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Nova scientia
versión On-line ISSN 2007-0705
Resumen
SAUCEDO ANAYA, Tonatiuh y PUCH CEBALLOS, Felipe. Medición simultánea en dos dimensiones por interferometría holográfica digital utilizando dos láseres y una cámara 3CCD. Nova scientia [online]. 2014, vol.6, n.11, pp.67-80. ISSN 2007-0705.
Se presenta un arreglo en Interferometría Holográfica Digital (IHD) para medir simultáneamente en 2D micro deformaciones en la superficie de objetos ópticamente rugosos. En el arreglo se usa una cámara 3CCD color y dos fuentes de luz láser de 458nm y 633nm que permite grabar simultáneamente dos hologramas digitales. El arreglo se prueba en una placa metálica la cual es microscópicamente deformada al ser calentada ligeramente por un cautín. Los resultados experimentales muestran el potencial metrológico del sistema para caracterizar cantidades mecánicas en la estructura del objeto.
Palabras llave : Interferometría holográfica digital; metrología; micro deformación; caracterización mecánica.