SciELO - Scientific Electronic Library Online

 
vol.18 número4Fabricación de guías de onda ópticas en silicio utilizando óxido de silicio y nitruro de silicioSynthesis and characterization of LiNiO 2 targets for thin film deposition by pulsed laser ablation índice de autoresíndice de assuntospesquisa de artigos
Home Pagelista alfabética de periódicos  

Serviços Personalizados

Journal

Artigo

Indicadores

Links relacionados

  • Não possue artigos similaresSimilares em SciELO

Compartilhar


Superficies y vacío

versão impressa ISSN 1665-3521

Resumo

SALDANA, Xóchitl I.  e  ARRIAGA, J.. Estudio de la reflectancia en cristales fotónicos unidimensionales con índice de refracción de envolvente gaussiana. Superf. vacío [online]. 2005, vol.18, n.4, pp.24-26. ISSN 1665-3521.

Presentamos la reflectancia de ondas electromagnéticas de polarizaciones TE y TM en función de la razón de la longitud total de la estructura a la longitud de onda de la radiación incidente y del ángulo de incidencia de un cristal fotónico unidimensional cuyos índices de refracción varían de acuerdo a una envolvente gaussiana usando el método de la matriz de transferencia. Observamos que es posible obtener una reflectancia igual a uno para las dos polarizaciones y todos los ángulos de incidencia dentro de un rango de longitudes de onda que puede ser sintonizado a diferentes valores del espectro electromagnético ajustando adecuadamente los parámetros que caracterizan la estructura.

Palavras-chave : Reflectancia; Cristal fotónico unidimensional.

        · resumo em Inglês     · texto em Espanhol     · Espanhol ( pdf )