Abstract

GUADARRAMA-SANTANA, A.  and  GARCIA-VALENZUELA, A.. Non-destructive measurement of the dielectric constant of solid samples. Rev. mex. fis. [online]. 2009, vol.55, n.6, pp.477-485. ISSN 0035-001X.

Se describe una metodología práctica para determinar la constante dieléctrica de una muestra sólida de una manera no destructiva. La técnica consiste en la medición de la capacitancia entre un apuntador y la superficie dieléctrica como función de la distancia de separación en una escala comparable al radio de curvatura de la punta. Los cambios en la capacitancia que se deben medir estarán normalmente en la escala de los ato-faradios y requieren de instrumentación especializada la cual también se describe aquí. La técnica requiere de dos patrones de calibración y la muestra necesita tener una porción plana en su superficie y con algunas dimensiones mínimas, pero fuera de eso puede tener una forma arbitraria. Utilizamos un modelo sencillo basado en el método de las imágenes para explicar la metodología y presentamos resultados experimentales con la metodología propuesta.

Keywords : Mediciones capacitivas; constante dieléctrica; apuntador; caracterización de materiales.

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