Resumo

ESPINOSA, G. et al. Ageing effects on polymeric track detectors: studies of etched tracks at nanosize scale using atomic force microscope. Rev. mex. fis. [online]. 2012, vol.58, n.3, pp.215-219. ISSN 0035-001X.

Entre las diferentes técnicas para analizar la superficie de los materiales, uno de los mejores métodos es el uso del Microscopio de Fuerza Atómica (AFM). Como sabemos, la sensibilidad para detectar iones energéticos se afecta durante el tiempo de almacenamiento y las condiciones del material polimérico utilizado como Detector de Trazas Nucleares. Con base en el análisis de la superficie de varios materiales, se determinó la sensibilidad de detección de partículas alfa. Los resultados preliminares revelaron que el efecto del envejecimiento de su sensibilidad es muy fuerte, y debe tenerse en cuenta en las aplicaciones rutinarias o de experimentos de investigaci ón. Los resultados son consistentes con los datos experimentales en la literatura.

Palavras-chave : Envejecimiento; SSNTDs; nanoescala; trazas de partículas alfa; microscopio de fuerza atómica.

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