Revista mexicana de física versão impressa ISSN 0035-001X
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EDUARDO-RIVER L., J. et al. Determination of the barrier height of Pt-Ir Schottky nano-contacts on Al-doped ZnO thin films by conductive Atomic Force Microscopy. Rev. mex. fis. [online]. 2018, vol.64, n.6, pp.655-661.
Epub 05-Nov-2019. ISSN 0035-001X.
