Resumo

POVEDA, J.C.; GUERRERO, A.; ALVAREZ, I.  e  CISNEROS, C.. Two, three and four photon absorption of naphthalene. Rev. mex. fis. [online]. 2009, vol.55, n.4, pp.312-320. ISSN 0035-001X.

Se investigó el efecto de la absorción múltiple de fotones en la ionización, MPI, y disociación, MPD, del Naftaleno. Para ello se utilizó radiacion láser de 266 nm con anchos de pulso de 4.5 ns, e intensidades del orden de 10⁸-10¹⁰, y diferentes gases acarreadores, CGs, como helio, nen, argón, criptón y xenón. La identificación de los iones resultantes de los procesos de MPI y MPD, se realizó mediante espectrometría de tiempo de vuelo, ToF-MS. De los datos experimentales se calculo el número de fotones absorbidos en los procesos mencionados, a bajas energías por pulso, menores que 1.0 mJ; se detecto principalmente el ion molecular, lo cual estuvo de acuerdo con el potencial de ionizacion del naftaleno, 8.14 eV. Al incrementar la energía por pulso, a mas de 1.0 mJ, se observó la formación de nuevos iones, como una consecuencia de la absorción de tres y cuatro fotones. Se propuso una secuencia de rutas de fragmentación para los procesos MPI y MPD, teniendo en cuenta la energía por pulso, el número de fotones absorbidos y las eficiencias iónicas normalizadas. También se investigó el efecto de los CGs, y se observó que las eficiencias iónicas cambian al variar la energía por pulso y el CG.

Palavras-chave : Naftaleno; PAHs; MPI; MPD; ToF-MS.

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