Resumen

SANDOVAL-IBARRA, Federico. An Automatic Test Environment for Microelectronics Education and Reserch. J. appl. res. technol [online]. 2008, vol.6, n.1, pp.01-13. ISSN 2448-6736.

Se ha desarrollado un ambiente automático de pruebas (ATE) basado en un PSoC comercial para realizar la caracterización eléctrica de circuitos integrados (CIs). Los CIs son diseñados para propósitos académicos y de investigación como parte del programa de posgrado de la Unidad Guadalajara del CINVESTAV; esos CIs son fabricados en tecnologías pozo-N, 5-V, 1.5μm/0.5μm CMOS estándar. El ATE ofrece capacidades de programación para desarrollar arquitecturas amo-esclavo, memoria para almacenar información, generador de funciones para estimular circuitos y sistemas, fuente de voltaje/corriente para diversos propósitos, mediciones en voltaje/corriente, y puertos para descargar información experimental a una computadora personal. A la fecha, varios CIs han sido caracterizados con ayuda del ATE. En esta contribución, por cuestiones de espacio, se presentan algunos ejemplos basados en transistores MOS para mostrar la operación del ATE y también para mostrar cómo los resultados experimentales de los dispositivos bajo caracterización se validaron a través de simulaciones SPICE, de información experimental dada por los fabricantes, y también usando equipo de medición comercial.

Palabras llave : Microelectrónica; medición de variables eléctricas; enseñanza.

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