Abstract

SAUCEDO, T.; PEREZ-ARRIETA, L.; HINOJOSA, S.  and  RIVERA, J.M.. IHD para medir simultáneamente en 2D, usando dos fuentes independientes de luz laser con longitud de coherencia grande. Rev. mex. fis. [online]. 2013, vol.59, n.2, pp.117-122. ISSN 0035-001X.

Se presenta un arreglo para medir simultáneamente dos componentes ortogonales de deformación en la superficie de un objeto. El arreglo, basado en interferometría holográfica digital, usa dos láseres para grabar independientemente dos hologramas en un sólo cuadro de la cámara CCD. El arreglo se prueba con una placa metálica que cambia ligeramente sus dimensiones al ser calentada Trabajos recientes en el desarrollo de este tipo de arreglos, muestran limitantes en el hecho de no poder usar fuentes de luz con longitud de coherencia relativamente grandes. Este arreglo esta exento de esa limitante.

Keywords : Interferometría holográfica; patrones de Speckle y Moiré; técnicas de pruebas ópticas; interferometría de desplazamiento de fase.

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