Resumen

MENDOZA RAMIREZ, Miriam-Carolina  y  AVALOS BORJA, Miguel. Nanoestructuras y su caracterización por medio de microscopía electrónica de transmisión; ciencia y arte. Mundo nano [online]. 2020, vol.13, n.25, pp.61-78.  Epub 25-Nov-2020. ISSN 2448-5691.  https://doi.org/10.22201/ceiich.24485691e.2020.25.69630.

En el presente trabajo se describen de forma didáctica los alcances de la microscopía electrónica de transmisión (TEM) para el estudio de nanosistemas. Las ilustraciones mostradas se adquirieron empleando muestras ilustrativas (nanopartículas de Au y películas de Si). A lo largo de este escrito se ejemplifica el uso de algunas técnicas TEM convencionales, como BF, DF, HAADF, SAED y EELS, así como también se ejemplifica el empleo de técnicas avanzadas de difracción, como CBED, LACBED y PED. También se brindan algunas sugerencias prácticas que permitirán describir y diferenciar de forma sencilla el contraste observado en algunas de las técnicas disponibles en el TEM. Todo con el objetivo de ofrecer una visión, llamativa, clara y didáctica de los alcances actuales de la microscopía electrónica en México.

Palabras llave : microscopía electrónica de transmisión; difracción de electrones; precesión y haz convergente.

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