Abstract

MONTOYA-SUAREZ, E  and  ORTEGA-CISNEROS, S. Medición de temperatura usando un VCO integrado en silicio. Rev. mex. fis. [online]. 2011, vol.57, n.6, pp.535-540. ISSN 0035-001X.

La frecuencia de oscilación f₀ de un VCO current-starved es usada para sensar temperatura en el rango de 20 a 99°C. Debido a que la frecuencia f₀ es directamente proporcional a la corriente de cortocircuito de la celda básica de construcción (compuerta NOT), y considerando que esta corriente, I_SHORT, es directamente proporcional a la movilidad de portadores, es posible explicar como es que f₀ varía con cambios en la temperatura, T. El diseño del oscilador, manufacturado en una tecnología CMOS, pozo N, 0.5 μm, 5V, permite su integración con circuitos digitales de acondicionamiento cuyo principio básico de operación es la medición de la frecuencia en intervalos de 53 ms; esta ventana de tiempo es resultado del ajuste lineal (con un coeficiente de correlación r=0.996) aplicado a la característica f₀ vs. T.

Keywords : Osciladores; teoría de circuitos; mediciones eléctricas; dispositivos de efecto de campo.

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