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<article-title xml:lang="es"><![CDATA[Desarrollo y producción de varistores de ZnO dopados para media tensión 13 000 V a 34 000 V]]></article-title>
<article-title xml:lang="en"><![CDATA[Development and Fabrication Process for ZnO Based Varistors for Medium Voltaje Arresters 13 000 V to 34 000 V]]></article-title>
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<abstract abstract-type="short" xml:lang="en"><p><![CDATA[The fabrication process for ZnO doped varistor blocks with Sb2O3/ Bi2O3 to medium tension of 13 000 V to 34 000 V, and was optimised in terms of a starting composition and firing temperatures with amounts for Sb2O3/ Bi2O3 ratios of 1.7 by dry pressing, and fired in the temperature 1150°C ± 2°C. The microstructure characteristics were analysed across the surface of the varistor blocks in order to evaluate their microstructure homogeneity. Their current-voltage I-V and energy handling capabilities were also determined. Characteristics and electrical properties of the varistor blocks are discussed.]]></p></abstract>
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</front><body><![CDATA[ <p align="center"><font face="verdana" size="4"><b>Desarrollo y producci&oacute;n de varistores de ZnO dopados para media tensi&oacute;n 13 000 V a 34 000 V</b></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="3"><b>Development and Fabrication Process for ZnO Based Varistors for Medium Voltaje Arresters 13 000 V to 34 000 V</b></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><b>Gonz&aacute;lez&#150;Rol&oacute;n B.<sup>1</sup> e Ireta&#150;Moreno F.<sup>2</sup></b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i><sup>1</sup> Facultad de Ingenier&iacute;a Mec&aacute;nica El&eacute;ctrica y Electr&oacute;nica, Universidad de Guanajuato. Campus Salamanca, Gto., M&eacute;xico Campus Salamanca, Gto., M&eacute;xico. E&#150;mail: </i><a href="mailto:barbara@salamanca.ugto.mx">barbara@salamanca.ugto.mx</a></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i><sup>2</sup> Facultad de Ingenier&iacute;a Mec&aacute;nica El&eacute;ctrica y Electr&oacute;nica, Universidad de Guanajuato. Campus Salamanca, Gto., M&eacute;xico Campus Salamanca, Gto., M&eacute;xico. E&#150;mail: </i><a href="mailto:fireta@salamanca.ugto.mx">fireta@salamanca.ugto.mx</a></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Informaci&oacute;n del art&iacute;culo: recibido: noviembre de 2007.    ]]></body>
<body><![CDATA[<br> Reevaluado: noviembre de 2008.    <br> Aceptado: septiembre de 2010.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Resumen</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El proceso de fabricaci&oacute;n para varistores de media tensi&oacute;n de 13 000 V a 34 000 V de ZnO consisti&oacute; en dopar con Sb2O3, Bi2O3 y optimizarlos en t&eacute;rminos de la composici&oacute;n de inicio, con una relaci&oacute;n de Sb2O3/Bi2O3 de 1.7, y el uso de aditivos para cer&aacute;micas, la temperatura de sinterizado fue de 1150&deg;C &plusmn; 2&deg;C. Se investig&oacute; la homogeneidad de la microestructura. Se determinaron las propiedades el&eacute;ctricas mediante la determinaci&oacute;n de la gr&aacute;fica I&#150;V. Las caracter&iacute;sticas el&eacute;ctricas son discutidas.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Descriptores: </b>varistor, ZnO, microstructura, dopante, propiedades el&eacute;ctricas, tama&ntilde;o de grano.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Abstract</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>The fabrication process for ZnO doped varistor blocks with Sb2O3/ Bi2O3 to medium tension of 13 000 V to 34 000 V, and was optimised in terms of a starting composition and firing temperatures with amounts for Sb2O3/ Bi2O3 ratios of 1.7 by dry pressing, and fired in the temperature 1150&deg;C &plusmn; 2&deg;C. The microstructure characteristics were analysed across the surface of the varistor blocks in order to evaluate their microstructure homogeneity. Their current&#150;voltage I&#150;V and energy handling capabilities were also determined. Characteristics and electrical properties of the varistor blocks are discussed.</i></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Keywords: </b>varistor, ZnO, microstructural, additive, electrical properties, grain size.</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Introducci&oacute;n</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Las cer&aacute;micas de avanzada han sido el tema de investigaci&oacute;n y desarrollo de los &uacute;ltimos a&ntilde;os debido a sus propiedades inherentes, como alta resistencia a la abrasi&oacute;n y erosi&oacute;n, resistencia a elevadas temperaturas, propiedades magn&eacute;ticas, aislamiento t&eacute;rmico y el&eacute;ctrico (Waser, 1999; Butler, 1988). Debido a estas caracter&iacute;sticas, son usadas como aislantes, sensores, en reactores nucleares, m&oacute;dulos electr&oacute;nicos, recubrimientos, superconductores, l&aacute;ser (Ehrhart, 2003 y Knauth, 2002).</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Algunas de estas aplicaciones tecnol&oacute;gicas importantes de las cer&aacute;micas de avanzada son su uso como aislantes el&eacute;ctricos y t&eacute;rmicos en dispositivos sometidos a alto voltaje; uno de estos dispositivos son los varistores con matriz de ZnO (Matsuoka, 1971). En la actualidad, estos son muy &uacute;tiles para proteger l&iacute;neas el&eacute;ctricas de potencia. El ZnO anesteqiom&eacute;trico es un semiconductor de brecha ancha al cual se le puede hacer variar sus propiedades el&eacute;ctricas introduci&eacute;ndole impurezas de diversa naturaleza, por sinterizado de polvos o por m&eacute;todos fisicoqu&iacute;micos (William, 1976, Mitsunori, 2001). As&iacute; se mejoran las propiedades no&#150;&oacute;hmicas que pueden variar con el tipo de dopante, el tama&ntilde;o de grano y la microestructura presente en el varistor (Matsuoka, 1971; Einzinger, 1979).</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la manufactura de varistores a partir de polvos cer&aacute;micos para la protecci&oacute;n de sobrevoltajes en sistemas de distribuci&oacute;n el&eacute;ctrica, es necesario controlar la composici&oacute;n qu&iacute;mica, el tipo de impurezas, el tama&ntilde;o de part&iacute;cula, as&iacute; como controlar la presi&oacute;n durante el formado del cuerpo verde para obtener un cuerpo cer&aacute;mico denso, y el cuidado de la temperatura de sinterizado, lo cual afecta directamente las caracter&iacute;sticas el&eacute;ctricas del producto terminado (Olsson, 2001, Clarke, 1999). La no linealidad en el varistor est&aacute; generalmente expresada por un exponente no &oacute;hmico a definido por la relaci&oacute;n (1). Cuando &#945; = 1, &eacute;ste es un resistor &oacute;hmico, cuando &#945; = &#8734;, el resistor llega a ser un varistor ideal.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Los productos con alto coeficiente no lineal &#945; son los m&aacute;s utilizados, ofreciendo una mejor protecci&oacute;n a los aislamientos el&eacute;ctricos en los sistemas; estos no deber&iacute;an tener capacidades de alta absorci&oacute;n de energ&iacute;a para rangos m&aacute;s amplios de corriente (Kazuo, 1989).</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v12n2/a4s1.jpg"></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">donde:</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v12n2/a4s2.jpg"></font></p>     <blockquote>       ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>I     </i>es la corriente que fluye a trav&eacute;s del varistor</font></p>       <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>V </i>es la tensi&oacute;n entre los dos extremos del varistor, por donde fluye la corriente</font></p>       <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>k </i>es una constante que depende del material y de la geometr&iacute;a del varistor. Es directamente proporcional a la secci&oacute;n transversal que atraviesa la corriente e inversamente proporcional a la longitud del mismo</font></p>       <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&#945; es una constante que proporciona la caracter&iacute;stica de no&#150;linealidad al varistor.</font></p> </blockquote>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Procedimiento experimental</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Tres muestras fueron preparadas para la caracterizaci&oacute;n el&eacute;ctrica. Estas fueron caracterizadas a media corriente de 0.01 A de la corriente de fuga (figura (<a href="#f1">1</a>&#150;<a href="#f2">2</a>&#150;<a href="#f3">3</a>&#150;<a href="#f4">4</a>) <a href="#f5">5</a>), que es de 0.0002% de la corriente nominal de 10 kA del rango de trabajo de los varistores de media tensi&oacute;n. Para este tipo de varistor las propiedades de corriente dar&aacute;n una medida de su potencia, soporte y capacidad. Las corrientes de fuga fueron medidas empleando un medidor FLUKE Mod: 43B para la adquisici&oacute;n de datos y forma de onda. En la caracterizaci&oacute;n el&eacute;ctrica de las muestras se aplic&oacute; la normativa de ensayo el&eacute;ctrico Norma Mexicana Ance NMX&#150;J&#150;321&#150;ANCE&#150;2005 y las Normas Internacionales American National Standard International Standard 60099&#150;4 CEI IEC Second Edition 2004&#150;2005, ANSI/IEEE C62.11&#150;1987. Las caracter&iacute;sticas de las muestras obtenidas con el m&eacute;todo de manufactura descrito se muestran en las curvas de la <a href="#f6">figura 6</a>. El comportamiento de la corriente en la primer zona del varistor, regi&oacute;n de prefalla o de operaci&oacute;n, fue caracterizada aplicando un voltaje variable Vac de 60 Hz de 0 a 15000 V, registrando los datos con el medidor Fluke 43B. Los varistores, despu&eacute;s de aplicar la caracterizaci&oacute;n el&eacute;ctrica, se sometieron a la prueba de temperatura (<a href="#f7">figura 7</a>). En la preparaci&oacute;n de las pastillas se utiliz&oacute; una mezcla de ZnO con una relaci&oacute;n en peso entre Sb<sub>2</sub>O<sub>3</sub>/Bi<sub>2</sub>O<sub>3</sub> de 1.7 y otras impurezas, con un peso total de 205.2 &plusmn; 0.5 g por pastilla. Esta mezcla se puso a peso constante y se someti&oacute; a los siguientes procesos:</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Molienda</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La mezcla se coloc&oacute; dentro de un molino de bolas de zirconia (LABMILL 8000), y se moli&oacute; en seco durante 24 horas a 32 rpm a temperatura ambiente, hasta alcanzar un mezclado homog&eacute;neo y un tama&ntilde;o de part&iacute;cula de 3.0 &plusmn; 0.5 &#956;m. Concluida la molienda se extrajeron 2.5 g del polvo y se prepar&oacute; una suspensi&oacute;n en agua destilada. Esta muestra se someti&oacute; a un an&aacute;lisis electroac&uacute;stico en un equipo ScoustSizer II s/m, Flow&#150;through System, Colloidal Dymanics. El resultado del an&aacute;lisis fue un tama&ntilde;o promedio de 2.183 &#956;m y un potencial zeta de &#150;1.0 mV. Tambi&eacute;n se determin&oacute; por el m&eacute;todo del picn&oacute;metro la densidad del polvo resultante de la molienda, obteni&eacute;ndose una densidad de 5.59 &plusmn; 0.3 g/ ml y una constante diel&eacute;ctrica de 2.5.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El an&aacute;lisis se realiz&oacute; varias veces y confirm&oacute; que no exist&iacute;a variaci&oacute;n significativa (<a href="#f1">figura 1</a>).</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Prensado</b></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">El polvo seco con mezclado homog&eacute;neo y tama&ntilde;o de part&iacute;cula controlado se coloc&oacute; en dados con dimensiones de 35 mm de di&aacute;metro y se aplic&oacute; una presi&oacute;n de varias toneladas en la prensa CARVER modelo 3851&#150;0. Despu&eacute;s de prensada, la pastilla fue extra&iacute;da del troquel, con lo que se logr&oacute; una pastilla de 40.0 &plusmn; 0.5 mm de altura. Las dimensiones del cuerpo cer&aacute;mico verde se muestran en la <a href="#f2">figura 2</a></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Sinterizado</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">El cuerpo cer&aacute;mico verde se introdujo en el horno (FURNACE 6000), a temperatura ambiente y se procedi&oacute; a calentarlo a una tasa de calentamiento de 2<sup>&deg;</sup>C/min, hasta alcanzar 1150 <sup>&deg;</sup>C. Alcanzada esta temperatura se mantuvo la pastilla durante 2 horas, al cabo de las cuales se apag&oacute; el horno y se dej&oacute; enfriar con la pastilla adentro, hasta que alcanz&oacute; los 25 <sup>&deg;</sup>C. Luego se sacaron las pastillas del horno, se depositaron en charolas y se dejaron reposar por 48 h. La pastilla al final del sinterizado redujo sus dimensiones originales, mostrando una disminuci&oacute;n de 40.82 % en volumen. La apariencia del esp&eacute;cimen despu&eacute;s de sinterizado es de color verde oscuro (<a href="#f3">figura 3</a>).</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Recubrimiento</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se recubren las caras laterales de la pastilla reposada y sin pulir con una resina ep&oacute;xica, hasta alcanzar un espesor de 160.0 &plusmn; 0. 3 &#956;m. Se deja secar durante 24 h.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Electrodos</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Las pastillas recubiertas con la resina ep&oacute;xica, totalmente seca, se colocaron en charolas en donde se les aplicaron electrodos de aluminio en forma de pel&iacute;cula delgada en las superficies planas sin pulir, hasta alcanzar un espesor de 33.5 &plusmn; 3.0 &#956;m, mediante la t&eacute;cnica de Sputtering en la m&aacute;quina TAFA Flame Spray tipo Equipo de Arco completo Mod. 8830. Despu&eacute;s del secado total de los electrodos el varistor de media tensi&oacute;n qued&oacute; terminado (<a href="#f4">figura 4</a>).</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La microestructura b&aacute;sica de los varistores est&aacute; constitu&iacute;da por fases, que se forman debido a la adici&oacute;n de Bi<sub>2</sub>O<sub>3</sub> agregado al ZnO, que es el material de inicio. Con el control de estas diferentes fases, se logran las propiedades no &oacute;hmicas en el varistor. Para hacer visible la microestructura, la pastilla se someti&oacute; a un proceso de pulido, comenzando con una lija de SiC de 100 hasta el pulido a espejo, utilizando pasta de diamante de 2 pm en un pa&ntilde;o. Despu&eacute;s se atac&oacute; qu&iacute;micamente con el reactivo de Murakami y con &aacute;cido c&iacute;trico al 10%, con lo cual se revel&oacute; la microestructura, el tama&ntilde;o de grano, cantidad y tama&ntilde;o de poro (Elssner, 1999).</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f1"></a></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v12n2/a4f1.jpg"></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f2"></a></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v12n2/a4f2.jpg"></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f3"></a></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v12n2/a4f3.jpg"></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f4"></a></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v12n2/a4f4.jpg"></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f5"></a></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v12n2/a4f5.jpg"></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f6"></a></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v12n2/a4f6.jpg"></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f7"></a></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v12n2/a4f7.jpg"></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Resultados y discusi&oacute;n</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se prepararon tres muestras con la metodolog&iacute;a se&ntilde;alada; los resultados de sus propiedades f&iacute;sicas se muestran en la <a href="/img/revistas/iit/v12n2/a4t1.jpg" target="_blank">tabla 1</a>.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Caracter&iacute;sticas el&eacute;ctricas</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Caracterizaci&oacute;n</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Un varistor es una resistencia no lineal que, al estar conectado al sistema a bajas tensiones, presenta un alto valor de impedancia, permitiendo que peque&ntilde;as corrientes (del orden de los &#956;A o hasta decenas de mA) fluyan a trav&eacute;s de &eacute;l. Cuando aumenta la tensi&oacute;n a la cual est&aacute; conectado, su valor de impedancia disminuye exponencialmente, como lo indica la curva de comportamiento en la norma ANSI/IEE C62.11&#150;1987, permitiendo el paso de corrientes del orden de kA. &Eacute;sta es una caracter&iacute;stica del comportamiento del varistor. Adem&aacute;s del cambio de impedancia con la tensi&oacute;n aplicada, este se ve influenciado por la temperatura, modific&aacute;ndose la curva I&#150;V, (<a href="#f5">figura 5</a>). Las caracter&iacute;sticas I&#150;V de los varistores de ZnO se clasifican dentro de tres regiones como se muestra en la <a href="#f5">figura 5</a>. En la regi&oacute;n I, por abajo del voltaje de umbral (t&iacute;picamente un voltaje a una corriente de 1 mA/cm2), la propiedad no &oacute;hmica no es tan dependiente de la temperatura.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la regi&oacute;n II, entre el voltaje de umbral y un voltaje a una corriente de casi 100 A/cm2, la propiedad no &oacute;hmica es muy prominente y casi independiente de la temperatura. En la regi&oacute;n III, arriba de 100 A/cm2, la propiedad no &oacute;h&#150;mica decae gradualmente (Kazuo,</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">1989).</font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">El resultado de la caracterizaci&oacute;n el&eacute;ctrica de los varistores terminados se muestra en la gr&aacute;fica I&#150;V de la <a href="#f6">figura 6</a>. Esta es una caracter&iacute;stica del desempe&ntilde;o del varistor en condiciones de servicio. En &eacute;sta se muestra que la corriente se incrementa proporcionalmente con el voltaje aplicado hasta alcanzar el voltaje de umbral, lo que demuestra que los varistores probados exhiben un comportamiento el&eacute;ctrico no lineal a trav&eacute;s de la variaci&oacute;n del voltaje de 0 V hasta 13 200 V. Tambi&eacute;n se observa que mantienen su comportamiento diel&eacute;ctrico uniforme y regular para cada una de las tres pruebas a las cuales fueron sometidos, a partir de los 250 000 V/m. El exponente a se calcul&oacute; para los diferentes varistores obtenidos, donde a fue 60&plusmn;5. Los valores t&iacute;picos de a para varistores de ZnO son de 30 a 300, los valores para varistores de SiC no exceden 10.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la <a href="#f7">figura 7</a> se observa el montaje del varistor dentro del horno el&eacute;ctrico en un soporte aislado entre dos electrodos de aluminio. Para alimentar el voltaje en el varistor se introdujo el cable a trav&eacute;s de un tubo de vidrio con una rigidez diel&eacute;ctrica de 20 kV. Este cable impide la descarga el&eacute;ctrica al chasis del horno y un corto circuito en la fuente de alimentaci&oacute;n.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La prueba consisti&oacute; en calentar el varistor a un voltaje constante de 12 000 V. Este voltaje corresponde al l&iacute;mite del comportamiento lineal obtenido de la curva I&#150;V, <a href="#f6">figura 6</a>, tomando como referencia la regi&oacute;n 1 de la <a href="#f5">figura 5</a>. En estas condiciones la muestra fue sometida a cinco pruebas consecutivas, dejando un intervalo de 2 h entre cada prueba para lograr el enfriamiento completo de la muestra hasta temperatura ambiente en aire. El resultado del comportamiento de la variaci&oacute;n de la corriente con el aumento de la temperatura en el varistor se muestra en la curva I&#150;T de la <a href="#f8">figura 8</a>.</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f8"></a></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v12n2/a4f8.jpg"></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">En la gr&aacute;fica se muestra que en la primera curva p1 (primera prueba) el material alcanza mayor amperaje a menores temperaturas; por el contrario, en la tercera prueba p3 se observa que el amperaje que se alcanza es menor a mayores temperaturas. Esto se interpreta como que el componente resistivo del disco decrece cuando la temperatura var&iacute;a de 23&deg;C a 35&deg;C en p1, y en p3 el decremento es menor, ya que la temperatura var&iacute;a solamente de 18&deg;C a 25&deg;C para una corriente de referencia en ambos casos de 0.01 A. La temperatura de la pastilla se incrementa de 18&deg;C a 70&deg;C, y aun as&iacute;, la variaci&oacute;n en la impedancia interna se mantiene dentro de las caracter&iacute;sticas no lineales del comportamiento de la corriente de fuga, cumpli&eacute;ndose la condici&oacute;n para la protecci&oacute;n de l&iacute;neas en media tensi&oacute;n y el nivel de voltaje para el voltaje nominal de operaci&oacute;n.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Las pastillas terminadas se ensamblar&aacute;n en serie de al menos dos pastillas, para un voltaje de l&iacute;nea de 13 200 V, debido a que el apartarrayos del cual formar&aacute;n parte estar&aacute; sujeto a un nivel de tensi&oacute;n de 13 200/V3 V</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Microestructura</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La constituci&oacute;n de las fases de las pastillas de los varistores, una vez sinterizados, fue analizada en un difract&oacute;metro INEL modelo EQUINOX Cu (&#955;=0.1540560 nm) 30 kV y 30 mA. En el an&aacute;lisis de las fases se identificaron ZnO, ZnCr<sub>2</sub>O<sub>4</sub> y 7ZnO Sb<sub>2</sub>O<sub>5.</sub> Los modelos de difracci&oacute;n de las muestras fueron tomados sobre un rango 28 de 10 a 100 . La cantidad de las fases secundarias principales en la muestra fue estimada de la intensidad relativa de los picos m&aacute;s intensos de cada fase; los &oacute;xidos mixtos de cobalto y de zinc se reportan como probables, ya que presentan un patr&oacute;n de difracci&oacute;n pr&aacute;cticamente id&eacute;ntico, por lo que es probable que se encuentren presentes ambos o s&oacute;lo uno de ellos. Tambi&eacute;n se reporta como probable una fase de CrO, presente a 2&#952; = 59.5&deg;. Para ZnCr<sub>2</sub>O<sub>4</sub> 2&#952; = 36.5&deg; Para 7ZnO Sb<sub>2</sub>O<sub>5</sub>, fase tipo espinela, el pico a 28 = 34.7&deg;, y para el y&#150;Bi<sub>765</sub>Zn<sub>0</sub> <sub>35</sub> O<sub>1183 </sub>el pico a 2&#952; = 35.5&deg;. La intensidad relativa, I<sub>r</sub> en (%), fue determinada como la relaci&oacute;n entre el pico caracter&iacute;stico de la fase analizada y el pico m&aacute;s intenso del modelo de difracci&oacute;n de Rayos X (i.e. el pico m&aacute;s intenso de la fase del ZnO con una estructura tipo wurtzita a 2&#952; = 34.502&deg;, d=0.25974 nm), (<a href="#f9">figura 9</a>).</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f9"></a></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v12n2/a4f9.jpg"></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La <a href="#f10">figura 10</a> muestra la micrograf&iacute;a &oacute;ptica del varistor a 800x, obtenida en un microscopio metalogr&aacute;fico Carl Zeiss 2200.</font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><a name="f10"></a></font></p>     <p align="center"><font face="verdana" size="2"><img src="/img/revistas/iit/v12n2/a4f10.jpg"></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">La microestructura muestra cuatro fases b&aacute;sicas: wurtzita ZnO espinela, pirocloro y varias fases amorfas ricas en bismuto, como lo confirma la cantidad de poros que se muestran como porciones negras, comprobando la presencia de cuatro aditivos b&aacute;sicos para el control de las propiedades no &oacute;hmicas del varistor terminado.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Conclusiones</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">Se obtuvo el proceso de manufactura de varistores de ZnO con un di&aacute;metro de 30 mm y 40 mm de altura para media tensi&oacute;n de 13 000 V a 34 000 V. Las muestras fueron dopadas con una relaci&oacute;n constante en peso de Sb<sub>2</sub>O<sub>3</sub>/Bi<sub>2</sub>O<sub>3</sub> de 1.7 y otros aditivos. Se encontr&oacute; que la relaci&oacute;n de los dopantes, as&iacute; como el sinterizado del cuerpo verde a la temperatura de 1150C &plusmn; 2&deg;C, modifica la distribuci&oacute;n y el tama&ntilde;o de grano en la microestructura y con ello las caracter&iacute;sticas el&eacute;ctricas I&#150;V del varistor.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Agradecimientos</b></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<p align="justify"><font face="verdana" size="2">Los autores agradecen al CONCYTEG, a la empresa MULTICO S. A. de C.V de P&eacute;njamo Guanajuato y a la FIMEE de la Universidad de Guanajuato, por el apoyo financiero recibido para el desarrollo de este proyecto.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Referencias</b></font></p>     <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Buchanan R.C. <i>Ceramic Materials for Electronics. </i>Waser R. ed. New York. John Wiley and Sons. 2003. pp. 467&#150;491</font>&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4257695&pid=S1405-7743201100020000400001&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --><!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Butler N., McClelland J., Iwasa S. Ambient Temperature Solid State Pyroelectric IR Imaging Arrays. <i>Proc SPIE, 930 Infrared Detectors and Arrays. </i>Pp. 151&#150;163. 1988.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4257696&pid=S1405-7743201100020000400002&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>     <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Clarke D.R. Varistor Ceramics. <i>J. Am. Ceram. </i>Soc., 82(3):485&#150;502. 1999.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4257698&pid=S1405-7743201100020000400003&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>     <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Einzinger R., Grain Junction Properties of ZnO Varistors Applications of Surface Science. <i>North&#150;Holland Publishing Company, </i>3:390&#150;408. 1979.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4257700&pid=S1405-7743201100020000400004&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Elssner G., Hoven H., Kiessler G., Wellner P. <i>Ceramics and Ceramic Composites: Materialographic Preparation. </i>First Edition. The Netherlands, Elsiever Science Inc. 1999. Pp. 97&#150;100.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4257702&pid=S1405-7743201100020000400005&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>     <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Kazuo E. Zinc Oxide Varistors. <i>IEEE Electrical Insulation Magazine, </i>5(6):28&#150;41. November&#150;December 1989. ISSN: 0883&#150;7554.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4257704&pid=S1405-7743201100020000400006&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>     <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Knauth P., Tuller Hl. Solid State Ionics: Roots, Status and Future Prospects. <i>J. Am. Ceram. Soc, </i>85:1654&#150;1680. 2002.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4257706&pid=S1405-7743201100020000400007&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>     <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Matsuoka M. Nonohmic Properties of Zinc Oxide Ceramics. <i>Japan J. Appl. Phys, </i>10:736&#150;746. 1971.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4257708&pid=S1405-7743201100020000400008&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>     <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Mitsunori H., Hideaki I., Junichi S., Susumu N., Isao K. Development of Advanced Built&#150;In Surge Arresters for Distribution System with New Zinc&#150;Oxide Elements. <i>IEEE Transactions on Power Delivery, </i>16(4):576&#150;590. 2001.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4257710&pid=S1405-7743201100020000400009&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>     ]]></body>
<body><![CDATA[<!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Olsson E., Falk L.K.L., Dunlop G.L., &Ouml;sterlund R. The Microstructure of a ZnO Varistor Material. <i>Journal of Materials Science, </i>20:4091&#150;4098. 1985.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4257712&pid=S1405-7743201100020000400010&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>     <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">Waser R. Modeling of Electroceramics&#150;Applications and Prospects. <i>J. Eur. Ceram. Soc., </i>19:655&#150;664. 1999.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4257714&pid=S1405-7743201100020000400011&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>     <!-- ref --><p align="justify"><font face="verdana" size="2">William M.G. Physical Properties of Electrical Barriers in Varistors. <i>J. Vac. Sci. Technol, </i>13(4):926&#150;931. 1976.    &nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;&nbsp;[&#160;<a href="javascript:void(0);" onclick="javascript: window.open('/scielo.php?script=sci_nlinks&ref=4257716&pid=S1405-7743201100020000400012&lng=','','width=640,height=500,resizable=yes,scrollbars=1,menubar=yes,');">Links</a>&#160;]<!-- end-ref --></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2">&nbsp;</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><b>Semblanza de los autores</b></font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>B&aacute;rbara Gonz&aacute;lez&#150;Rol&oacute;n. </i>Actualmente es miembro del Sistema Nacional de Investigadores Nivel 1. En 1997 obtuvo su doctorado en ciencia de materiales en la Universidad Aut&oacute;noma de M&eacute;xico, actualmente es profesor investigador del Departamento de Ing. Mec&aacute;nica de FIMEE de la Universidad de Guanajuato. Su principal inter&eacute;s, la investigaci&oacute;n y el desarrollo de cer&aacute;micas de avanzada para aplicaciones tecnol&oacute;gicas.</font></p>     <p align="justify"><font face="verdana" size="2"><i>Fernando Ireta&#150;Moreno. </i>Actualmente es profesor investigador del Departamento de Ing. El&eacute;ctrica de FIMEE de la Universidad de Guanajuato. Obtuvo su maestr&iacute;a en ingenier&iacute;a el&eacute;ctrica en 1992 por la FIMEE de la Universidad de Guanajuato, su principal inter&eacute;s en investigaci&oacute;n es el desarrollo de pruebas el&eacute;ctricas en alta tensi&oacute;n.</font></p>     ]]></body>
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