Resumen

ATENCO-ANALCO, N.; PEREZ-RODRIGUEZ, F.  y  MADRIGAL-MELCHOR, J.. Dispersión de luz por la superficie rugosa de una película excitónica delgada sobre un substrato metálico. Rev. mex. fis. [online]. 2002, vol.48, n.3, pp.197-204. ISSN 0035-001X.

Se investiga teóricamente el efecto de la dispersión espacial en una película semiconductora con rugosidad superficial aleatoria, depositada sobre un substrato metálico, sobre el coeficiente de reflexión diferencial. La investigación se realiza cerca de la resonancia excitónica donde la no-localidad es fuerte y conduce a la generación de ondas polaritónicas adicionales. Aplicando una teoría de perturbación a primer orden, calculamos las dependencias angular y de frecuencia del coeficiente de reflexión diferencial para el caso de una rugosidad unidimensional. Los espectros de reflexión difusa de CuCl sobre un metal de Al para luz incidente con polarización s presentan resonancias pronunciadas (picos) en las frecuencias que satisfacen las condiciones Fabry-Perot para los modos polaritónicos adicionales. Estas condiciones corresponden también a la cuantización del movimiento translacional del excitón. Nuestros resultados muestran la utilidad del espectro de reflexión difusa para estudiar la excitación de los modos polaritónicos cuantizados en películas no locales.

Palabras llave : Excitón; dispersión espacial; reflexión difusa; películas semiconductoras delgadas.

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