Revista mexicana de física Print version ISSN 0035-001X
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VILLEGAS, E.; PARRA, R. and RAMAJO, L.. Métodos de medición de espesores de películas delgadas basadas en óxidos semiconductores. Rev. mex. fis. [online]. 2018, vol.64, n.4, pp.364-367.
ISSN 0035-001X.