SciELO - Scientific Electronic Library Online

 
vol.22 número4Weak-inversion topologies of analog median filters índice de autoresíndice de materiabúsqueda de artículos
Home Pagelista alfabética de revistas  

Servicios Personalizados

Revista

Articulo

Indicadores

Links relacionados

  • No hay artículos similaresSimilares en SciELO

Compartir


Superficies y vacío

versión impresa ISSN 1665-3521

Resumen

GUILLEN-RODRIGUEZ, J.; ZAPATA-NAVARRO, A.; ZAPATA-TORRES, M.  y  MARQUEZ-HERRERA, A.. Desarrollo de un sistema para obtener ciclos de histéresis de materiales ferroeléctricos utilizando un potenciostato. Superf. vacío [online]. 2009, vol.22, n.4, pp.1-5. ISSN 1665-3521.

Se implementó un sistema para medir propiedades ferroeléctricas utilizando un potenciostato/galvanostato (POT/GAL) en un circuito Tower-Sawyer modificado. Una tarjeta de adquisición de datos y una computadora personal fueron usadas para controlar de manera remota el POT/GAL y a través de los puertos análogos y digitales de entrada y salida fueron programados y leídos el potencial y corriente en las muestras. El POT/GAL fue utilizado debido a su muy alta impedancia de entrada comparada con los circuitos hechos en laboratorios para obtener los ciclos de histéresis de muestras ferroeléctricas. Se desarrolló un software que controla completamente el POT/GAL, así como la amplitud, frecuencia y el tipo de señal aplicada a la muestra. Obtiene los ciclos de histéresis de la polarización espontánea versus potencial eléctrico y despliega los valores del potencial coercitivo y polarización remanente. Para comprobar la funcionalidad de nuestro sistema se caracterizaron capacitores ferroeléctricos de material Pb(ZrxTi1-x)O3 conocido también como PZT (4,000 y 10,000μ2 de área y 255 nm de espesor) a diferente potencial(1-9 volts) y frecuencia( 1-45 Hz ) y se compararon los resultados con las mediciones en un equipo de Radiant Technologies Inc. resultando buena concordancia entre ambas mediciones.

Palabras llave : Histéresis; Ferroeléctricos; Potenciostato.

        · resumen en Inglés     · texto en Español     · Español ( pdf )

 

Creative Commons License Todo el contenido de esta revista, excepto dónde está identificado, está bajo una Licencia Creative Commons