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Journal of applied research and technology
versión On-line ISSN 2448-6736versión impresa ISSN 1665-6423

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BALLESTEROS-ELIZONDO, S; PARGA-TORRES, J. R.; RINCON-LOPEZ, J. Ma. y PALACIOS-GONZALEZ, E. Transmission Electron Microscopy (TEM) Through Focused ION Beam (FIB) from Vitrified Chromium Wastes. J. appl. res. technol [online]. 2011, vol.9, n.2, pp.242-248. ISSN 2448-6736.

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