Resumo

BARTOLO-PEREZ, P. et al. Factores de sensibilidad XPS para la cuantificación de catalizadores de Bi ₂ Mo _x W _1-x O ₆. Superf. vacío [online]. 2005, vol.18, n.4, pp.13-17. ISSN 1665-3521.

La espectroscopia de fotoelectrones de rayos se utiliza ampliamente para determinar la composición química y los estados de oxidación de materiales sólidos. Para la cuantificación con XPS es necesario tener factores de sensibilidad relativos confiables. Se presentan espectros XPS generales y de alta resolución de los estándares de MoO3, WO3 y Bi2O3. El estado de oxidación de oxígeno no cambia en los estándares; por lo tanto se toma como referencia el factor de sensibilidad del oxígeno. Se obtienen los factores de sensibilidad XPS para Mo, W y Bi; y a continuación se hace uso de estos para la cuantificación de los catalizadores de Bi2MoxW1-xO6. También se determinan los compuestos que se forman en estos catalizadores.

Palavras-chave : Catalyst; XPS; quantification.

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