Resumen

NORIEGA, J. R.; VERA-MARQUINA, A.  y  ACOSTA ENRIQUEZ, C.. Automation Of An l-V Characterization System. J. appl. res. technol [online]. 2010, vol.8, n.2, pp.200-209. ISSN 2448-6736.

En este trabajo se presenta la automatización de un instrumento I-V desarrollado para la caracterización de dispositivos electrónicos en aplicaciones tanto en docencia como en investigación. Este instrumento virtual puede ser usado para ilustrar los principios de la medición, instrumentación, fundamentos de la electrónica, programación, pruebas eléctricas de dispositivos semiconductores y caracterización de dispositivos discretos en substrato. Consiste de un electrómetro Keithley, modelo 6514, una fuente de voltaje programable BK Precision modelo 1770, medidor Keithley modelo 2400-LV, un multímetro digital Agilent modelo 34401 y una computadora PC con software LabVIEW. Los instrumentos son interconectados usando el protocolo IEEE 488. Las curvas características de los dispositivos son graficadas a partir de los datos medidos y previo procesamiento computacional. Este instrumento se usa en cursos de física electrónica y en cursos avanzados de diseño VLSI y en la caracterización de materiales semiconductores y dispositivos. Este artículo describe el diseño del instrumento, implementación y experimentos de caracterización.

Palabras llave : Electronic equipment; FETs; Transistor; Electronics engineering.

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