J. appl. res. technol - vol.6 número1

Tabla de contenido
J. appl. res. technol vol.6 no.1 Ciudad de México abr. 2008

An Automatic Test Environment for Microelectronics Education and Reserch
Sandoval-Ibarra, Federico

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Diverse Time-Frequency Distributions Integrated to an ART2 Network for Non-Destructive Testing
Benítez-Pérez, H.; Medina-Gómez, L.

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Pattern Classification of Decomposed Wavelet Information using ART2 Networks for echoes Analysis
Solís, M.; Benítez-Pérez, H.; Rubio, E.; Medina-Gómez, L.; Moreno, E.; Gonzalez, G.; Leija, L.

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Measurement of Chua Chaos and Its Applications
Núñez Pérez, Ricardo

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Ring CMOS NOT-based Oscillators: Analysis and Design
Sandoval-Ibarra, F.; Hernández-Bernal, E. S.

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