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<article-title xml:lang="es"><![CDATA[Detección de Inestabilidades Dinámicas en Procesos de Rectificado mediante la Transformada Continua de Ondeletas y el Exponente Fractal de Hurst]]></article-title>
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<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[In this research, two methodologies are use to identify instabilities in an industrial grinding process, the continuous wavelet transform and the fractal Hurst exponent. Machining processes are quite complex and show nonlinear and transient behaviors. Fourier transform, used in the monitoring systems in the industry, is not suitable for this type of systems due to its theoretical principles. For this reason, other methodologies of signal processing are required. For instance, the wavelet transform that provides temporal information of the frequencies. It allows identifying transient and nonlinear behaviors. Another methodology, quite less used than the wavelet transform, is the fractal Hurst exponent. It exploits the complex - fractal structure of the signal coming from machining processes, furthermore, the Hurst exponent is an indicator of the long range correlations presented in the signal. In this research is shown how these correlations are related to the failure condition of the system, making the Hurst exponent an effective methodology for a monitoring system. An advantage of the Hurst exponent with respect to the wavelet transform is the simplicity of its algorithm that reduces its time processing; which is a very important characteristic for an online monitoring system. Besides, the Hurst exponent is parameter estimation based, which allows an easier interpretation of the results.]]></p></abstract>
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</front><body><![CDATA[  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="4">Art&iacute;culos</font></p>          <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="4"><b>Detecci&oacute;n de Inestabilidades Din&aacute;micas en Procesos de Rectificado mediante la Transformada Continua de Ondeletas y el Exponente Fractal de Hurst</b></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><b>Daniel P&eacute;rez Canales<sup>a</sup>, Juan Carlos J&aacute;uregui Correa<sup>a</sup>*, Luciano Vela Mart&iacute;nez<sup>b</sup></b></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i><sup>a</sup> Divisi&oacute;n de Investigaci&oacute;n y Posgrado, Facultad de Ingenier&iacute;a Universidad Aut&oacute;noma de Quer&eacute;taro, M&eacute;xico. *Autor. Tel: 01 442 1921200 ext. 6027. Fax: ext. 6007. Correo electr&oacute;nico:</i> <a href="mailto:jc.jauregui@uaq.mx">jc.jauregui@uaq.mx</a></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><sup><i>b</i></sup><i> CIATEQ, A.C., Unidad Aguascalientes, M&eacute;xico.</i></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">Fecha de recepci&oacute;n: 25&#45;04&#45;2012    <br>     Fecha de aceptaci&oacute;n: 03&#45;07&#45;2012</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Resumen</b></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En este trabajo se utilizan dos metodolog&iacute;as con el fin de identificar inestabilidades en un sistema de rectificado industrial, la transformada continua de ondeletas y el exponente fractal de Hurst. Los procesos de maquinados son complejos y presentan comportamientos no lineales y transitorios. La transformada de Fourier, usada en los sistemas de monitoreo en la industria, no es lo &oacute;ptimo para este tipo de sistemas debido a sus principios te&oacute;ricos. Por esta raz&oacute;n, se requieren otras metodolog&iacute;as de procesamiento de se&ntilde;al. Tal es el caso de la transformada de ondeletas (wavelets), que al proporcionar informaci&oacute;n temporal de las frecuencias, permite identificar fen&oacute;menos transitorios y no lineales. Otra metodolog&iacute;a, menos usada que la transformada de ondeletas, es el exponente fractal de Hurst. &Eacute;ste explota la estructura compleja &#45; fractal de las se&ntilde;ales provenientes de procesos de maquinados, as&iacute; mismo, el exponente de Hurst es un indicador de las correlaciones a largo plazo que se presentan en la se&ntilde;al. En esta investigaci&oacute;n se muestra como esas correlaciones est&aacute;n relacionadas con la condici&oacute;n de falla del sistema, haciendo al exponente de Hurst una metodolog&iacute;a efectiva para un sistema de monitoreo. Una ventaja del exponente de Hurst con respecto a la transformada de ondeletas es la simplicidad de su algoritmo, esto reduce su tiempo de procesamiento; fundamental en un monitoreo en l&iacute;nea. Adem&aacute;s, el exponente de Hurst est&aacute; basado en la estimaci&oacute;n de un par&aacute;metro, lo cual permite una m&aacute;s f&aacute;cil interpretaci&oacute;n de los resultados.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Palabras clave:</b> Rectificado, ondeletas, fractal, Hurst, monitoreo.</font></p> 	         <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p> 	         <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Abstract</b></font></p> 	         <p align="justify"><font face="verdana" size="2">In this research, two methodologies are use to identify instabilities in an industrial grinding process, the continuous wavelet transform and the fractal Hurst exponent. Machining processes are quite complex and show nonlinear and transient behaviors. Fourier transform, used in the monitoring systems in the industry, is not suitable for this type of systems due to its theoretical principles. For this reason, other methodologies of signal processing are required. For instance, the wavelet transform that provides temporal information of the frequencies. It allows identifying transient and nonlinear behaviors. Another methodology, quite less used than the wavelet transform, is the fractal Hurst exponent. It exploits the complex &#45; fractal structure of the signal coming from machining processes, furthermore, the Hurst exponent is an indicator of the long range correlations presented in the signal. In this research is shown how these correlations are related to the failure condition of the system, making the Hurst exponent an effective methodology for a monitoring system. An advantage of the Hurst exponent with respect to the wavelet transform is the simplicity of its algorithm that reduces its time processing; which is a very important characteristic for an online monitoring system. Besides, the Hurst exponent is parameter estimation based, which allows an easier interpretation of the results. </font></p> 	         <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Keywords:</b> Grinding, wavelet, fractal, Hurst, monitoring.</font></p>              ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Nomenclatura</b> </font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>H</i> Exponente de Hurst </font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>M</i> Tama&ntilde;o de submuestra </font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>N</i> N&uacute;mero de observaciones de la serie de tiempo </font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>x<sub>n</sub></i> Serie de tiempo</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>R</i> Rango de las desviaciones acumuladas de la serie con respecto a su media</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>S</i> Desviaci&oacute;n est&aacute;ndar</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>m</i> Media aritm&eacute;tica</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>i&nbsp;</i>Valor de iteraci&oacute;n que determina la escala</font></p>              ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>y</i> Desviaciones acumuladas con respecto a la media</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Introducci&oacute;n</b></font></p> 	         <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Los procesos de rectificado en la industria demandan alta&nbsp;precisi&oacute;n en las piezas de trabajo con el fin de cumplir las exigencias de calidad para las diversas aplicaciones. Las condiciones de corte, o el estado f&iacute;sico del sistema, pueden provocar situaciones de inestabilidad, las cuales ocasionan efectos negativos tanto en las condiciones de las herramientas como en la calidad de los procesos. Debido a esto es importante identificar dichas condiciones inestables antes de que se presente una falla. En el proceso de rectificado, la falla se presenta en el acabado superficial dejando marcas o deformaciones en las piezas, lo cual ocasiona que sean rechazadas para su respectiva aplicaci&oacute;n. Una opci&oacute;n es el modelado, sin embargo, el modelado de sistemas con caracter&iacute;sticas no lineales y transitorias es complejo (Robles et al, 2012). Otro enfoque es el procesamiento de se&ntilde;ales de variables f&iacute;sicas del proceso que proporcionan informaci&oacute;n para la detecci&oacute;n de condiciones inestables; esta es la manera c&oacute;mo funcionan los sistemas de monitoreo. La mayor&iacute;a de ellos utilizan la transformada de Fourier en su versi&oacute;n m&aacute;s r&aacute;pida, la transformada r&aacute;pida de Fourier (TRF). Sin embargo, la TRF no es lo &oacute;ptimo para identificar comportamientos no lineales y transitorios (J&aacute;uregui et al, 2009). Por esta raz&oacute;n, se requieren otras metodolog&iacute;as para tratar con este tipo de sistemas. Una de ellas es la transformada de Fourier de tiempo reducido (TFTR), la cual utiliza una ventana m&oacute;vil a lo largo del tiempo para proporcionar informaci&oacute;n temporal de la se&ntilde;al. El problema con la TFTR es que el ancho de la ventana es fija, lo que ocasiona dificultades en la resoluci&oacute;n en el tiempo y en la frecuencia (Wang, 1996) as&iacute; como en la selecci&oacute;n de una ventana adecuada para toda la se&ntilde;al. Otro problema es que contin&uacute;a utilizando la transformada de Fourier. La transformada de ondeletas (TO) supera estas desventajas de la TFTR, ya que utiliza una ventana de tama&ntilde;o variable, es decir maneja diferentes escalas de tiempo. Adem&aacute;s, en lugar de senos y cosenos, emplea una funci&oacute;n predefinida, llamada funci&oacute;n ondeleta madre, que es m&aacute;s parecida a la respuesta de un sistema no lineal. A trav&eacute;s de una convoluci&oacute;n matem&aacute;tica, la TO busca una correlaci&oacute;n entre la funci&oacute;n ondeleta madre a diferentes escalas con la se&ntilde;al a trav&eacute;s del tiempo. Gao et al (2006) compararon diferentes t&eacute;cnicas de procesamiento de se&ntilde;al para la detecci&oacute;n de fallas en rodamientos. Ellos muestran la efectividad de la TO para detectar tales fallas, y aunque la TFTR les dio tambi&eacute;n resultados positivos, mencionan la complicaci&oacute;n de la TFTR para la selecci&oacute;n &oacute;ptima de la ventana. Con la TO se puede tener un mapa que proporciona informaci&oacute;n de tres variables: Frecuencia, amplitud y tiempo. Conociendo la informaci&oacute;n temporal de la frecuencia se puede saber si hay una condici&oacute;n de falla en el sistema.</font></p>             <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Otras metodolog&iacute;as para tratar con este tipo de sistemas, y que ha despertado el inter&eacute;s en el campo de la ciencia y de la tecnolog&iacute;a m&aacute;s recientemente son las metodolog&iacute;as frac&#45;tales. Est&aacute;s se basan en la geometr&iacute;a fractal, y consisten en la estimaci&oacute;n de un par&aacute;metro que proporciona informaci&oacute;n f&iacute;sica del sistema.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La geometr&iacute;a fractal es una geometr&iacute;a diferente a la Eucli&#45;diana introducida por Mandelbrot (1967). Esta geometr&iacute;a est&aacute; relacionada con conceptos de rugosidad, complejidad ya sea en im&aacute;genes o series de tiempo. En lo que respecta a las series de tiempo, una de las propiedades importantes de las series fractales es la auto&#45;afinidad, que se refiere al hecho presentar caracter&iacute;sticas similares a una escala con respecto a toda la serie. Se ha visto en la teor&iacute;a no lineal y del caos de sistemas din&aacute;micos la presencia de propiedades fractales. La dimensi&oacute;n fractal es la dimensi&oacute;n de la geometr&iacute;a fractal que se utiliza para medir que tan rugosa, compleja es la serie de tiempo. La dimensi&oacute;n fractal puede ser un valor mayor que uno y menor que dos. Por la raz&oacute;n de que la dimensi&oacute;n fractal para una serie de tiempo es mayor que la dimensi&oacute;n euclidiana de una l&iacute;nea recta, y menor que la de una superficie. El exponente de Hurst (H) es la co&#45;dimensi&oacute;n fractal, es decir es la diferencia aritm&eacute;tica entre el n&uacute;mero 2 y la dimensi&oacute;n fractal. La importancia del exponente de Hurst para el an&aacute;lisis de series de tiempo es que adem&aacute;s de ser un &iacute;ndice fractal es un indicador del tipo de correlaci&oacute;n a largo plazo que se est&aacute; presentando en la serie, esto implica que la correlaci&oacute;n puede ser persistente, anti&#45;persistente o que no haya correlaci&oacute;n. Donde m&aacute;s se ha utilizado el exponente de Hurst es en el campo econ&oacute;mico. Por ejemplo, Matteo et al (2005) y Alvarez&#45;Ramirez (2002) mostraron con el exponente de Hurst efectos de memoria a largo plazo que existe en mercados emergentes y precios del petr&oacute;leo crudo respectivamente. En cambio, en el campo de la ingenier&iacute;a mec&aacute;nica el exponente de Hurst ha sido escasamente utilizado. Vela et al (2009) detect&oacute; vibraciones auto&#45;inducidas en procesos de fresado, mostrando que este tipo de inestabilidades est&aacute; relacionado con una correlaci&oacute;n anti&#45;persistente en las se&ntilde;ales de aceleraci&oacute;n.</font></p>          <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Lo que m&aacute;s se ha utilizado en el &aacute;rea mec&aacute;nica, a&uacute;n siendo poco, es la dimensi&oacute;n fractal, como el trabajo de Chuan&#45;gwen y Hualing (2009), quienes usaron an&aacute;lisis fractal para monitorear condiciones de desgaste en herramientas de fresado. Taejun and Yung (2003) propusieron detecci&oacute;n de vibraciones auto&#45;inducidas en torneado y fresado mediante la estimaci&oacute;n de par&aacute;metros fractales. Pan et al (2011) obtuvieron la dimensi&oacute;n fractal mediante diferentes algoritmos para monitorear condiciones de desgaste en las herramientas en procesos de fresado.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En esta investigaci&oacute;n se utiliz&oacute; el exponente de Hurst con el fin de explotar la informaci&oacute;n que se obtiene sobre la correlaci&oacute;n a largo plazo que presenta la serie. Se muestra como el exponente de Hurst y la TO pueden proporcionar informaci&oacute;n sobre la existencia de defectos en el acabado superficial de las piezas rectificadas analizando se&ntilde;ales de vibraciones. As&iacute; mismo, se ve como la falla est&aacute; relacionada con correlaciones anti&#45;persistentes en la serie, estas correlaciones aparecen justo en los momentos en que se est&aacute; excitando la frecuencia relacionada con la falla. Este cambio de correlaciones persistentes y anti&#45;persistentes en la serie indicado por el exponente de Hurst puede ser empleado como umbral en un sistema de monitoreo. Una ventaja del exponente de Hurst es la simplicidad de su algoritmo, lo cual reduce su tiempo de procesamiento alrededor de 5 veces. Adem&aacute;s, es un m&eacute;todo basado en la estimaci&oacute;n de un par&aacute;metro mediante el cual se puede identificar la condici&oacute;n de falla, esto facilita la detecci&oacute;n o interpretaci&oacute;n en un sistema de monitoreo.</font></p>          <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Metodolog&iacute;a</b></font></p>              ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">Las inestabilidades din&aacute;micas en procesos de rectificado presentan normalmente comportamientos no lineales y transitorios. Por este motivo, la TO puede ser un metodolog&iacute;a efectiva debido a que proporciona informaci&oacute;n temporal de las variaciones de la respuesta en frecuencia. Hay diferentes transformadas de ondeletas, siendo las m&aacute;s comunes la transformada continua (TCO) y la transformada discreta. As&iacute; mismo, existen diferentes tipos de funciones ondeleta, como la Morlet, Paul, Haar y Daubechies, por mencionar algunas.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En esta investigaci&oacute;n fue usada la TCO por la raz&oacute;n de que proporciona una mejor resoluci&oacute;n en la escala (Zheng et al, 2002). Se emple&oacute; la funci&oacute;n ondeleta madre de Morlet, la cual es unas de las que mejores resultados ha dado para sistemas mec&aacute;nicos. Se explicar&aacute; brevemente la TCO, debido a que hay muchas referencias sobre esto (Addison, 2002; Zheng et al, 2002). Para el procesamiento de la transformada de ondeleta continua se utiliz&oacute; el software comercial AutoSignal v1.7.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En t&eacute;rminos matem&aacute;ticos, una ondeleta es una funci&oacute;n con promedio cero:</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/imtd/v4n3/a3s1.jpg"></font></p> 	         <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Esta es la condici&oacute;n b&aacute;sica para determinar la funci&oacute;n on&#45;deleta, la cual tiene un corrimiento en el tiempo &#964; y un par&aacute;metro de escala <i>s</i> tal que</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/imtd/v4n3/a3s2.jpg"></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Una vez que la funci&oacute;n ondeleta satisface la condici&oacute;n de la ecuaci&oacute;n (1), la TO de una se&ntilde;al <i>y(t)</i>, a una escala <i>s</i> y una posici&oacute;n &#964;, es procesada a trav&eacute;s de la correlaci&oacute;n de la se&ntilde;al <i>y(t)</i> con una funci&oacute;n ondeleta &#968;.</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/imtd/v4n3/a3s3.jpg"></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Debido a que la transformada de ondeletas puede medir variaciones de tiempo &#45; frecuencia de una se&ntilde;al, a diferentes resoluciones, la TO puede ser expresada de la siguiente manera:</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/imtd/v4n3/a3s4.jpg"></font></p>              ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">donde &#968;*<sub>&#964;<i>s</i></sub><i>(t)</i> es una funci&oacute;n de ondeleta conjugada compleja.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La funci&oacute;n ondeleta madre que mejor correlaciona el comportamiento din&aacute;mico de un sistema mec&aacute;nico es la funci&oacute;n Morlet, la cual est&aacute; definida por la siguiente expresi&oacute;n:</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/imtd/v4n3/a3s5.jpg"></font></p> 	         <p align="justify"><font face="verdana" size="2">donde <i>f<sub>0</sub></i>, &#945; y &#946; son constantes.</font></p> 	         <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El proceso consiste en buscar la correlaci&oacute;n entre la funci&oacute;n ondeleta y la se&ntilde;al a diferentes escalas y en una parte de la se&ntilde;al. La correlaci&oacute;n queda registrada en vectores conocidos como coeficientes de correlaci&oacute;n y de esta manera la se&ntilde;al original, que s&oacute;lo es funci&oacute;n del tiempo, se transforma en una funci&oacute;n del tiempo y la frecuencia.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Por otro lado, la dimensi&oacute;n fractal es un &iacute;ndice que se utiliza para medir complejidad en las se&ntilde;ales. Como se hab&iacute;a mencionado en la introducci&oacute;n, el exponente de Hurst es un &iacute;ndice fractal que proporciona informaci&oacute;n sobre las correlaciones a largo plazo que se presentan en la se&ntilde;al. Cuando H es entre 0 y 0.5 la correlaci&oacute;n es anti&#45;persistente, es decir, a un incremento es muy probable que le siga un decremento y a un decremento es muy probable un incremento. Cuando H es entre 0.5 y 1 la correlaci&oacute;n es persistente, es decir, a un incremento es muy probable que le siga un incremento, y a un decremento es muy probable un decremento. El caso de H=0.5 corresponde a no correlaciones (por ejemplo, ruido blanco).</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Existen bastantes t&eacute;cnicas para estimar el exponente de Hurst. Por ejemplo el rango reescalado (R/S), el m&eacute;todo del variograma, el m&eacute;todo del valor absoluto, el m&eacute;todo de Hi&#45;guchi, entre otros. En esta investigaci&oacute;n se utiliz&oacute; el m&eacute;todo R/S, el cual es uno de los m&aacute;s usados, debido a la efectividad y simplicidad de su algoritmo. &Eacute;ste fue propuesto por Hurst (1951), en su extenso y detallado trabajo sobre del r&iacute;o Nilo. Posteriormente el m&eacute;todo de rango reescalado fue afinado por Mandelbrot y Wallis (1969) y Mandelbrot (1972). El R/S es un m&eacute;todo estad&iacute;stico que se refiere al rango de las desviaciones acumuladas de la serie con respecto a su media, reescalado por la desviaci&oacute;n est&aacute;ndar de la serie. La relaci&oacute;n entre el estad&iacute;stico R/S y H est&aacute; dada por la siguiente ley de potencia:</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/imtd/v4n3/a3s6.jpg"></font></p> 	         <p align="justify"><font face="verdana" size="2">donde <i>a</i> es una constante, <i>M</i> es el n&uacute;mero de observaciones, <i>R</i> es el rango de las desviaciones acumuladas de la serie con respecto a su media, y <i>S</i> es la desviaci&oacute;n est&aacute;ndar de la serie.</font></p>                 <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Los pasos para obtener el exponente de Hurst, dado una serie temporal <i>x<sub>n</sub></i> con <i>n</i> = 1,2,3,..., <i>N,</i> son los siguientes:</font></p>  	    ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">1. Primero, <i>N</i> es dividido para obtener <i>i</i> submuestras de tama&ntilde;o <i>M.</i> El valor de <i>i</i> determina la escala a la que se va analizar la serie. La serie completa, la mitad de la serie, un cuarto, un octavo, etc., siguiendo una ley de potencia.</font></p>          <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/imtd/v4n3/a3s7.jpg"></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">donde <i>i</i>=2<i><sup>n</sup></i> para <i>n</i>= 0,1,2,3,4,...,&#945;</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">2. Para <i>i</i>=1, se tiene una submuestra <i>M</i> igual a la serie de tiempo inicial. La media <i>(m)</i> y la desviaci&oacute;n est&aacute;ndar <i>(S)</i> son calculadas:</font></p>  	    <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/imtd/v4n3/a3s8.jpg"></font></p> 	         <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/imtd/v4n3/a3s9.jpg"></font></p> 	         <p align="justify"><font face="verdana" size="2">3. Se captura las desviaciones acumuladas con respecto a la media</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/imtd/v4n3/a3s10.jpg"></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">4. El rango es dado por la diferencia entre los valores m&aacute;ximos y m&iacute;nimos.</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/imtd/v4n3/a3s11.jpg"></font></p>              ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">5. El estad&iacute;stico <i>R/S</i> se obtiene a trav&eacute;s de dividir el rango por la desviaci&oacute;n est&aacute;ndar.</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/imtd/v4n3/a3s12.jpg"></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">6. Para <i>i</i>=2, el n&uacute;mero de submuestras se incrementa a 2. Entonces, se repiten los pasos del 2 al 5 para cada una de las submuestras para obtener un valor de <i>R/S</i> para cada submuestra. Se obtiene el promedio <i>R/S</i> de las dos submues&#45;tras para tener un solo valor <i>R/S</i> para cada <i>i.</i></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">7. Se incrementan los valores de i como se mencion&oacute; en el paso 1, y entonces se obtiene un valor R/S para cada <i>i.</i> El proceso de iteraci&oacute;n termina cuando M es demasiado peque&ntilde;a, es recomendable no usar tama&ntilde;os de M menores a 10 observaciones.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">8. Finalmente el exponente de Hurst se obtiene a trav&eacute;s de realizar una gr&aacute;fica log&#45;log. Se gr&aacute;fica el logaritmo de los valores de <i>R/S</i> contra el logaritmo de los tama&ntilde;os de ventana M. Se ajustan los valores a una l&iacute;nea recta, y la pendiente de esta es la estimaci&oacute;n del exponente de Hurst. En este trabajo, para obtener el exponente de Hurst a trav&eacute;s del tiempo, se utiliz&oacute; una ventana m&oacute;vil de 1024 observaciones.</font></p>          <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Descripci&oacute;n del sistema de rectificado</b></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Las se&ntilde;ales fueron adquiridas de una m&aacute;quina de rectificado Sheffield Plunge 40, la cual es usada para el rectificado industrial de piezas cil&iacute;ndricas con perfiles superficiales. Est&aacute; maquina present&oacute; problemas mec&aacute;nicos que produc&iacute;an perfiles err&oacute;neos en la piezas, hecho que las hac&iacute;a inservibles pasa su aplicaci&oacute;n. Despu&eacute;s de una inspecci&oacute;n mec&aacute;nica se consider&oacute; que el problema ven&iacute;a del proceso de aderezado.</font></p>  	    <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El sistema de aderezado consiste en un robot x&#45;y con una herramienta de diamante (<a href="#f1">Figura 1</a>). El proceso de aderezado se lleva a cabo sobre la rueda rectificadora utilizando la herramienta de diamante del robot. Una vez que este proceso termina, empieza la etapa de rectificado sobre las piezas cil&iacute;ndricas por medio de la rueda rectificadora.</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f1"></a></font></p>              ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/imtd/v4n3/a3f1.jpg"></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Las dimensiones de la rueda rectificadora fueron de 609.6 mm de di&aacute;metro y 101.6 mm de ancho. Las piezas a rectificar fueron de acero con un di&aacute;metro de 155 mm y una longitud de 300 mm. La rueda rectificadora giraba a una velocidad constante de 900 rpm. Para la adquisici&oacute;n se utiliz&oacute; un aceler&oacute;metro biaxial de Analog Devices ADXL321 +/&#45;18g, 100 mV/g, 0.5 Hz &#45; 2.5 kHz. Las se&ntilde;ales fueron tratadas con un filtro anti&#45;alias y muestreadas a 20 kHz con una tarjeta de adquisici&oacute;n de datos de National Instruments NI&#45;USB 6251 16 bit 1.25 MS/S. La tarjeta fue conectada a una laptop marca Dell Precision M2300 con un procesador de 2.4 GHz Intel Core 2 Duo.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se adquirieron tres se&ntilde;ales de aceleraci&oacute;n cuando la m&aacute;quina presentaba problemas (<a href="#f2">Figuras 2</a>&#45;<a href="#f4">4</a>) (<a href="#f3">3</a>). Cada se&ntilde;al corresponde a un ciclo de aderezado con una duraci&oacute;n de 100 segundos. Los primeros 50 segundos aproximadamente corresponden a una operaci&oacute;n de aderezado con perfiles, y finalmente tiene lugar otra operaci&oacute;n de aderezado sin perfiles.</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f2"></a></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/imtd/v4n3/a3f2.jpg"></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f3"></a></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/imtd/v4n3/a3f3.jpg"></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f4"></a></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/imtd/v4n3/a3f4.jpg"></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Resultados y discusiones</b></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El primer paso en el an&aacute;lisis consisti&oacute; en verificar los espectros de frecuencia. La <a href="#f5">figura 5</a> muestra el espectro de frecuencia de la se&ntilde;al 1. Como se observa, no es posible identificar las variaciones de la amplitud para cada frecuencia caracter&iacute;stica a lo largo del tiempo.</font></p>          <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f5"></a></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/imtd/v4n3/a3f5.jpg"></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Las se&ntilde;ales adquiridas se analizaron primero con la TO y despu&eacute;s con el exponente de Hurst. En la <a href="#f6">figura 6</a> se muestra un mapa de contorno muestra obtenido del procesamiento con la transformada continua de ondeletas. El mapa de contorno presenta informaci&oacute;n del tiempo en el eje x, de la frecuencia en el eje y, y de la amplitud en t&eacute;rminos de la escala de colores. Cuando un sistema no tiene problemas, la frecuencia dominante que aparece en el mapa no presenta distorsiones en el tiempo, tal como se muestra en la zona de baja frecuencia, alrededor de 60 Hz.</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f6"></a></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/imtd/v4n3/a3f6.jpg"></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La <a href="#f7">figura 7</a> muestra el procesamiento de la se&ntilde;al 1 tomada del sistema de rectificado. A diferencia del mapa anterior, se aprecia como la frecuencia alrededor de 900 Hz presenta distorsiones en la amplitud a lo largo del tiempo. Esto es un indicador de un sistema que presenta una falla. Los momentos en que se excita tal frecuencia con mayor intensidad son alrededor de 15, 25 y 52 segundos, lo cual corresponde al proceso de aderezado con perfiles. En la parte de aderezado sin perfiles se puede ver como la frecuencia se excita en menor proporci&oacute;n.</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f7"></a></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/imtd/v4n3/a3f7.jpg"></font></p>              ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">El mapa de la <a href="#f8">figura 8</a> corresponde al procesamiento de la se&ntilde;al 2, presentando resultados muy similares; la frecuencia inestable aparece pr&aacute;cticamente en los mismos momentos. Se puede ver como es importante tener la informaci&oacute;n temporal para determinar si existe una frecuencia que est&aacute; causando un problema cuando se utilizan m&eacute;todos espectrales.</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f8"></a></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/imtd/v4n3/a3f8.jpg"></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La <a href="#f9">figura 9</a> presenta el resultado de la se&ntilde;al 3. En este caso se aprecia, a diferencia de las se&ntilde;ales 1 y 2, que la frecuencia alrededor de 900 Hz se excita principalmente en la parte de aderezado sin perfiles.</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f9"></a></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/imtd/v4n3/a3f9.jpg"></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">A diferencia de la TCO, el exponente de Hurst no es una t&eacute;cnica espectral, se basa en la estimaci&oacute;n estad&iacute;stica de un par&aacute;metro. Para determinar si hay una falla, solo se necesita saber la magnitud de este par&aacute;metro, lo cual es una ventaja con respecto a la transformada de ondeletas sobre todo si se trata de un monitoreo en l&iacute;nea. Ventaja en cuanto al tiempo de procesamiento y en cuanto a la visualizaci&oacute;n&#45;interpretaci&oacute;n de los resultados. Como se mencion&oacute; previamente, el exponente de Hurst adem&aacute;s de ser un &iacute;ndice fractal, proporciona informaci&oacute;n sobre las correlaciones a largo plazo en la serie. Cuando H=0.5 indica que no hay correlaci&oacute;n, en el caso que H sea mayor o menor que 0.5 las correlaciones son persistentes o anti&#45;persistentes respectivamente. La <a href="#f10">figura 10</a> muestra el resultado con el exponente de Hurst para la se&ntilde;al 1, se puede ver como hay momentos en que los valores bajan de 0.5, mostrando correlaciones anti&#45;persistentes.</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f10"></a></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/imtd/v4n3/a3f10.jpg"></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Los momentos donde aparecen correlaciones anti&#45;persistentes en el resultado del procesamiento de la se&ntilde;al 1, indicado con valores H&lt;0.5, coinciden con los tiempos en los que se excita la frecuencia de 900 Hz como se muestra en la <a href="#f11">figura 11</a>.</font></p>              ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f11"></a></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/imtd/v4n3/a3f11.jpg"></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se aprecia como en los segundos 15, 25 y 52 segundos son los valores m&aacute;s bajos del exponente de Hurst coincidiendo con los momentos en la frecuencia inestable aparece con m&aacute;s intensidad. Los resultados para la se&ntilde;al 2 (<a href="#f12">Figura 12</a>) son muy parecidos a los de la se&ntilde;al 1.</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f12"></a></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/imtd/v4n3/a3f12.jpg"></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La <a href="#f13">figura 13</a> muestra los resultados de la se&ntilde;al 3. Se observa como los valores del exponente de Hurst bajan de 0.5 en la parte de rectificado sin perfiles coincidiendo con la aparici&oacute;n de la frecuencia inestable mostrado por la TCO para esta se&ntilde;al. As&iacute; mismo, la frecuencia a los 15 segundos ya no aparece como en la se&ntilde;al 1 y 2, lo cual es indicado por una reducci&oacute;n del exponente de Hurst.</font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f13"></a></font></p>              <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/imtd/v4n3/a3f13.jpg"></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se observa como esa anti&#45;persistencia en la se&ntilde;al est&aacute; relacionada con la presencia de falla en el sistema, esto coincide con los resultados de Vela et al (2009), donde la presencia de vibraciones autoinducidas en fresado coincidi&oacute; con antipersistencia en las se&ntilde;ales de aceleraci&oacute;n, es decir con valores de Hurst menores a 0.5.</font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>              ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Conclusiones</b></font></p>              <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En el trabajo presentado se pudo mostrar la efectividad de ambas metodolog&iacute;as tanto la transformada continua de ondeletas como el exponente de Hurst para detectar una falla originada en el proceso de aderezado de la rueda rectificadora. Adem&aacute;s, se apreci&oacute; que los mapas de contorno de la transformada continua de ondeletas son una herramienta pr&aacute;ctica para identificar la presencia de una falla. La principal contribuci&oacute;n de este trabajo fue mostrar como el exponente fractal de Hurst puede ser una metodolog&iacute;a efectiva para monitorear fallas en el acabado de las piezas en el proceso de rectificado. Esto porque la falla est&aacute; relacionada con la anti&#45;persistencia en la se&ntilde;al de aceleraci&oacute;n como se aprecia en los resultados, y tal correlaci&oacute;n puede ser identificada mediante el exponente de Hurst. La ventaja principal de esta metodolog&iacute;a con respecto a otras metodolog&iacute;as fractales es que tiene un valor umbral, donde se da el cambio de correlaciones (H=0.5). Esto evita la necesidad de tener referencias previas para saber si los valores corresponden a una falla o no. Una de las ventajas del exponente de Hurst contra la TO es la simplicidad de su algoritmo, lo cual reduce el tiempo de procesamiento, y esto es de vital importancia en un sistema de monitoreo en l&iacute;nea. Adem&aacute;s, el hecho de ser un m&eacute;todo basado en la estimaci&oacute;n de un par&aacute;metro, hace m&aacute;s f&aacute;cil de identificar y cuantificar el nivel de falla del sistema.</font></p> 	         <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p> 	         <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Referencias</b></font></p>              <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Addison P.S., <i>The Illustrated Wavelet transform handbook: Introductory theory and applications in science, engineering, medicine andfinance,</i> Taylor and Francis Group, London, 2002.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4323989&pid=S1665-7381201200020000300001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Alvarez&#45;Ramirez J., Cisneros M., Ibarra&#45;Valdez C., Soriano A., <i>"Multifractal Hurst analysis of crude oil prices",</i> Physica A Vol. 313, 2002, 651 &#45; 670.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4323991&pid=S1665-7381201200020000300002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>          <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Chuangwen X., Hualing C., <i>"Fractal analysis of vibration signals for monitoring the condition of milling tool wear",</i> J Eng Trybol Vol. 223, 2009, 909 &#45; 918.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4323993&pid=S1665-7381201200020000300003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Gao R. X., Yan R., <i>"Non&#45;stationary signal processing for bearing health Monitoring",</i> Int. J. Manufacturing Research Vol. 1, 2006, 18 &#45; 39.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4323995&pid=S1665-7381201200020000300004&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Hurst H. E., <i>"Long&#45;term storage capacity of reservoirs",</i> Transactions of the American Society of Civil Engineers Vol. 116, 1951, 770 &#45; 799.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4323997&pid=S1665-7381201200020000300005&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">J&aacute;uregui&#45;Correa J. C., Gonzalez&#45;Brambila O. M., <i>Mechanical Vibrations of Discontinuous Systems,</i> Primera edici&oacute;n, Nova Science Publishers, New York, 2009.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4323999&pid=S1665-7381201200020000300006&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Mandelbrot B., "How <i>long is the coast of Britain?. Statistical self&#45;similarity and fractional dimension"</i> Science Vol. 156, 1967, 636&#45;638.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4324001&pid=S1665-7381201200020000300007&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>          <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Mandelbrot B., <i>"A statistical methodology for non&#45;periodic cycles: From the covariance to R/S analysis",</i> Annals of the economic and social measurement Vol. 1, 1972, 259 &#45; 290.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4324003&pid=S1665-7381201200020000300008&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>              ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Mandelbrot B., Wallis J. R., <i>"Robustness of the rescaled range R/S in the measurement of noncyclic long&#45;run statistical dependence",</i> Water Resources Research Vol. 5, 1969, 967 &#45; 988.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4324005&pid=S1665-7381201200020000300009&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Matteo T. D., Aste T., Dacorogma M. M., <i>"Long&#45;term memories of developed and emerging markets: Using the scaling analysis to characterize their stage of development",</i> J Bank &amp; Financ Vol. 29, 2005, 827 &#45; 851.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4324007&pid=S1665-7381201200020000300010&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Pan F., Weilin L., Liqin Z., <i>"Cutting tool wear monitoring based on wavelet denoising and fractal theory",</i> Appl Mech Mater Vol. 48&#45;49, 2011, 349 &#45; 352.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4324009&pid=S1665-7381201200020000300011&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Robles&#45;Ocampo J. B., J&aacute;uregui&#45;Correa J. C., Sevilla&#45;Camacho P. Y., Vela&#45;Mart&iacute;nez L., Herrera&#45;Ruiz G., <i>"Caracterizaci&oacute;n de las no&#45;linealidades de la fuerza autoexitada en el proceso de rectificado sin centro",</i> Ingenier&iacute;a Mec&aacute;nica. Tecnolog&iacute;a y Desarrollo Vol 3, 2010, 179&#45;185.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4324011&pid=S1665-7381201200020000300012&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>          <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Taejun C., Yung C. S., <i>"On line chatter detection using wavelet&#45;based parameter estimation",</i> J Manuf Sci Eng Vol. 125, 2003, 21 &#45; 28.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4324013&pid=S1665-7381201200020000300013&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Vela&#45;Mart&iacute;nez L., J&aacute;uregui&#45;Correa J. C, &Aacute;lvarez&#45;Ram&iacute;rez J., <i>"Characterization of machining chattering dynamics: an R/S scaling analysis approach",</i> International Journal of Machine Tools &amp; Manufacture Vol. 49, 2009, 832 &#45; 842.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4324015&pid=S1665-7381201200020000300014&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Wang W. J., <i>"Application of wavelets to gearbox vibration signals for fault detection",</i> J Sound Vibrat Vol. 192, 1996, 927 &#45; 939.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4324017&pid=S1665-7381201200020000300015&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>  	    <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Zheng H., Li Z., Chen X., <i>"Gear fault diagnosis based on continuous Wavelet transform",</i> Mech Sys Sig Proc Vol. 16, 2002, 447 &#45; 457.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4324019&pid=S1665-7381201200020000300016&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>       ]]></body><back>
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