M.C. Lépy* and J. Plagnard
Laboratoire National Henri Becquerel, LNE-LNHB, CEA- Saclay, F- 91191 Gif-sur-Yvette Cedex, France.
Correspondencia:
* Tel : +33.1.69.08.24.48,
Fax : +33.1.69.08.26.19,
e-mail : marie-christine.lepy@cea.fr
Recibido el 2 de marzo de 2006
Aceptado el 18 de agosto de 2006
Abstract
In the frame of the French Metrology Institute, the Laboratoire National Henri Becquerel performs accurate characterization of semiconductor detectors that are in use in a number of applications. Their efficiency calibration, energy resolution and the detailed shape of their response function are parameters of interest for accurate processing of low-energy X-ray spectra to be applied to elements identification and fundamental research studies. The tools specifically developed for low-energy detectors calibration and characterization are described, from the use of radioactivity standard to the development of a tunable monochromatic X-ray source.
Keywords: X-ray spectrometry; semiconductor detector; calibration; metrology.
Resumen
El instituto francés de metrología, Laboratoire National Henri Becquerel, realiza la caracterización exacta de los detectores a semiconductor que son utilizados en numerosas funciones. La calibración del rendimiento, la resolución en energía y la forma detallada de la "función respuesta" de estos detectores, son parámetros de interés para el tratamiento exacto de los espectros de rayos X de baja energía. Estos espectros, son aplicados a la identificación de los elementos y a la investigación fundamental. Las herramientas desarrolladas específicamente para calibración y caracterización de los detectores de rayos X de baja energía son descritos: del uso del estándar de la radioactividad al desarrollo de una fuente monocromática de rayos X.
]]> Descriptores: Espectrometroía de rayos X; detector a semiconductor; calibración; metrología.
PACS: 06.20.f; 07.85.Fv; 07.85.NC
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