Caracterización de componentes fotónicos utilizando reflectometría optica de baja coherencia*
C. Palavicinia, Y. Jaouëna, P. Galliona, G. Campuzanob
a Ecole Nationale Supérieure des Télécommunications, Département Communications et Electronique, 46, rue Barrault, 75634 Paris Cédex 13, Francia, e–mail: carlos.palavicini@enst.fr, jaouen@enst.fr, gallion@enst.fr
b Instituto Tecnológico y de Estudios Superiores de Monterrey, Centro de Electrónica y Telecomunicaciones, Av. Eugenio Garza Sada 2501 Sur, 64849, Monterrey, N.L., México, e–mail: campuzano@itesm.mx
* Este trabajo fue realizdo con el auspicio de una beca de postgrado del Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología (México).
]]> Recibido el 27 de febrero de 2006
Resumen
La reflectometría óptica de baja coherencia ha sido aplicada a la caracterización de nuevos componentes ópticos utilizados en sistemas de telecomunicaciones emergentes. Esta técnica no destructiva y versátil, permite la detección, localización y cuantificación de discontinuidades existentes en los componentes fotónicos, obteniendo así una informacion precisa y directa sobre las propiedades ópticas de dichos componentes.
Descriptores: Reflectometría de baja coherencia; caracterización de dispositivos fotonicos.
Abstract
Optical low–coherence reflectometry has been succesfully applied to the characterization of photonic devices. This non–destructive and versatile technique permits the detection, localization and quantification of scattering discontinuities of optoelectronic devices, yielding an accurate and direct information of the optical properties of the device.
Keywords: Optical low–coherence reflectometry; photonic device characterization.
]]>PACS: 42.87.–d; 85.60.
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