Abstract

LOPEZ-MALDONADO, G. et al. Graphite thin film characterization using a simplified resonant near field scanning microwave microscope. Rev. mex. fis. [online]. 2014, vol.60, n.1, pp.88-94. ISSN 0035-001X.

Presentamos una descripción del diseño de un microscopio de microondas altamente simplificado de exploración por barrido con resonador coaxial que opera en el campo cercano a 7.4 GHz configurado para la medición de la resistencia superficial y la obtención de imágenes topográficas con resolución micrométrica. El diseño de una sonda altamente estable permite la sintonización rápida de la frecuencia de resonancia mediante un sistema mecánico, y esto hace posible una implementación eficiente de la microscopía de microondas de campo cercano. Las imágenes y mediciones presentadas corresponden a una película de grafito granular no uniforme cuya resistencia superficial medida concuerda con los datos reportados en la literatura.

Keywords : Microscopía de microondas de campo cercano; resistencia superficial; imágenes topográficas; sonda resonante; frecuencia resonante.

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