Resonance frequency as a function of the time needed by epoxic glue to fix a probe
J. M. Merlo-Ramíreza, A. Flores-Rosasb, D. Antonio-Torresc, J. A. Reyes-Avendañoc, and S. Mendoza-Vazquezb
a Department of Physics, Boston College, 140 Commonwealth Avenue, Chestnut Hill, Massachusetts 02467, United States.
b Universidad Autónoma de Chiapas, Centro de Estudios en Física y Matemáticas básicas y Aplicadas, Carretera Emiliano Zapata Km. 8.5, Rancho San Francisco, Ciudad Universitaria, Terán, 29050, Tuxtla Gutiérrez, Chiapas.
c Tecnológico de Monterrey, Campus Puebla, Vía Atlixcayotl 2301, San Andrés Cholula,72800, Puebla, México.
]]>Received 3 December 2013.
Accepted 13 January 2014.
Abstract
In Atomic Force Microscope based in Quartz Tuning Fork, it is usual to attach, by epoxic glue, a probe to one of the prongs of the Quartz Tuning Fork and employ it as force sensor. This paper shows that the resonance frequency changes as a function of the required time by the epoxic glue to dry. Results of the resonance frequency shift measured at different moments of the experiment are also reported. It has been found that it is necessary to wait at least 10 hours to obtain a stable mechanical system. The results conclude that the studied phenomenon becomes important in the frequency-modulation AFM, due to the evolution of the resonance frequency along the entire experiment.
Keywords: Resonance frequency; quartz tuning fork; atomic force microscope.
Resumen
En el microscopio de fuerza atómica basado en osciladores de cuarzo, es usual adherir, por medio de pegamento, una sonda a uno de los brazos de dicho oscilador y utilizarlo como un sensor de fuerza. El presente trabajo muestra que la frecuencia de resonancia cambia como función del tiempo requerido por el pegamento para secar. Los resultados del cambio en la frecuencia de resonancia en distintos momentos del experimento también se reportan. Se ha encontrado que es necesario esperar al menos 10 horas para obtener un sistema mecánico estable. Los resultados concluyen que el fenómeno estudiado se vuelve importante en los microscopios de fuerza atómica basados en la modulación de la frecuencia de oscilación, debido a la evolución de la frecuencia de resonancia durante el experimento.
]]> Descriptores: Frecuencia de resonancia; oscilador de cuarzo; microscopio de fuerza atómica.
PACS: 77.65.Fs; 07.79.Lh
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