Resumen

FERMIN, J.R.; SALCEDO, D.Y.; DURANTE RINCON, C.  y  CASTRO, J.A.. Análisis de tensión/tamaño en compuestos ternarios AgIn₅VI₈ (VI = S, Se, Te) mediante difracción de Rayos-x. Rev. mex. fis. [online]. 2017, vol.63, n.4, pp.345-350. ISSN 0035-001X.

En este trabajo estudiamos las propiedades microestructurales de compuestos ternarios AgIn5VI8 (VI= S, Se, Te) mediante la técnica de Difracción de Rayos-X (DRX). El ancho de línea del perfil de DRX es medido como función del ángulo de difracción. Los parámetros microestructurales, tales como, el tamaño medio de grano, microtensión y densidad de dislocaciones cristalinas, son obtenidos a partir de un análisis de Tensión/Tamaño basado en la ecuación modificada de Scherrer para perfiles Gaussianos. La distribución de las dislocaciones cristalinas corresponde a la cola de una función de Gaussiana, indicando que estas conforman arreglos aleatorios en los granos.

Palabras llave : Análisis de tensión/tamaño; ecuación modificada de Scherrer; parámetros microestructurales; compuestos ternarios AgIn₅VI₈.

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