivel de pico m&aacute;ximo y el valor eficaz. Este factor es adimensional pero para fines pr&aacute;cticos se manifiesta como un voltaje de c.d. y se estila graficar en el tiempo para poder observar su tendencia, es decir, si aumenta o disminuye y con qu&eacute; tasa lo hace indica que algo imprevisto est&aacute; sucediendo entre las se&ntilde;ales, lo que facilita el diagn&oacute;stico temprano de alg&uacute;n s&iacute;ntoma y manifiesta que s&iacute; es necesario utilizar instrumentos de diagn&oacute;stico m&aacute;s especializado, como los que se utilizan en el dominio de la frecuencia (F&eacute;lix, 1992).</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El <b>FC</b> se define como:</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v15n1/a7fo1y2.jpg"></font></p>              ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">donde:</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">t<sub>0</sub> = tiempo de evaluaci&oacute;n (segundos)</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>T</i> = periodo de evaluaci&oacute;n (segundos)</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Ve<i>(t)</i> = voltaje de la se&ntilde;al de entrada en c.a. (voltios)</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Vp = voltaje del pico m&aacute;ximo de la se&ntilde;al en c.d. (voltios)</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Vef = voltaje del valor eficaz de la se&ntilde;al en c.d. (voltios)</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Aunque la obtenci&oacute;n del factor mencionado es sencilla y r&aacute;pida, en algunos casos es necesario tener cuidado, ya que puede alterarse producto del ruido el&eacute;ctrico que se incorpora a las se&ntilde;ales peri&oacute;dicas de informaci&oacute;n.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f2.jpg" target="_blank">figura 2</a> se presenta una descripci&oacute;n gr&aacute;fica del c&aacute;lculo del FC (explicado en el segundo punto de esta secci&oacute;n) de tres se&ntilde;ales ideales generadas y analizadas con el programa DADISP (2002). Las se&ntilde;ales son: cosenoidal (W1: gcos (100,1/100,10)), cuadrada (W5: gs&#45;qwave (100,1/100,10)), cosenoidal rectificada de media onda (W7) y sus FC obtenidos son: 1.4142 (W2), 1.0000 (W6) y 2.0000 (W8), respectivamente. Estos resultados coinciden plenamente con lo reportado en la bibliograf&iacute;a (Beckman Industrial, 1984). En las ventanas W3 y W4, se describe la evoluci&oacute;n del voltaje de valor eficaz Vef de la cosenoidal y el traslape de &eacute;ste (gr&aacute;fica inferior) con la propia se&ntilde;al cosenoidal y con la evoluci&oacute;n del FC (gr&aacute;fica superior), respectivamente. Todas las se&ntilde;ales generadas son de 1 voltio de pico, de 10 Hz, con una trama de 100 muestras y muestreadas a 100 Hz. Una se&ntilde;al cosenoidal ideal que se deforma presenta un FC mayor a 1.4142, dependiendo del grado de distorsi&oacute;n impuesto.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Obtenci&oacute;n del FC por medio del circuito electr&oacute;nico CFC</font></p>              ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">El circuito que obtiene el FC, llamado <b>CFC,</b> realiza las operaciones anal&oacute;gicas mostradas en el diagrama a cuadros de la <a href="#f3">figura 3</a> para generar la ecuaci&oacute;n (1).</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f3"></a></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v15n1/a7f3.jpg"></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El CFC es sencillo, contiene tres etapas con operadores anal&oacute;gicos que se combinan para generar el nivel de voltaje de salida Vs representante del factor mencionado (1). Con fines de prueba, la se&ntilde;al de voltaje de entrada Ve<i>(t)</i> proviene de un generador de funciones Agilent 33120A (Agilent Technologies, 2000) y se trabaja en paralelo por los operadores respectivos para obtener el Vef y el nivel de voltaje de pico m&aacute;ximo positivo Vp al mismo tiempo y que, el operador divisor, haga lo propio para generar el voltaje de salida Vs. Los circuitos se dise&ntilde;an siguiendo los criterios propuestos por Kitchin y Counts (1983); Stout y Kaufman (1976); Coughlin y Driscoll (1982) y Analog Devices (1985).</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Las caracter&iacute;sticas y especificaciones b&aacute;sicas que debe cumplir el CFC son:</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">a) alcance del Ve<i>(t):</i> de 50 mVp a 3 Vp</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">b) alcance de frecuencia del Ve<i>(t):</i> de 10 Hz a 1 KHz</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">c) alcance del FC (Vs): de 1 a 10 (voltios)</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">d) error en linealidad menor a 2% de la escala completa.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f4.jpg" target="_blank">figura 4</a>, se presenta el circuito que convierte el Ve(<i>t</i>) en uno de valor eficaz verdadero Vef. Para ello, utiliza el operador anal&oacute;gico AD536A&#45;JH de Analog Devices (1982, 1983) y se dise&ntilde;a e implementa atendiendo las caracter&iacute;sticas y especificaciones propuestas, siguiendo las recomendaciones del fabricante (Analog Devices, 1983) y de otros (Counts <i>et al.,</i> 1982; Kitchin y Counts, 1983 y N&uacute;&ntilde;ez, 1990). Se seleccionan los componentes cuyos valores produzcan un error menor a 1%, de la escala completa, y que el tiempo m&aacute;ximo de estabilizaci&oacute;n del circuito convertidor sea menor a 0.7 segundos, para ello se emplean las <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f1.jpg" target="_blank">figuras 1</a> y <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f2.jpg" target="_blank">2</a> de Counts <i>et al.</i> (1982).</font></p>              ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">La funci&oacute;n del convertidor a Vef es (Fink y Beaty, 1990):</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v15n1/a7fo3.jpg"></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">donde:</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>T</i> = periodo de evaluaci&oacute;n (segundos)</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Ve<i>(t)</i> = voltaje de la se&ntilde;al de entrada (voltios)</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Vef (c.d.) = voltaje eficaz (voltios).</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f5.jpg" target="_blank">figura 5</a> se presenta el circuito detector/retenedor del nivel de pico m&aacute;ximo del Ve<i>(t)</i> construido con el amplificador operacional de entradas JFET LF347N de National Semiconductor (1984). Se dise&ntilde;a e implementa para obtener continuamente el nivel del pico m&aacute;ximo positivo (Stout y Kaufman, 1976; Coughlin y Driscoll, 1982) y se incorporan los circuitos para desacoplar la entrada (amplificador U2D/12) y reforzar la salida. En particular, en &eacute;sta &uacute;ltima, se coloca un atenuador por 10 (amplificador U2A/1) necesario para acoplar al circuito divisor cuya funci&oacute;n transferente as&iacute; lo requiere (por ejemplo, Vs = 10*Vp/Vef).</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Los componentes que lo integran se eligen considerando las caracter&iacute;sticas y especificaciones de dise&ntilde;o propuesto. Este circuito es una combinaci&oacute;n de un rectificador de onda completa de precisi&oacute;n con un amplificador&#45;integrador de seguimiento y retenci&oacute;n (Stout y Kaufman, 1976).</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El circuito que se implementa para obtener el cociente entre el nivel del pico m&aacute;ximo y el valor eficaz del Ve(t) se presenta en la <a href="#f6">figura 6</a>. Se basa en el operador anal&oacute;gico multiplicador/divisor AD734AN de Analog Devices (1985) y se dise&ntilde;a e implementa para tal operaci&oacute;n; los componentes que lo acompa&ntilde;an se eligen para que atienda las caracter&iacute;sticas y especificaciones mencionadas. El voltaje de salida correspondiente al FC est&aacute; dado por:</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v15n1/a7fo4.jpg"></font></p>              ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">donde W, Y2, Z2 y X1 son terminales del operador mencionado.</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f6"></a></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v15n1/a7f6.jpg"></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la <a href="#f7">figura 7</a>, se muestra una fotograf&iacute;a del circuito completo en pruebas de validaci&oacute;n.</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f7"></a></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v15n1/a7f7.jpg"></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">C&aacute;lculo del FC utilizando los programas DADISP y LabVIEW</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>Versi&oacute;n DADISP en modo postan&aacute;lisis</i></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El programa DADISP calcula el factor mencionado por medio de la ecuaci&oacute;n (5), como se indica en las ventanas W2 y W3, y en W8 y W9 de la hoja de trabajo de este programa que se presenta en la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f8.jpg" target="_blank">figura 8</a>, para las se&ntilde;ales medidas senoidal y cuadrada, respectivamente. En las ventanas W4 y W6, se muestra la evoluci&oacute;n del voltaje de valor eficaz Vef (gr&aacute;fica creciente) y el traslape de &eacute;ste con la propia se&ntilde;al y con la evoluci&oacute;n del FC (gr&aacute;fica decreciente) para cada una de las se&ntilde;ales estudiadas.</font></p>              ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><font face="verdana" size="2">FC (senoidal) = max(W1)/sqrt(partsum(W1*W1)) (5)</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Como ya se coment&oacute;, se trabaja con se&ntilde;ales producidas por el generador de funciones Agilent 33120A (Agilent Technologies, 2000), adquiridas con el sistema autom&aacute;tico de prueba LabVIEW y postanalizadas con el programa DADISP (N&uacute;&ntilde;ez, 1998). En las columnas 4 y 5, de la <a href="#t1">tabla 1</a>, se presentan los FC calculados directamente (es decir, por el cociente entre las columnas 2 y 3) y por el programa DADISP para cada una de las se&ntilde;ales (compare con los resultados de las ideales en las ventanas W2 y W6 de la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f2.jpg" target="_blank">figura 2</a>).</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="t1" id="t1"></a></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v15n1/a7t1.jpg"></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>         <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>Versi&oacute;n LabVIEW en tiempo real</i></font></p>         <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Una de las principales ventajas que presenta el programa LabVIEW (National Instruments, 2007) es poder medir, operar y desplegar las se&ntilde;ales o niveles de voltaje en tiempo real. Esto lo hace ideal para observar la tendencia del factor mencionado y sobre todo sus variaciones. En los incisos a) y b) de la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f9.jpg" target="_blank">figura 9</a>, se presenta el programa y la se&ntilde;al en pantalla e indicadores num&eacute;ricos que despliegan continuamente el valor del factor obtenido para el caso de la se&ntilde;al senoidal (compare con la se&ntilde;al ideal y su resultado mostrado en las ventanas W1 y W2 de la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f2.jpg" target="_blank">figura 2</a>, respectivamente). Dado que &eacute;sta no est&aacute; distorsionada su FC es 1.4142.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>         <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Validaci&oacute;n del FC obtenido por el CFC y calculado por los programas mencionados</font></p>         <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se realiza una comparaci&oacute;n entre el FC obtenido por el CFC y los calculados por los programas LabVIEW (en tiempo real) y DADISP (en posan&aacute;lisis).</font></p>              ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f10.jpg" target="_blank">figura 10</a>, en la pantalla: FC y se&ntilde;al, presentan la se&ntilde;al del Ve<i>(t)</i> operada (abajo) y su FC generado por el CFC (arriba). El valor instant&aacute;neo de este mismo factor se presenta en la car&aacute;tula e indicador num&eacute;rico: FC medido (derecha), y su tendencia se despliega en la pantalla: hist&oacute;ricos FC y l&iacute;mites (derecha abajo). En los indicadores restantes, identificados con FC pico positivo y negativo, se presentan los valores instant&aacute;neos calculados del Ve<i>(t)</i> por el programa LabVIEW. Para esta prueba, se escoge como Ve(t) una se&ntilde;al modulada en amplitud de 210 Hz; en la pantalla de espectros se observa la fundamental y sus arm&oacute;nicas 110 y 310 Hz (horizontal: fm/2 canales = 2 Khz/2 = 1 Khz a escala completa, donde: fm = frecuencia de muestreo).</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En las ventanas W1 y W3 de la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f11.jpg" target="_blank">figura 11</a> se presenta la misma se&ntilde;al de prueba Ve(t) y su FC calculado por el programa DADISP, respectivamente. Se observa en la ventana W2 c&oacute;mo evoluciona el Vef de la se&ntilde;al Ve<i>(t)</i> en funci&oacute;n del n&uacute;mero de muestras en el tiempo (por ejemplo, durante la trama de 200 muestras y 200 m/s de duraci&oacute;n). En la <a href="#t2">tabla 2</a> se presentan los resultados de los factores obtenidos por los tres procedimientos.</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="t2"></a></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v15n1/a7t2.jpg"></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Aplicaci&oacute;n del FC y su tendencia para monitorear se&ntilde;ales y detectar el nacimiento de eventos</b></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Al validar y calibrar el productor (CFC) y los calculadores (programas) confiables del FC y su tendencia, se procedi&oacute; a aplicarlos a 4 tipos de se&ntilde;ales de campos diferentes. La selecci&oacute;n de se&ntilde;ales por estudiar se realiza en base a los diferentes circuitos e instrumentos desarrollados en el transcurso del tiempo en el Departamento de Electr&oacute;nica. Las se&ntilde;ales consideradas corresponden a se&ntilde;ales de vibraci&oacute;n mec&aacute;nica, de circuitos ca&oacute;ticos, del sistema respiratorio y de calidad de la corriente de la red el&eacute;ctrica.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>         <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se&ntilde;ales de vibraci&oacute;n mec&aacute;nica para diagnosticar rodamientos y rotores averiados por medio del FC</font></p>         <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En vibraci&oacute;n mec&aacute;nica (N&uacute;&ntilde;ez, 1987; F&eacute;lix, 1992; CSI, 1988), la tendencia del FC indica el grado de distorsi&oacute;n que sufre la se&ntilde;al sintom&aacute;tica producto del nacimiento y desarrollo de alguna aver&iacute;a en el transcurso del tiempo. Esta &uacute;ltima puede manifestarse como una se&ntilde;al impulsional anormal que proviene de rodamientos con pistas rayadas, rotores desbalanceados o sueltos, reductores de velocidad con juego mec&aacute;nico y todo aquello que produzca impacto, golpeteo, roce o rayadura, etc&eacute;tera.</font></p>              ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">Para ilustrar lo anterior, se propone la comparaci&oacute;n de una se&ntilde;al que simula una condici&oacute;n normal de operaci&oacute;n con dos que simulan s&iacute;ntomas t&iacute;picos de aver&iacute;as en rodamientos y en rotores; seg&uacute;n estudios realizados por Bruel y Kjaer (1989a y b).</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En las ventanas W4 y W6 de la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f12.jpg" target="_blank">figura 12</a>, se presenta una se&ntilde;al de vibraci&oacute;n t&iacute;pica de una chumacera del motor y su FC de 2.405809, respectivamente, en condiciones normales de operaci&oacute;n. Mientras que en las ventanas W1 y W3, se muestra la misma se&ntilde;al pero ahora representa s&iacute;ntomas de rodamiento da&ntilde;ado en la chumacera del motor y con un FC de 3.976277, respectivamente. En el mismo sentido, en las ventanas W7 y W9 se presenta la misma se&ntilde;al, pero ahora corresponden a un s&iacute;ntoma de rotor del motor desbalanceado y con un FC de 1.83337, respectivamente. Como puede observarse, el FC de la se&ntilde;al de la chumacera de la m&aacute;quina, operando normalmente, es 2.40589 y sufre una tendencia creciente o decreciente dependiendo del s&iacute;ntoma de rodamientos averiados o de rotor desbalanceado. Toda la generaci&oacute;n y an&aacute;lisis se realiza utilizando el programa DADISP (2002).</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Por otro lado, en la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f13.jpg" target="_blank">figura 13</a> se presentan los resultados del c&aacute;lculo y despliegue en tiempo real del FC realizados por el programa LabVIEW. Para ello, se utiliza la pantalla: se&ntilde;al+ruido (centro), en la cual se muestra la se&ntilde;al de desbalance del rotor del motor (compare con la de la ventana W7 en la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f12.jpg" target="_blank">figura 12</a>) y los indicadores num&eacute;ricos (parte baja), en los que se presenta el FC (compare con el de la ventana W9 en la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f12.jpg" target="_blank">figura 12</a>). De la misma manera, en la pantalla: se&ntilde;al recuperada (derecha), se presenta la se&ntilde;al de rodamientos averiados (compare con la de la ventana W1 en la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f12.jpg" target="_blank">figura 12</a>) y su FC (compare con el de la ventana W3 en la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f12.jpg" target="_blank">figura 12</a>) en los indicadores num&eacute;ricos (arriba). La tendencia de ambos factores, obtenida por los dos programas utilizados, coincide con la esperada y publicada en la bibliograf&iacute;a especializada sobre el tema (Bruel y Kjaer, 1989a).</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>         <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se&ntilde;al ca&oacute;tica proveniente del circuito de Chua y su caotizaci&oacute;n por medio del FC</font></p>         <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Para este estudio se considera la se&ntilde;al ca&oacute;tica V*1 proveniente del circuito de Chua (N&uacute;&ntilde;ez, 2008). Al variarse uno de los par&aacute;metros del circuito, en particular el representado por el resistor R8 (por ejemplo, se var&iacute;a alrededor de los 1600 ohmios para mantener el comportamiento ca&oacute;tico) del diagrama el&eacute;ctrico de la <a href="#f14">figura 14</a>, la din&aacute;mica ca&oacute;tica o caotizaci&oacute;n tambi&eacute;n var&iacute;a y por ende el factor mencionado.</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f14"></a></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v15n1/a7f14.jpg"></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f15.jpg" target="_blank">figura 15</a>, se utiliza el programa DADISP para adquirir y posanalizar las din&aacute;micas ca&oacute;ticas de las se&ntilde;ales presentadas en las ventanas W1, W4 y W7 que corresponden a los valores del par&aacute;metro R8 de 1670 ohmios, de 1550 ohmios y de 1620 ohmios, respectivamente, y para las cuales se calculan sus FC que aparecen en las ventanas W3, W6 y W9 y cuyos valores son: 1.236663, 1.190571 y 1.231197, respectivamente. Observando la din&aacute;mica ca&oacute;tica de las se&ntilde;ales generadas con diferentes par&aacute;metros y sus FC obtenidos, se puede deducir que: a mayor din&aacute;mica ca&oacute;tica, o caosidad (N&uacute;&ntilde;ez, 2009), corresponde una mayor distorsi&oacute;n y por ende la tendencia del FC tambi&eacute;n aumenta.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>         ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se&ntilde;ales biom&eacute;dicas representando deficiencias respiratorias comunes detectadas por el FC</font></p>         <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Dadas las caracter&iacute;sticas funcionales del factor mencionado y de su tendencia, se propone que puede utilizarse en el monitoreo (es decir, en la auscultaci&oacute;n continua) de se&ntilde;ales respiratorias con la finalidad de identificar s&iacute;ntomas de deficiencias nacientes o estertores comunes (Charbonneau <i>et al,</i> 2000; D&iacute;az, 2008; Quezada, 2011). En la <a href="#f16">figura 16</a>, se presenta el diagrama funcional del IAPSER: instrumento para la adquisici&oacute;n y preprocesamiento de se&ntilde;ales respiratorias desarrollado por Quezada (2011) con el cual se adquirieron las se&ntilde;ales respiratorias de un adulto sano mostradas en la <a href="#f17">figura 17</a> y que corresponden a tres ciclos respiratorios durante 10 segundos.</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f16"></a></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v15n1/a7f16.jpg"></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f17"></a></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v15n1/a7f17.jpg"></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En las ventanas W1 y W7 de la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f18.jpg" target="_blank">figura 18</a>, se presenta la se&ntilde;al respiratoria del adulto sano mencionado y otra de uno con deficiencias nacientes o estertores (como tos fuerte), respectivamente. Se calculan ambos FC con los niveles m&aacute;ximos que, para este caso, corresponden a los pulsos negativos. Se comparan y se observa una diferencia producto de la magnitud del estertor del adulto tosiendo.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Los resultados indican que para el adulto sano se tiene un valor del factor de &#45;3.251153 y para el adulto tosiendo de &#45;5.145114. En vista de esto, la tendencia del FC para un adulto sano debe mantenerse con valores igual o menores al &#45;3.3, mientras que valores mayores indican el nacimiento y desarrollo de estertores u otras deficiencias importantes.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>         <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Evaluaci&oacute;n de la distorsi&oacute;n de la corriente ante cargas no&#45;lineales utilizando el FC</font></p>         ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">El perfil de la forma de onda de corriente nos indica la calidad de la potencia consumida por una carga en general, cuando &eacute;sta es no&#45;lineal el perfil se distorsiona (C&aacute;ceres, 2008; Fink y Beaty, 1990; Early <i>et al,</i> 1989), lo que acarrea que al medir la corriente con un instrumento com&uacute;n, esta medici&oacute;n no sea verdadera y por ello se necesita utilizar alg&uacute;n analizador de par&aacute;metros el&eacute;ctricos (como el Fluke 41B), con todo lo que esto implica. La deformaci&oacute;n del perfil mencionado la provocan generalmente componentes no&#45;lineales e inductivos como: balastras electr&oacute;nicas, controladores (con tiristores) de motores de c.a., fuentes conmutadas, entre otros. Como ya se sabe de Fluke (1990), entre m&aacute;s se distorsione la corriente en la carga resulta m&aacute;s grande su FC como se muestra en las <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f21.jpg" target="_blank">figuras 21</a> y <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f22.jpg" target="_blank">22</a>. A final de cuentas este factor se puede interpretar como el grado de distorsi&oacute;n que sufre la corriente e indica la necesidad de hacer algo para compensarla. Por ejemplo, corregir el factor de potencia por medio de capacitores o incorporando resistores en paralelo con la carga para disminuir la distorsi&oacute;n inductiva, entre otras acciones. Estas correcciones redundar&iacute;an en dar m&aacute;s confiabilidad a ciertos equipos, por ejemplo: las balastras electr&oacute;nicas de l&aacute;mparas ahorradoras de energ&iacute;a que presentan FC grandes (C&aacute;ceres, 2008) e incorporan muchas arm&oacute;nicas a la l&iacute;nea de alimentaci&oacute;n que se conducen y radian campos magn&eacute;ticos que pueden interferir circuitos y equipos electr&oacute;nicos sensibles (Ott, 1998); tambi&eacute;n estas arm&oacute;nicas pueden sobrecalentar secundarios de transformadores, estatores de motores, etc&eacute;tera.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Como ya se dijo, el factor mencionado indica el grado de distorsi&oacute;n de la forma de onda de corriente; cuanto m&aacute;s distorsionada est&eacute;, mayor ser&aacute; el valor de este factor. Normalmente un valor de 3 es m&aacute;s que suficiente para lograr mediciones aceptables en el sector el&eacute;ctrico (Fluke, 1990; Early <i>et al.,</i> 1989), esto siempre y cuando se considere un ancho de banda de 1 Khz.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Para el estudio en particular, las mediciones de corriente se realizan con un instrumento desarrollado, llamado: "Watthor&iacute;metro K0" (N&uacute;&ntilde;ez, 2010), el cual mide la potencia instant&aacute;nea y la energ&iacute;a utilizando s&oacute;lo un transformador toroidal de corriente.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El medidor mencionado est&aacute; constituido por un transformador toroidal de corriente, un amplificador diferencial y un convertidor de valor eficaz verdadero (Kitchin y Counts, 1983; Analog Devices, 1983). En la <a href="#f19">figura 19</a>, se muestra a cuadros la secci&oacute;n mencionada y en la <a href="#f20">figura 20</a>, la maqueta de este instrumento en operaci&oacute;n. Como puede apreciarse en la fotograf&iacute;a de la <a href="#f20">figura 20</a>, el circuito incorpora algunos contadores/ visualizadores para medir y desplegar el valor de la potencia instant&aacute;nea y de la energ&iacute;a; si la carga es pasiva la medici&oacute;n es bastante precisa, pero si se hace reactiva, la carga se pierde. Por lo tanto, si se conoce el FC, se puede saber qu&eacute; esperar de la se&ntilde;al medida; si viene distorsionada y registra un FC de 3 o menos es posible medirla aceptablemente con un amper&iacute;metro com&uacute;n pero si es mayor se debe utilizar un medidor de distorsi&oacute;n arm&oacute;nica total.</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f19"></a></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v15n1/a7f19.jpg"></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f20"></a></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v15n1/a7f20.jpg"></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f21.jpg" target="_blank">figura 21</a>, se presentan las se&ntilde;ales de corriente alterna instant&aacute;nea en la carga y su correspondiente FC, para tres tipos de carga: a) pasiva de 25 Watts (W1), b) pasiva 60 Watts e inductiva de 13 Watts (W4) y c) pasiva 25 Watts e inductiva de 23 Watts (W7) para 120 Vca, y sus FC son: 1.265380, 1.517507 y 3.109304, respectivamente.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se observa que la m&aacute;s distorsionada es la c), ya que presenta el FC mayor y resulta ser la combinaci&oacute;n m&aacute;s inductiva. Las mediciones y el posan&aacute;lisis se realizan con el programa DADISP (2002).</font></p>              ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">Por otro lado, en la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f22.jpg" target="_blank">figura 22</a> se presentan los resultados del c&aacute;lculo y despliegue en tiempo real del FC con el programa LabVIEW. Para ello, se utiliza la pantalla: FC y se&ntilde;al (centro), en la cual se muestra la se&ntilde;al de corriente producida por una carga resistiva de 25 Watts y una l&aacute;mpara ahorradora de 13 Watts (compare esta se&ntilde;al con la de la ventana W4 de la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f21.jpg" target="_blank">figura 21</a>) y los indicadores num&eacute;ricos (parte baja), en los cuales se presenta el FC (compare con el de la ventana W6 de la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f21.jpg" target="_blank">figura 21</a>) y en la car&aacute;tula: FC medido, se presenta el valor instant&aacute;neo medido del CFC y se grafica su tendencia en la pantalla: hist&oacute;ricos FC y l&iacute;mites.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>An&aacute;lisis de resultados y recomendaciones generales</b></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">An&aacute;lisis de resultados de la secci&oacute;n de definici&oacute;n del FC</font></p>              <blockquote>             <p align="justify"><font face="verdana" size="2">1. Los resultados de la evaluaci&oacute;n del CFC implementado son prometedores, ya que al comparar sus mediciones con los valores esperados de linealidad las diferencias fueron menores a 2%, respecto a la escala completa, esto es, (Vsideal&#45;Vsmedido)/Vsideal* 100% (Wolf, 1973, ANSI/ISA, 1979). La obtenci&oacute;n del voltaje del FC cumpli&oacute; con las caracter&iacute;sticas y especificaciones propuestas para los alcances del Ve<i>(t)</i> de: a) voltaje: 50 mVp a 3 Vp y b) frecuencia: 10 Hz a 1 KHz. Tambi&eacute;n se logran una precisi&oacute;n y reproducibilidad muy aceptables, producto de aplicar algunas t&eacute;cnicas fundamentales para abatir el ruido el&eacute;ctrico (Ott, 1998), tanto en la se&ntilde;al del Ve<i>(t)</i> como en las diferentes etapas del circuito electr&oacute;nico construido.</font></p>                  <p align="justify"><font face="verdana" size="2">2. La comparaci&oacute;n de los FC de se&ntilde;ales medidas de referencia, calculados por el programa DADISP de la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f8.jpg" target="_blank">figura 8</a> y reportados en la <a href="#t1">tabla 1</a> arrojan resultados aceptables y m&aacute;s si se comparan con los ideales de la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f2.jpg" target="_blank">figura 2</a>, se puede decir que son muy cercanos dado que los errores fueron de &#45;1.37% y &#45;0.89% para la se&ntilde;al senoidal y para la cuadrada, respectivamente. Las peque&ntilde;as diferencias se deben principalmente a un desbalance intr&iacute;nseco en los canales del sistema de adquisici&oacute;n (N&uacute;&ntilde;ez, 1998).</font></p>                  <p align="justify"><font face="verdana" size="2">3. La validaci&oacute;n realizada al factor obtenido por el CFC y al calculado por los programas DADISP y LabVIEW fue representativa y sus cuantificaciones se muestran en la <a href="#t2">tabla 2</a>. Como era de esperarse, tambi&eacute;n son muy cercanas, pese a que las mediciones se realizaron en forma asincr&oacute;nica. El circuito y el programa LabVIEW producen resultados en tiempo real, mientras que el DADISP los produce en posan&aacute;lisis, para la se&ntilde;al de prueba del Ve<i>(t)</i> modulada en amplitud de 210 Hz y 1 Vp. Se corrobora cualitativamente estos resultados con los de la tendencia del factor de la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f10.jpg" target="_blank">figura 10</a>, mostrada en las pantallas de PC y se&ntilde;al (superior) y la de hist&oacute;ricos FC y l&iacute;mites.</font></p>     </blockquote>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>         <p align="justify"><font face="verdana" size="2">An&aacute;lisis de resultados de la secci&oacute;n de aplicaciones</font></p>         ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">Habiendo validado y calibrado al productor y a los calculadores confiables del FC, se procedi&oacute; a aplicarlos a 4 tipos de se&ntilde;ales de campos diferentes: <i>detecci&oacute;n de aver&iacute;as mec&aacute;nicas, medici&oacute;n de la caosidad, detecci&oacute;n de deficiencias respiratorias</i> y <i>medici&oacute;n de la distorsi&oacute;n en la corriente el&eacute;ctrica.</i></font></p>              <blockquote>             <p align="justify"><font face="verdana" size="2">1. En el caso de detecci&oacute;n temprana de aver&iacute;as mec&aacute;nicas <i>simuladas,</i> se muestra claramente c&oacute;mo la tendencia del factor pasa de una m&aacute;quina operando normalmente con un FC de 2.405809 a una con los rodamientos averiados y un FC de 3.976277 y despu&eacute;s a otra con un rotor desbalanceado en exceso y con un FC de 1.813337. En ese sentido, la idea es que la tendencia del factor debe mantenerse dentro de los l&iacute;mites especificados por el analista y la normatividad correspondiente para el tipo de m&aacute;quina en particular, como lo indica claramente la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f13.jpg" target="_blank">figura 13</a>.</font></p>                  <p align="justify"><font face="verdana" size="2">2. En el caso de medici&oacute;n de la din&aacute;mica ca&oacute;tica o caosidad de la se&ntilde;al del circuito de Chua, se presenta la tendencia del factor mencionado, de un grado de caosidad nominal, generado por un par&aacute;metro en particular y produciendo un FC de 1.190571, a un aumento y disminuci&oacute;n del mismo conforme lo hace el par&aacute;metro. El FC o grado de caosidad pasa de 1.236663 a 1.231197 para las condiciones param&eacute;tricas mencionadas. Los resultados de los factores mencionados se obtienen de las ventanas W3, W6 y W9 de la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f15.jpg" target="_blank">figura 15</a>.</font></p>                  <p align="justify"><font face="verdana" size="2">3. En el caso de detecci&oacute;n temprana de deficiencias respiratorias comunes, se observa en la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f18.jpg" target="_blank">figura 18</a> como el FC del adulto normal es &#45;3.251153 y con estertor es &#45;5.145114, por lo que para un factor mayor que &#45;5.145114 se registran s&iacute;ntomas de estertores o disfunciones del sistema respiratorio; condici&oacute;n que debe reportarse instant&aacute;neamente al vigilante del paciente. Es conveniente recordar que, para este caso en particular, los resultados son de car&aacute;cter preliminar y b&aacute;sicamente demostrativos.</font></p>                  <p align="justify"><font face="verdana" size="2">4. En el caso de medici&oacute;n de la distorsi&oacute;n el&eacute;ctrica, utilizando la corriente medida por el Watthor&iacute;metro K0 para obtener su FC, se puede observar claramente que el grado de distorsi&oacute;n obtenido se representa por el factor mencionado como lo indican las <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f21.jpg" target="_blank">figuras 21</a> y <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f22.jpg" target="_blank">22</a>, y es producto de las cargas combinadas; la m&aacute;s inductiva registra la mayor distorsi&oacute;n, &#45;como era de esperarse&#45; y que se presenta en la ventana W7 de la <a href="/img/revistas/iit/v15n1/a7f21.jpg" target="_blank">figura 21</a>, tambi&eacute;n en la ventana W9 de la misma figura se muestra su mayor FC.</font></p>     </blockquote>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>         <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Algunas recomendaciones generales</font></p>         <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Para detectar tempranamente eventos de trascendencia en la condici&oacute;n de operaci&oacute;n, la clave es observar y analizar las variaciones de la tendencia del FC. El CFC es confiable y puede utilizarse en aplicaciones no convencionales y m&aacute;s si se redise&ntilde;a para utilizarlo con se&ntilde;ales de muy bajas frecuencias.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Otro uso del FC es como elemento de retroalimentaci&oacute;n para el control del caos en sistemas mec&aacute;nicos mediante la variaci&oacute;n de un par&aacute;metro producto de la caosidad predeterminada por el usuario.</font></p>              ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">Para mejorar la precisi&oacute;n en la medici&oacute;n de la potencia el&eacute;ctrica, el Watthor&iacute;metro K0 que utiliza un transformador de corriente para medir la corriente de cargas no&#45;lineales debe basarse en el FC para mejorar el factor de potencia. Se contempla como trabajo a mediano plazo analizar y aplicar un FC construido con el cociente de la suma de las se&ntilde;ales m&aacute;xima positiva y negativa.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Conclusiones</b></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se comprueba experimentalmente que la tendencia del factor de cresta FC permite obtener una idea de lo que est&aacute; y sigue sucediendo con una se&ntilde;al peri&oacute;dica de informaci&oacute;n durante un tiempo predeterminado, ante la presencia de se&ntilde;ales impulsivas, perturbadoras, generadas por eventos que pueden significar aver&iacute;as o deficiencias en los diferentes sistemas de los campos del conocimiento.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se desarrolla un circuito electr&oacute;nico CFC para obtener el FC y se describe el c&aacute;lculo de este factor por medio de los programas DADISP y LabVIEW; se validan y corroboran los resultados de todos los factores por medio de un estudio comparativo entre ellos (y sus tendencias) y las caracter&iacute;sticas y especificaciones planteadas. Los resultados fueron aceptables de tal suerte que se utilizan estos procedimientos para detectar aver&iacute;as (simuladas) tempranas en m&aacute;quinas el&eacute;ctricas, identificar diferencias en la caosidad de se&ntilde;ales medidas de circuitos ca&oacute;ticos, detectar deficiencias respiratorias o estertores anormales en se&ntilde;ales medidas con desarrollos propios y, finalmente, para identificar distorsiones en la corriente el&eacute;ctrica medida con el Watthor&iacute;metro K0.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Como se pudo comprobar, la obtenci&oacute;n del factor mencionado es sencilla y por ende arroja resultados r&aacute;pidamente, es decir, manifiesta tempranamente la cantidad de eventos nacientes o impactos.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Aunque, en algunos casos, es necesario tener cuidado, ya que puede alterarse debido al ruido el&eacute;ctrico que se incorpora a las se&ntilde;ales peri&oacute;dicas de informaci&oacute;n. Otras aplicaciones importantes y originales del FC que se proponen son: a) controlar el caos en circuitos electr&oacute;nicos que agitan/mezclan procesos industriales y b) corregir el factor de potencia de cargas no&#45;lineales e inductivas. Se contempla a mediano plazo estudiar y utilizar un FC que considere la se&ntilde;al m&aacute;xima de pico a pico; se piensa que esto podr&iacute;a mejorar su detecci&oacute;n.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Finalmente, se puede decir que la clave es observar y analizar la variaci&oacute;n de la tendencia del FC para detectar temprano eventos de trascendencia en la condici&oacute;n de operaci&oacute;n de los sistemas.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Agradecimientos</b></font></p>              ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">Agradecemos al CONACYT el apoyo econ&oacute;mico para el presente, a trav&eacute;s del proyecto 7453, dirigido por el Dr. J. &Aacute;lvarez, y al Ing. A. Zacar&iacute;as por participar en la prueba y validaci&oacute;n del CFC.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Referencias</b></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Agilent Technologies, 33120A Function Generator, manual 90005. ed. 6, 2000, pp. 66&#45;67.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283776&pid=S1405-7743201400010000700001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Analog Devices, Inc. Integrated Circuit True Rms&#45;to&#45;Dc Converter, AD536A, AN&#45;C502c&#45;4, 1983.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283778&pid=S1405-7743201400010000700002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Analog Devices, Inc. Handbook of Analog Multipliers/Dividers, AD734, 1985, 2.55&#45;2.66, 1985.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283780&pid=S1405-7743201400010000700003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">ANSI/ISA&#45;S51.1. Process Instrumentation Terminology, ISA standard, 1979.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283782&pid=S1405-7743201400010000700004&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Beckman Industrial, Corp. Digital Multimeters Hand Held Models, manual, 1984, 3000&#45;940&#45;138&#45;C.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283784&pid=S1405-7743201400010000700005&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Bruel &amp; Kjaer Instruments, Inc. Digital Signal Analysis&#45;Using Digital Filters and FFT Techniques, Technical Review, Denmark, enero 1985.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283786&pid=S1405-7743201400010000700006&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Bruel &amp; Kjaer Instruments, Inc. Detecting Faulty Rolling&#45;Element Bearings, AN&#45;BO0210&#45;11, 1989a.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283788&pid=S1405-7743201400010000700007&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Bruel &amp; Kjaer Instruments, Inc. Integration Vibration Meters 2513/16, catalog, USA, 1989b, pp. 904.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283790&pid=S1405-7743201400010000700008&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">C&aacute;ceres R. Factor de utilizaci&oacute;n de la potencia. <i>IEEELATIN AMERICA TRANSACTS,</i> volumen 6 (n&uacute;mero 1), 2008.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283792&pid=S1405-7743201400010000700009&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Charbonneau G., Ademovic E., Cheetham B., Malmberg L., Vanderschoot J., Sovijarvi A. Basic Techniques for Respiratory Sound Analysis. <i>Eur. Respir. Rev.,</i> volumen 10 (n&uacute;mero 77), 2000: 625&#45;35.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283794&pid=S1405-7743201400010000700010&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Computational Systems Incorporated (CSI), Diagnostic Features and Applications of CSI Machinery Analysers, AN&#45;P&#45;001, 1988, pp.1&#45;7.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283796&pid=S1405-7743201400010000700011&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Coughlin R. y Driscoll F. <i>Operational Amplifiers and Linear Circuits,</i> 2a ed., P&#45;H, Inc., 1982, pp. 131&#45;153.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283798&pid=S1405-7743201400010000700012&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Counts L., Kitchin Ch., Jung W. <i>Low&#45;Cost Rms/Dc ic's ac Measurements,</i> EDN, enero 20, 1982, pp.101&#45;10.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283800&pid=S1405-7743201400010000700013&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">DADISP. The <i>DADISP&#45;SE Worksheet, DSP Development, Co.,</i> Cambridge, MA, USA, 2002.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283802&pid=S1405-7743201400010000700014&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">D&iacute;az I. <i>Desarrollo de un sistema de adquisici&oacute;n de sonidos respiratorios,</i> tesis (maestr&iacute;a), CICESE, 2008.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283804&pid=S1405-7743201400010000700015&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Early M., Murray R. y Caloggero J. <i>The National Electrical Code,</i> Handbook, 1989.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283806&pid=S1405-7743201400010000700016&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">F&eacute;lix R. <i>An&aacute;lisis y validaci&oacute;n espectrales de vibraci&oacute;n en maquinaria rotatoria,</i> tesis (maestr&iacute;a), CICESE, 1992.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283808&pid=S1405-7743201400010000700017&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Fink D. y Beaty H. <i>Standard Handbook for Electrical Engineers,</i> 13 ed., McGraw&#45;Hill, 1990, pp. 2&#45;16.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283810&pid=S1405-7743201400010000700018&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Fluke Inc. Conf&iacute;a usted en las medidas de su mult&iacute;metro? NA&#45;10047&#45;SPA&#45;01, USA, 1990.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283812&pid=S1405-7743201400010000700019&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </font></p>         <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Kitchin Ch. y Counts L. RMS to DC, conversion application, AN&#45;G803&#45;30, AD, Inc., 1983.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283814&pid=S1405-7743201400010000700020&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>         <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Lancaster D. Tech Musings&#45;Crest Factors, AN&#45;125.1, Synergetics, </font><font face="verdana" size="2">Thatcher, AZ, junio 1998.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283816&pid=S1405-7743201400010000700021&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </font></p>         <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Lorenz E.N. Deterministic Nonperiodic Flow. <i>J. Atmosphere., Sci.,</i> volumen 20, 1963: 130&#45;41.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283818&pid=S1405-7743201400010000700022&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>         <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">M&aacute;rquez A. y &Aacute;lvarez J. Circuito de Lorenz, Reporte t&eacute;cnico, DET&#45;CICESE, 1996.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283820&pid=S1405-7743201400010000700023&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">National Instrument&#45;NI, Inc. LabVIEW7 handbook, 2007.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283822&pid=S1405-7743201400010000700024&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">National Semiconductor&#45;NS, Inc. Handbook of Operational Amplifiers/Buffers, LF347 wide Bandwith Quad JFET Input Operational Amplifier, 1984, pp. 3.14&#45;3.21.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283824&pid=S1405-7743201400010000700025&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">N&uacute;&ntilde;ez R. <i>Sistema monitor de vibraciones&#45;SIMOVI,</i> tesis (maestr&iacute;a), CICESE, 1987.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283826&pid=S1405-7743201400010000700026&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">N&uacute;&ntilde;ez R. <i>Monitor port&aacute;til de vibraci&oacute;n para mantenimiento de maquinaria,</i> Mundo Electr&oacute;nico&#45;203, Boixareu eds., Barcelona, Espa&ntilde;a, febrero 1990, pp. 71&#45;76.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283828&pid=S1405-7743201400010000700027&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">N&uacute;&ntilde;ez R. The LabVIEW (Dynamic Analyzer) and Dadisp ATS's. Reporte t&eacute;cnico, DET&#45;CICESE, 1998.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283830&pid=S1405-7743201400010000700028&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">N&uacute;&ntilde;ez R. Comunicador experimental privado basado en encriptamiento ca&oacute;tico. <i>Revista Mexicana de F&iacute;sica, FC&#45;UNAM,</i> volumen 52 (n&uacute;mero 3), 2006, pp. 285&#45;294.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283832&pid=S1405-7743201400010000700029&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">N&uacute;&ntilde;ez R. Measurement of Chua Chaos and its Applications, <i>JART, UNAM,</i> volumen 6 (n&uacute;mero 1), abril 2008.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283834&pid=S1405-7743201400010000700030&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">N&uacute;&ntilde;ez R. Spectrum Richness as Determinant of Chaotic Synchronization. <i>IEEELATIN AMERICA TRANSACTIONS,</i> volumen 7 (n&uacute;mero 5), 2009.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283836&pid=S1405-7743201400010000700031&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">N&uacute;&ntilde;ez R. Watthor&iacute;metro K0, Reporte t&eacute;cnico, DET&#45;CICESE, 2010.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283838&pid=S1405-7743201400010000700032&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --> N&uacute;&ntilde;ez R. Aplicaci&oacute;n en instrumentaci&oacute;n del an&aacute;lisis digital de se&ntilde;ales, curso: ET631, DET&#45;CICESE, 2011.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283839&pid=S1405-7743201400010000700033&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Ott H. <i>Noise Reduction Techniques in Electronic Systems,</i> 2a ed., Wiley and Sons, 1998.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283841&pid=S1405-7743201400010000700034&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Quezada I. <i>Desarrollo de un instrumento adquisidor de se&ntilde;ales respiratorias,</i> tesis (maestr&iacute;a), CICESE, 2011.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283843&pid=S1405-7743201400010000700035&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --> </font></p>         <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Stout D. y Kaufman M. <i>Handbook of Operational Amplifier Circuit</i> <i>Design,</i> Mc G&#45;H, 1976, pp. 8.1&#45;8.3.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283845&pid=S1405-7743201400010000700036&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>         <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Wolf S. <i>Guide to Electronic Measurements and Laboratory Practice,</i> Prentice&#45;Hall, Inc., 1973.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4283847&pid=S1405-7743201400010000700037&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Semblanza del autor</b></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b><i>Ricardo Francisco N&uacute;&ntilde;ez&#45;P&eacute;rez.</i></b> M. en C. en instrumentaci&oacute;n electr&oacute;nica (87), CICESE, M&eacute;xico y Lic. en ingenier&iacute;a electr&oacute;nica (80), UABC, M&eacute;xico con menci&oacute;n honor&iacute;fica en ambos grados. Desde 1987 a la fecha es profesor/investigador en el Departamento de Electr&oacute;nica y Telecomunicaciones del Centro de Investigaci&oacute;n Cient&iacute;fica y de Educaci&oacute;n Superior de Ensenada (CICESE). Recibi&oacute; el 1er. lugar al concursar con la tesis de maestr&iacute;a en el IV Certamen Nacional sobre dise&ntilde;o de Equipo Electr&oacute;nico Aplicado al Sector El&eacute;ctrico, organizado por el IIE, CONACYT, SEP y la CFE (88), y el 1er. lugar y la presea en ciencias y tecnolog&iacute;a en el IV Certamen Nacional del CREA, &aacute;rea electr&oacute;nica (88). Recibi&oacute; un reconocimiento por dirigir la tesis de la licenciatura ganadora del 1er. lugar en el VI Certamen Nacional sobre dise&ntilde;o de equipo electr&oacute;nico aplicado al sector el&eacute;ctrico, organizado por el IIE, CONACYT, SEP y CFE (90), perteneci&oacute; al SNI del 88 al 93. Sus &aacute;reas de investigaci&oacute;n e instrucci&oacute;n son: desarrollo de instrumentaci&oacute;n electr&oacute;nica industrial, estudios de circuitos ca&oacute;ticos y sus aplicaciones, utilizaci&oacute;n de los PDS en el an&aacute;lisis, s&iacute;ntesis y control de se&ntilde;ales ca&oacute;ticas, biom&eacute;dicas y de vibraci&oacute;n mec&aacute;nica.</font></p>      ]]></body><back>
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