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Journal of applied research and technology

versión On-line ISSN 2448-6736versión impresa ISSN 1665-6423

Resumen

BALLESTEROS-ELIZONDO, S; PARGA-TORRES, J. R.; RINCON-LOPEZ, J. Ma.  y  PALACIOS-GONZALEZ, E. Transmission Electron Microscopy (TEM) Through Focused ION Beam (FIB) from Vitrified Chromium Wastes. J. appl. res. technol [online]. 2011, vol.9, n.2, pp.242-248. ISSN 2448-6736.

Este estudio muestra como el Focused Ion Beam (FIB) ha sido aplicado a materiales obtenidos de la vitrificación de residuos de cromo. Debido a problemas de desprendimiento de material cuando se aplicó el proceso de adelgazamiento por el método convencional de Ar+ ion milling fue necesario preparar las muestras usando FIB. Las dificultades se deben al tamaño heterogéneo de las espinelas de cromo y presencia de la fase vítrea residual. El FIB se utilizó para obtener laminillas delgadas de material vitrificado. Las muestras frágiles y heterogéneas que resultan del corte y pulido presentan muchas perforaciones y rebabas cuando se utiliza el método convencional de adelgazamiento a espesores por debajo de los 100 nm. Como método alternativo, el FIB permitió el adelgazamiento de muestras en el orden de 60-80 nm en áreas específicamente seleccionadas conteniendo cristales de espinelas Mg(Al,Cr)2O4 con el fin de facilitar las observaciones en Microscopía Electrónica de Transmisión (MET). Este artículo muestra cómo el FIB representa una micro-herramienta muy poderosa como método de preparación de muestras para corte y adelgazamiento de muestras frágiles, además de ser una alternativa de mayor alcance que la preparación de muestras por ceramografía o por el método de desbaste y pulido con iones Ar+. El método FIB es mucho menos destructivo y con mayor capacidad para observar aéreas de la muestra en cuanto a la cantidad y análisis de las fases microcristalinas presentes.

Palabras clave : Focused Ion beam (FIB); Transmission Electron Microscopy (TEM); Selected Area Diffraction Patterns(SADP).

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