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Superficies y vacío
versión impresa ISSN 1665-3521

 

Tabla de contenido
Superf. vacío vol.24 no.1 México mar. 2011

Óxido de silicio SOG como dieléctrico de compuerta recocido a 200°C
Domínguez-J., M. A.; Rosales-Q., P.; Torres-J., A.; Molina-R., J.; Moreno-M., M.; Zúñiga-I., C.; Calleja-A, W.; Coyotl-M., Felipe

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Estudio del mecanismo de transporte en películas de silicio poroso
Vásquez-A, M. A.; Romero-Paredes, G.; Peña-Sierra, R

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Análisis por simulación molecular de las propiedades electrónicas de la hoja de SnC hexagonal
Chigo Anota, Ernesto

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Convertidor RF-CD para aplicaciones en etiquetas pasivas RFID
Martínez-Castillo, J.; García-Ramirez, P. J.; García-González, L.; Herrera-May, L.; Sauceda-Carvajal, Á.; Castellanos-Mier, A.; Solís-Bustos, Sergio

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Shifting to the red the absorption edge in TiO2 films: a photoacoustic study
Gordillo-Delgado, F.; Villa-Gómez, K.; Marín, E

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Electrorremediación de suelos arenosos contaminados por Pb, Cd y As provenientes de residuos mineros, utilizando agua y acido acético como electrolitos
García Hernández, Laura; Vargas Ramírez, Marissa; Reyes Cruz, Víctor

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