Degradación de películas delgadas de sulfuro de cobre en ambiente costero

 

J.O. Aguilar*¹, G. Sánchez–Pool¹, C. López–Mata¹, R. Acosta¹, J. Hernández¹, O. Gómez–Daza², J. Campos²

 

¹ División de Ciencias e Ingeniería, Universidad de Quintana Roo Boulevard Bahía s/n, Col. Del Bosque, Chetumal Quintana Roo, México, C.P. 77019. *ovidio@uqroo.mx.

² Departamento de Materiales Solares, Centro de Investigación en Energía, UNAM, Priv. Xochicalco s/n col. Centro, Temixco, Morelos, México. C.P. 62580.

 

Recibido: 19 de septiembre de 2009.
Aceptado: 25 de enero de 2010.

 

Resumen

Se presenta la tasa de degradación óptica de películas delgadas semiconductoras de sulfuro de cobre expuestas al medio ambiente. Los análisis de composición química realizados con EDAX (Energy Dispersive Analysis X–Ray) mostraron un incremento de oxígeno (3.6% a 9.5% w/w) en películas expuestas al ambiente en comparación con las almacenadas en bolsas plásticas, lo que ocasiona una rápida degradación. La caracterización óptica de las películas semiconductoras muestra que conforme transcurre el tiempo, la transmitancia aumenta en las regiones ultravioleta, visible, y cercano infrarrojo. Esta variación en los parámetros ópticos está estrechamente relacionada con la reducción del contenido de cobre en las películas de CuS.

Palabras Clave: Películas delgadas; Degradación; Transmitancia óptica; Reflectancia especular.

 

Abstract

Optical degradation rate of CuS semiconductor thin films exposed to atmosphere was presented. The EDAX showed an increment of oxygen contents (3.6% to 9.5% w/w) in thin films exposed to atmosphere in comparison with the stored in plastic bags which lead to fast degradation. The CuS thin film optical characterization shows, that the thin films aging it cause a major transmittance values in ultraviolet, visible and near infrared spectral regions, which means a thermal load gain trough this films. This variation in the optical parameters is closely related to the reduction of Cu in the thin film.

Keywords: Thin films; Degradation; Transmittance; Specular reflectance; CuS.

 

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Agradecimientos

Los autores agradecen el financiamiento del Conacyt a través del proyecto 59802. También se agradece a la División de Ciencias e Ingeniería por el financiamiento parcial de esta investigación. G. Sánchez agradece la beca otorgada por el Conacyt para la realización de tesis de licenciatura. Se agradece a la M.C. María Luisa Ramón por las mediciones de XRD. Un agradecimiento especial a los Doctores P.K. Nair y M.T.S. Nair por las observaciones hechas a este trabajo. Finalmente, se agradece el apoyo del Dr. Román Castro por las mediciones de SEM y EDAX.

 

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