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Superficies y vacío

versión impresa ISSN 1665-3521

Superf. vacío vol.18 no.4 Ciudad de México dic. 2005

 

Articles

Factores de sensibilidad XPS para la cuantificación de catalizadores de Bi 2 Mo x W 1-x O 6

P. Bartolo-Pérezb 

J.L. Peñaa 

R. Rangelc 

A. Manzanillad 

I. Riechd 

a Departamento de Física Aplicada, CINVESTAV-IPN, Unidad Mérida, 97310, Mérida, Yuc., México.

b Programa de Corrosión del Golfo México de la Universidad Autónoma de Campeche, Av. Agustín Melgar s/n, Col. Buena Vista, 24030, Campeche, Cam., México.

c Facultad de Ingeniería Química, Universidad Michoacana de San Nicolás de Hidalgo, Edificio “K”, Ciudad Universitaria. 58060, Morelia, Mich., México.

d Facultad de Ingeniería Física, Universidad Autónoma de Yucatán, Mérida, Yuc., México.


Resumen

La espectroscopia de fotoelectrones de rayos se utiliza ampliamente para determinar la composición química y los estados de oxidación de materiales sólidos. Para la cuantificación con XPS es necesario tener factores de sensibilidad relativos confiables. Se presentan espectros XPS generales y de alta resolución de los estándares de MoO3, WO3 y Bi2O3. El estado de oxidación de oxígeno no cambia en los estándares; por lo tanto se toma como referencia el factor de sensibilidad del oxígeno. Se obtienen los factores de sensibilidad XPS para Mo, W y Bi; y a continuación se hace uso de estos para la cuantificación de los catalizadores de Bi2MoxW1-xO6. También se determinan los compuestos que se forman en estos catalizadores.

Palabras clave: Catalyst; XPS; quantification

Abstract

X-ray photoelectron spectroscopy is used widely to determine the chemical composition and oxidation states of solid materials. For quantification with XPS it is necessary to have reliable sensitivity factors. XPS general and high resolution spectra of standards of MoO3, WO3 and Bi2O3 are presented. The oxidation state of oxygen does not change in the standards; therefore the sensitivity factor of oxygen is taken like reference. XPS sensitivity factors of Mo, W and Bi are obtained; and next use becomes of these for the quantification of the catalysts of Bi2MoxW1-xO6. Also the compounds that form in these catalysts are determined.

Keywords: Catalizadores; XPS; Cuantificación

Texto completo disponible sólo en PDF.

Agradecimientos

Se agradece el apoyo técnico proporcionado por Wilian Cauich, Mario Herrera, Osvaldo Gómez. También se agradece el apoyo secretarial de Lourdes Pinelo.

Referencias

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Recibido: 08 de Septiembre de 2005; Aprobado: 10 de Octubre de 2005

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