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Superficies y vacío
versão impressa ISSN 1665-3521

 

Sumário
Superf. vacío vol.18 no.3 México Set. 2005

Characterization by photoreflectance of E 0 ´ and E 1 silicon-like critical points in ion implanted Si 1-y C y thin films
Melendez-Lira, M.

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Structural evolution of Bi 2 O 3 prepared by thermal oxidation of bismuth nano-particles
Salazar-Pérez, A. J.; Camacho-López, M. A.; Morales-Luckie, R. A.; Sánchez-Mendieta, V.; Ureña-Núñez, F.; Arenas-Alatorre, J.

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Infrared and Raman characterization of amorphous carbon nitride thin films prepared by laser ablation
Escobar-Alarcón, L.; Arrieta, A.; Camps, E.; Romero, S.; Camacho-Lopez, M. A.

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Estudio de las películas de paladio como barreras de difusión para contactos ohmicos en semiconductores III-V
Galván-Arellano, M.; Kudriavtsev, I.; Romero-Paredes, G.; Peña-Sierra, R.; Díaz-Reyes, J.

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Fundamentos teóricos de la optimización de la electrónica de medición para experimentos con técnicas fotopiroeléctricas
Ivanov, R.; Moreno, I.; Gutiérrez-Juárez, G.; Vargas-Luna, M.; Pichardo-Molina, J. L.

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Semiconductor thin films grown by RF-co-sputtering of CdTe and Al targets
Melendez-Lira, M.; Becerril-Silva, M.; Zapata-Torres, M.; Mendoza-Galván, A.; Jiménez-Sandoval, S.

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Characterization of optical and structural properties of GaAsN layers grown by Molecular Beam Epitaxy
Pulzara-Mora, A.; Cruz-Hernández, E.; Rojas-Ramirez, J.; Contreras-Guerrero, R.; Meléndez-Lira, M.; Falcony-Guajardo, C.; López-López, M.; Aguilar-Frutis, M. A.; Vidal, M. A.

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Microwave ECR plasma nitriding of AISI 4140 steel
Camps, E,; Escobar-Alarcón, L.; Chirino, S.; Mejía-Hernández, J. A.

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