Resumo

RIVERA, Margarita  e  ARENAS-ALATORRE, Jesús. De los micrómetros a los picómetros: evolución de las técnicas de microscopía para el estudio de nanomateriales. Mundo nano [online]. 2019, vol.12, n.23.  Epub 12-Jun-2020. ISSN 2448-5691.  https://doi.org/10.22201/ceiich.24485691e.2019.23.67334.

En las últimas décadas, las técnicas de microscopía electrónica (EM) y microscopía de barrido por sonda (SPM) han contribuido enormemente al estudio de nanomateriales en muchos campos de investigación, dando información de propiedades morfológicas, estructurales, de superficie, eléctricas y magnéticas, entre muchas otras. Los avances tecnológicos recientes asociados con estas técnicas han permitido alcanzar límites de resolución espacial que hace 25 años era inimaginables, siendo los últimos valores reportados de decenas de picómetros (10-12 m). Adicionalmente, estas técnicas han crecido en sus capacidades de análisis en el campo de las nanociencias y nanotecnología, dando lugar a otras microscopías independientes, o incluso complementarias, que han contribuido al entendimiento de fenómenos de interacción y propiedades fisicoquímicas a escalas atómicas y moleculares. En este articulo, se hace un análisis de la trascendencia actual que tienen las técnicas de microscopía electrónica y de microscopia de barrido por sonda, y se mencionan brevemente algunos de sus alcances actuales como métodos de caracterización y análisis. Finalmente, se señalan algunas retos, así como perspectivas, en cuanto a su enorme potencial para impulsar el estudio y entendimiento de procesos físicos y químicos a nanoescala.

Palavras-chave : microscopía electrónica de barrido; microscopía electrónica de barrido de emisión de campo; microscopía electrónica de transmisión; campo oscuro anular a ángulo grande en alta resolución; microscopía electrónica de transmisión de barrido; microscopía de fuerza atómica; microscopía de efecto tunel; espectroscopía de tunelamiento de barrido; microscopía de fuerza magnética.

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