Resumen

LIZARDI NIETO, Víctor José  y  GONZALEZ ROJANO, Norma. Centro Nacional de Metrología. Mundo nano [online]. 2016, vol.9, n.16, pp.168-178.  Epub 28-Ago-2020. ISSN 2448-5691.  https://doi.org/10.22201/ceiich.24485691e.2016.16.56911.

La metrología juega un papel fundamental en el sostenimiento de una sociedad eficiente y tecnológicamente justa. El Centro Nacional de Metrología, CENAM, fue creado con el fin de apoyar al sistema metrológico nacional y entre sus funciones principales está el establecimiento y el mantenimiento de los patrones nacionales de medida y materiales de referencia certificados, mediante los cuales es posible asegurar la uniformidad entre las mediciones que se realizan en México. El avance de la tecnología y las exigencias de competitividad de los mercados fomentan el desarrollo tecnológico de los sectores productivos maduros, dinámicos y emergentes. La nanotecnología, considerada como una tecnología emergente, promete un gran potencial para aplicaciones y beneficios que pueden contribuir a la economía y a la protección de la salud y el ambiente en el país, pero también presenta retos en cuanto a la infraestructura metrológica que se requiere para sustentar su desarrollo. Este artículo muestra las actividades que realiza el CENAM por medio de su Programa de Metrología para las Nanotecnologías para atender de manera sistemática, las necesidades de medición en la nanoescala y plantea las perspectivas para el soporte de las nanociencias y para el aprovechamiento de las nanotecnologías.

Palabras llave : Metrología; patrones de medida; nanotecnologías; mediciones; ProMetNano.

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