Resumen

La espectroscopia de fotoelectrones de rayos se utiliza ampliamente para determinar la composición química y los estados de oxidación de materiales sólidos. Para la cuantificación con XPS es necesario tener factores de sensibilidad relativos confiables. Se presentan espectros XPS generales y de alta resolución de los estándares de MoO₃, WO₃ y Bi₂O₃. El estado de oxidación de oxígeno no cambia en los estándares; por lo tanto se toma como referencia el factor de sensibilidad del oxígeno. Se obtienen los factores de sensibilidad XPS para Mo, W y Bi; y a continuación se hace uso de estos para la cuantificación de los catalizadores de Bi₂Mo_xW_1-xO₆. También se determinan los compuestos que se forman en estos catalizadores.

Palabras clave: Catalyst; XPS; quantification

Abstract

X-ray photoelectron spectroscopy is used widely to determine the chemical composition and oxidation states of solid materials. For quantification with XPS it is necessary to have reliable sensitivity factors. XPS general and high resolution spectra of standards of MoO₃, WO₃ and Bi₂O₃ are presented. The oxidation state of oxygen does not change in the standards; therefore the sensitivity factor of oxygen is taken like reference. XPS sensitivity factors of Mo, W and Bi are obtained; and next use becomes of these for the quantification of the catalysts of Bi₂Mo_xW_1-xO₆. Also the compounds that form in these catalysts are determined.

Keywords: Catalizadores; XPS; Cuantificación