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Revista mexicana de física

versión impresa ISSN 0035-001X

Resumen

BURCIAGA-VALENCIA, D.C. et al. Synchrotron radiation study of the uranium chemical species electrodeposited for alpha spectrometry sources. Rev. mex. fis. [online]. 2011, vol.57, suppl.1, pp. 21-29. ISSN 0035-001X.

La espectrometría alfa (EA) con detectores de semiconductor tiene aplicaciones en mediciones de datos para desintegraciones nucleares, estudios ambientales, geológicos y de residuos nucleares, así como en otros trabajos que requieran la determinación de contenidos de actínidos y otros emisores alfa. Para obtener buenas medidas, las fuentes para EA deben ser finas y de forma que permitan obtener espectros alfa con buena resolución energética. Las fuentes para EA producidas por electrodeposición consisten en un depósito radiactivo sobre un sustrato metálico (cátodo de la celda electroquímica). Las fuentes de U natural preparadas por el método de Hallstadius contienen Pt co-precipitado, originado por la disolución del ánodo durante la electrodeposición. Un trabajo recientemente publicado presenta un estudio sobre la morfología y distribución espacial de los depósitos de U/Pt en relación con la especiación química del U, usando microscopía electrónica de barrido con espectroscopia de rayos X dispersiva en energía, espectroscopia de fotoelectrones de rayos X y de estructura fina de la absorción de rayos X (XAFS). El propósito del presente trabajo es explicar la estructura de los depósitos de Pt/U. Se han obtenido nuevos espectros del borde de absorción U LIII por salida total de electrones en el haz 2-3 de la Fuente de Radiación Sincrotrónica de Stanford (SSRL). Los patrones de difracción de rayos X de incidencia rasante (GI-XRD) muestran una distribuciónbimodal de tamaño de grano del Pt, con dimensiones de 5 a 20 nm; el patrón de difracción de la schoepita sugiere dimensiones de ~5 nm, es decir, de baja cristalización. Los espectros de XAFS se ajustaron asumiendo dos estructuras diferentes: el hidróxido de uranilo y la schoepita, y los resultados se compararon. Las trayectorias fotoelectrónicas U-U muestran bajas intensidades, lo que también puede deberse a baja cristalización.

Palabras llave : Uranio; difracción de rayos X con incidencia rasante; estructura fina de la absorción de rayos X; radiación sincrotrónica.

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