Scielo RSS <![CDATA[Revista mexicana de física]]> http://www.scielo.org.mx/rss.php?pid=0035-001X20040005&lang=es vol. 50 num. 5 lang. es <![CDATA[SciELO Logo]]> http://www.scielo.org.mx/img/en/fbpelogp.gif http://www.scielo.org.mx <![CDATA[<b>Excitable chaos in diffusively coupled FitzHugh-Nagumo equations</b>]]> http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0035-001X2004000500001&lng=es&nrm=iso&tlng=es A prototypic model of three coupled FitzHugh-Nagumo oscillators is shown to exhibit spatio-temporal hyperchaos. With increasing the number of coupled units the number of positive Lyapunov exponents increases. A system in two spatial dimensions shows two types of excitable spatio-temporal (hyper-)chaos depending on which variable is chosen for the coupling. Some implications for excitable cardiac tissue are discussed.<hr/>Un modelo prototípico de tres osciladores acoplados tipo FitzHugh-Nagumo muestra hipercaos espacio-temporal. Aumentando el número de unidades acopladas se aumenta el número de exponentes de Lyapunov positivos. Un sistema extendido en dos dimensiones espaciales genera dos tipos de (hiper-)caos excitable espacio-temporal dependiente de la variable de acoplamiento. Se discuten unas implicaciones para tejidos excitables cardiacos. <![CDATA[<b>Theoretical study of <i>e<sup>-</sup></i> -He scattering using the Schwinger variational principle with plane waves as a trial basis set</b>]]> http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0035-001X2004000500002&lng=es&nrm=iso&tlng=es We report an application of the Schwinger variational principle with plane waves as a trial basis set. Differential cross sections are obtained for e- -He from 15 to 100 eV. Our differential cross is found to be in reasonable agreement with experimental data.<hr/>Se analiza una aplicación del principio variacional de Schwinger desde la perspectiva de ondas planas para un cunjunto base. El proposito de este trabajo es mostrar la seccion eficaz deferencial para e- -He en el intervalo de 15 to 100 eV. Los resultados se comparan con los experimentos. <![CDATA[<b>Diseño óptimo y realización de celdas solares de silicio para producción industrial</b>: <b>Estado del arte de la investigación en México</b>]]> http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0035-001X2004000500003&lng=es&nrm=iso&tlng=es Mostramos aquí el trabajo que el autor y su grupo han desarrollado a lo largo de varios arios para el diseño y realización de celdas solares de silicio con emisores selectivos factibles de fabricarse en ambientes industriales. La metodología de diseño de las celdas solares se basa en la solución de las ecuaciones de transporte de carga en dispositivos semiconductores, tomando en cuenta la variación de movilidades y tiempos de vida en regiones con impurificación no uniforme (perfil tipo Gaussiano como se obtiene a partir de procesos de difusión o de implantación iónica), y fenómenos tales como la recombinación Auger y la reducción de banda prohibida en silicio altamente impurificado. Igualmente, se desarrolló un programa de computadora para el diseño del enrejado colector de corriente, tomando en cuenta el flujo lateral de corriente en el emisor, así como las limitaciones debidas a la tecnología de fabricación de los dedos colectores de corriente. Además, se cuenta con un programa que permite optimizar el espesor de capas antireflejantes múltiples, dado el índice de refracción respectivo, dependiendo del método de obtención de las mismas. También se describen los procesos que se requieren para hacer celdas solares de silicio, así como diversos experimentos que nos han permitido mejorar la eficiencia de conversión de este tipo de dispositivos. Por ejemplo, se han depositado capas de nitruro de silicio por la técnica de depósito en fase vapor ayudado por plasma (PECVD) a partir de SiH4/NH3, y se han optimizado las condiciones de depósito para lograr la pasivación de estados de superficie en el emisor, al mismo tiempo que actúe como capa antireflejante óptima. Igualmente, se muestra la realización de un nuevo proceso de aleación de aluminio en la parte posterior que causa un incremento de más del 20 % en la eficiencia de conversión respecto a celdas realizadas con técnicas convencionales, debido a efectos de gettering de impurezas metálicas. También se muestra el diseño y obtención de una doble capa antireflejante óptima sobre celdas solares de silicio en base a TiO2/SiO2.<hr/>We present here the work that the author and his group have developed during several years for the design and fabrication of silicon solar cells with selective emitters with potential for industrial production. The solar cell design methodology is based on the solution of the carrier transport equations in semiconductor devices, taking into account the variation of mobility and lifetime in non-uniformly doped regions (Gaussian profiles as obtained from diffusion or ion implantation processes), and phenomena such as Auger recombination and bandgap shrinkage in highly doped silicon. A computer program was also developed for the design of the metal grid, taking into account the lateral flux of current in the emitter, and also the technological limitations for the fabrication of the grid fingers. In addition, another computer program was developed for optimizing the thickness of anti-reflection layers, given the index of refraction, in order to have a complete set of programs for the design of silicon solar cells. We describe the processes required for making the silicon solar cells, and several experiments that have allowed the improvement of the conversion efficiency of this kind of solar cells. For example, silicon nitride layers were deposited by Plasma Enhanced Vapor Deposition (PECVD) from SiH4/NH3, and the deposition conditions were optimized for achieving surface state passivation at the emitter, and at the same time working as optimal anti-reflection layer. Similarly, a new process of aluminum alloying at the back of the cells was added to cell fabrication, leading to an increase in the efficiency by more than 20 % with respect to cells made by conventional processes, due to effects of metallic impurity gettering. Finally, the benefit due to an optimum double anti-reflection layer TiO2/SiO2 is also shown. <![CDATA[<b>Ecuaciones de Hamilton-Jacobi y de Schrödinger en la dinámica relativista de tiempo propio</b>]]> http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0035-001X2004000500004&lng=es&nrm=iso&tlng=es Se formula la dinámica de una partícula puntual relativista con respecto al tiempo propio sobre los cascarones hiperbólico ρ0² -ρ→2 = M2c² y esférico ρ4² + P→2 = ε0²/ c². Este último se obtiene cuando consideramos el movimiento bajo un potencial escalar de Lorentz. Las ecuaciones de Hamilton-Jacobi del movimiento, bajo este potencial escalar de Lorentz, son formuladas tanto para partículas con masa (M² = m², m > 0), como para partículas sin masa (M = 0, m > 0), y para el neutrino. Se presenta una primera versión de cuantización del modelo de acuerdo al esquema canónico de cuantización de Schrödinger.<hr/>The dynamics of a relativistic point particle is formulated using the proper time as evolution parameter on the hyperbolic ρ02 -ρ→2 = M2c² and spheric ρ4² + P→2 = ε02/ c² shells. This last case corresponds to considering the motion under a Lorentz invariant potential. The Hamilton-Jacobi equations of motion under this Lorentz scalar potential are formulated both for massive (M² = m², m > 0) and massless (M = 0, m > 0) particles, and for the neutrino. We present additionally a first quatization version of the model following the Schrödinger canonical quatization scheme. <![CDATA[<b>Aplicación de redes neuronales de aproximación a una línea de luz para reconstrucción 3D de objetos</b>]]> http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0035-001X2004000500005&lng=es&nrm=iso&tlng=es Se presenta una técnica para extraer la forma 3D de objetos mediante el procesamiento de imágenes de una línea de luz. En este proceso, una red neuronal de aproximación reconstruye la forma 3D del objeto. Esta red neuronal, se genera con una estructura en forma de capas, neuronas, conexiones y reciben información para ser procesada, con lo que se obtiene una respuesta de salida. En este caso, la información que recibe la estructura de la red neuronal, corresponde a imágenes de una línea de luz proyectada sobre objetos con dimensiones conocidas. Estas imágenes se obtienen durante el barrido de la línea de luz sobre el objeto patrón. El método perfilométrico que usa la red neuronal de aproximación, está basado en las deformaciones que sufre una línea de luz cuando ésta se proyecta sobre un objeto. Estas deformaciones son medidas mediante aproximación gaussiana. En esta técnica se reconstruye la forma 3D sin utilizar los parámetros del arreglo experimental. Esto constituye una ventaja sobre los métodos comunes de proyección de línea. En esta forma la precisión de los resultados se mejora, ya que no se introducen errores de medición al sistema. La precisión de esta técnica se obtiene mediante el valor rms. Esta técnica es probada con simulaciones y con objetos reales. También se presenta el tiempo de procesamiento y la precisión de los resultados.<hr/>A technique for 3D object shape detection based on light line image processing is presented. In this process, an approximation neural network is used to reconstruct the 3D object shape. This neural network is generated using images of a light line projected onto the objects, whose dimensions are known. These images are obtained in the scanning step of the light line onto the objects. The profilometric method used by the neural network is based on the light line deformations. These deformations are measured by the Gaussian approximation method. In this technique, the 3D shape is obtained without use the parameters of the experimental set-up. It is an advantage over conventional methods of the light line projection. In this manner, the accuracy is improved due to the errors are not introduces in the system. The accuracy in this technique is deduced by the rms value. This technique is tested with simulations and real objects. Also, the time processing and accuracy results are presented. <![CDATA[<b>Multiple beam interference with near-grazing waves in dielectric wedges</b>: <b>polarization dependence</b>]]> http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0035-001X2004000500006&lng=es&nrm=iso&tlng=es Multiple beam interference of near-grazing waves has been recognized as responsible for bright interference patterns in dielectric wedges. Near-grazing waves are traveling waves having wave vectors forming an angle of nearly π/2 with the normal of a planar surface. When two such surfaces form a wedge with near-grazing waves within, two main features determine interference pattern formation. First, the values of the Fresnel reflection coefficients are close to unity for near-grazing waves. Second, the phase dependence as a function of the gap between surfaces is step-wise nearly constant for the same kind of waves. Both features have polarization dependence, so polarization dependence of interference patterns are also expected. Numerical results for s and p polarizations are presented under monochromatic and polychromatic illuminations. Experimental observations are also shown.<hr/>La contribución de la interferencia de múltiples ondas casi-rasantes se ha reconocido como responsable de los brillantes patrones de interferencia que aparecen en cuñas dieléctricas. Por ondas casi-rasantes entendemos ondas viajeras cuyos vectores de propagación forman ángulos cercanos a π/2 respecto de las superficies dieléctricas planas. Cuando dos de estas superficies se acercan para formar una cuña conteniendo ondas casi-rasantes, aparecen dos características que determinan la formación de patrones de interferencia. Primero, los valores de los coeficientes de reflexión de Fresnel resultan cercanos a la unidad. Segundo, la dependencia de la fase como función de la separación entre las interfaces sigue un comportamiento constante por tramos. Ambas características dependen de la polarización de las ondas interferentes, de modo que es de esperarse una dependencia en la polarización por parte de los patrones de interferencia. Se presentan resultados numéricos para las polarizaciones s y p bajo iluminaciones tanto monocromática como policromática. Se muestran también observaciones experimentales. <![CDATA[<b>Similarity between optical response kinetics of conducting polymer thin film based gas sensors and electrochromic devices</b>]]> http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0035-001X2004000500007&lng=es&nrm=iso&tlng=es Chemically deposited polyaniline (PANI) thin films were used as optically active materials in optochemical gas sensors (OGS) as well as in electrochromic devices (ECDs). An electrochemically deposited poly(3-methylthiophene) (P3MT) thin film based ECD was also prepared to be compared to PANI based ECDs. In all these optical devices, the optical response kinetic curves of PANI and P3MT films can be fitted quite well with two terms of the same exponential expression: one faster and one slower. The faster one could be attributed to a rapid specific surface or interface reaction process, and the slower one to a volumetric or bulk diffusion-reaction process. The physical meanings of the fitting parameters come from the Langmuir adsorption theory and Freundlich isotherm in the case of OGS and the Butler-Volmer equation for polymer based ECDs.<hr/>Películas delgadas de polianilina (PANI) depositadas por métodos químicos fueron empleadas como elementos ópticamente activos tanto en sensores ópticos de gases (OGS) como en dispositivos electrocrómicos (ECDs). Otro dispositivo electrocrómico en base de películas de poli-3-metiltiofeno preparadas por métodos electroquímicos fue construido para comparar con el de PANI. En todos estos dispositivos ópticos, la cinética de las respuestas ópticas se puede ajustar muy bien con dos términos de la misma expresión exponencial: uno más rápido y otro más lento. El más rápido se puede atribuir a un proceso de reacción interfacial o superficial específico, y el más lento a un proceso de reacción-difusión volumétrica. Los significados físicos de los parámetros de ajuste provienen de la teoría de adsorción de Langmuir y del isoterma de Freundlich en el caso de OGS, y de la ecuación de Butler-Volmer en el caso de los ECDs. <![CDATA[<b>Quasi-surfaces waves under drift and diffusion mechanism in nonlinear interfaces</b>]]> http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0035-001X2004000500008&lng=es&nrm=iso&tlng=es We study numerically and theoretically the behaviour of one-dimensional bright spatial soliton in an interface formed by a nonlinear media under drift and diffusion nonlinearities, and a linear one in the second media. The mechanism of diffusion causes self-bending effect on the soliton, and in consequence it is launched to nonlinear interface; after that the soliton is reflected to nonlinear medium and self-bending by diffusion newly launched the soliton to the interface. In consequence, a quasi-surface wave is formed. We present details about the trajectory, coefficient of saturation and energy during the dynamics of the spatial soliton.<hr/>Estudiamos numérica y teóricamente el comportamiento de un solitón espacial brillante unidimensional en una interfase formada por un medio nolineal bajo las nolinealidades de arrastre y difusión, y el otro medio lineal. El mecanismo de difusión da lugar al efecto de auto-doblamiento sobre el solitón, que en consecuencia es lanzado hacia la interfase nolineal. Posteriormente el solitón es reflejado al medio nolineal y el auto-doblamiento por difusion nuevamente lanza al soliton hacia la interfase. En consecuencia, una onda cuasi-superficial es formada. Presentamos una discusión detallada acerca de la trayectoria, del coeficiente de saturación y de la energía durante la dinámica de el solitón espacial. <![CDATA[<b>Spectral reflectance estimation of ancient mexican codices, multispectral images approach</b>]]> http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0035-001X2004000500009&lng=es&nrm=iso&tlng=es Mexican codices are an ancient reading and writing system developed by the pre-Hispanic cultures of Mesoamerica. These pictorial documents are a cultural legacy, part of which dates from the 16th century. The collection known as "Collection of Original Mexican Codices" is one of the most important codices collection around the world and it is under the custody of the National Library of Anthropology and History (BNAH, Biblioteca Nacional de Antropologia e Historia) in Mexico City. For preservation of the documents, the collection is kept under limited access and controlled illumination conditions, only tungsten lamps are allowed for illumination of codices and light intensity should no exceed 1000 Lux. In order to achieve accurate color reproduction of codices we have proposed to the BNAH a multispectral aproach. Our color reproduction method is based on the estimation of the spectral reflectance for every pixel in the image from a set of 16 bands multispectral images. Multispectral approach enables us to remove the original tungsten capture illumination and to carry out a color simulation under any arbitrary illumination, for instance CIE-D65, hence this approach enables us to reproduce the true colors of original codices. In this paper we present the results of several approaches for spectra estimation considering the illumination conditions established by the BNAH, and we show a color simulation of a codice replica under CIE-D65.<hr/>Los códices mexicanos son un antiguo sistema de lectura y escritura desarrollado por las culturas prehispánicas de Mesoamérica. Estos documentos pictóricos son un legado cultural, parte del cual data del siglo XVI. La colección conocida como "Colección de códices Mexicanos originales" es una de las más importantes colecciones alrededor del mundo y se encuentra bajo la custodia de la Biblioteca Nacional de Antropología e Historia (BNAH) en la Ciudad de México. Para la preservación de los documentos, la colección se encuentra bajo acceso limitado y las condiciones para su iluminación se mantienen controladas, únicamente se permiten lámparas de tungsteno para iluminación de los códices y la intensidad no debe exceder de 1000 luxes. Para llevar a cabo una reproducción exacta de los colores de los códices originales, hemos propuesto a la BNAH un enfoque multiespectral. Nuestro método para la reproducción del color ésta basado en la estimación de la reflectancia espectral en cada uno de los píxeles en la imagen a partir de un conjunto de imágenes multiespectrales de 16 bandas. El enfoque multiespectral nos permite remover la iluminación original de tungsteno usado en la captura, y realizar una simulación de color bajo cualquier iluminación arbitraria, por ejemplo, CIE-D65, por lo tanto éste enfoque nos permite reproducir los colores naturales (true colors) de los códices originales. En este artículo presentamos los resultados de diversas aproximaciones para la estimación del espectro bajo las condiciones de iluminación establecidas por la BNAH y mostramos la simulación de color de una réplica de códice bajo CIE-D65. <![CDATA[<b>Baryon magnetic moments in the SU(3) and the SU(2) x U(1) flavor groups</b>]]> http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0035-001X2004000500010&lng=es&nrm=iso&tlng=es Working within the non relativistic quark model, a two parameter fit to the magnetic moments of baryons is presented. The fit has an excellent χ2. The model is based on taking different flavor groups to describe the different magnetic moments. The selection of which group to assign to each baryon is guided by the structure of its wavefunction. The model corresponds to assigning different effective masses to a quark depending on which baryon is being considered. Using the values extracted from the fit, the magnetic moments of the Ω- and the Δ++ have been predicted, and the comparison to the existing experimental values is quite satisfactory.<hr/>Trabajando en el contexto del modelo no relativista de quarks, se presenta un ajuste de dos parámetros a los momentos magnéticos de los bariones. El ajuste tiene un χ² excelente. El modelo está basado en tomar diferentes grupos de sabor para describir diferentes momentos magnéticos. La asignación de grupos a bariones se basa en la estructura de su función de onda. El modelo corresponde a asignar diferentes masas efectivas a los quarks dependiendo de que barion se trate. Usando los valores proporcionados por el ajuste, los momentos magnéticos de la Ω- y la Δ++ has sido calculdos y la comparasión con valores experimentales existentes es muy satisfactoria. <![CDATA[<b>Fabricación y caracterización de materiales compuestos de matriz metálica Al-Cu y Al-Mg reforzados con partículas de TiC</b>]]> http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0035-001X2004000500011&lng=es&nrm=iso&tlng=es En este trabajo se llevaron a cabo la fabricación y la caracterización de materiales compuestos de matriz metálica de Al-Cu y Al-Mg reforzados con partículas de TiC. Se infiltraron preformados con 56 % de densificación por la técnica de infiltración por capilaridad sin presión externa. Las infiltraciones de las aleaciones de aluminio se realizaron en un analizador termogravimérico (TGA) variando el contenido de Cu y Mg, comparado con la infiltración de aluminio puro. La velocidad de infiltración en las aleaciones AlMg x se incrementa al incrementar el contenido de Mg. Por el contrario, la velocidad de infiltración de aleaciones AlCu x fue mayor al decrecer el contenido de cobre. La velocidad de infiltración se incrementó con la temperatura para ambos sistemas. Comparando la velocidad de infiltración en ambos sistemas a 900°C, la velocidad de infiltración fue mayor para las aleaciones AlCu x que para las aleaciones AlMg x, siendo mayor la velocidad de infiltración para el Mg puro que para las aleaciones AlMg x, pero nunca fue mayor que la velocidad de infiltración del Al puro. Estudios de difracción de rayos X en los compuestos AlCu x/TiC revelan la formación de la fase CuAl2, incrementándose la cantidad de esta fase a medida que el contenido de cobre se incrementa. Para los compuestos AlMg x/TiC no se detectó la formación de nuevas fases.<hr/>The pressureless melt infiltration of Al-Cu and Al-Mg alloys into particulate 56 vol. % TiC preforms was studied. The infiltration of aluminum alloys varying the Mg and Cu content was compared with the infiltration rate of pure aluminum and were carried out in a thermogravimetric analyzer. It was found that the infiltration rate of Al-Mg x increases as the magnesium content increases. On the contrary, infiltration rate of Al-Cu x increases with decreasing copper content. For both systems the higher the temperature the faster the infiltration rate. Comparing the results at the infiltration temperature of 900°C, the infiltration rate was greater with the Al-Cu x alloys than Al-Mg x alloys, but never was greater than pure Al. Moreover, the infiltration of pure magnesium into the preforms was faster than the Al-Mg x alloys. XRD studies of composites containing copper confirmed the formation of CuAl2 phase, the amount increasing with the Cu content in the composites. For the AlMg x matrix composites, no reaction phase was detected. <![CDATA[<b>(Ba,Sr)TiO<sub>3</sub> ferroelectric thin films for tunable microwave applications</b>]]> http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0035-001X2004000500012&lng=es&nrm=iso&tlng=es The dielectric properties of ferroelectric thin films were investigated for tunable microwave applications. We have observed that epitaxially grown Ba1-x Sr x TiO3 (BST, 0.4≤ X ≤1) films are distorted from the normal cubic symmetry of the corresponding bulk at room temperature. This structural distortion caused by film strain has a strong impact on the microwave dielectric properties. For compressive strain, the dielectric constant and tuning were decreased and the films showed high dielectric Q. However for tensional strain, the opposite effect was observed. This observation has been interpreted based on phenomenological thermodynamics and strain-induced polarization physics. Two experimental examples, strain-relieved films and strain-enabled films, are presented to show how film strain affects the tunable microwave properties.<hr/>En el presente trabajo se investigan las propiedades dieléctricas de las películas delgadas ferroeléctricas por medio de aplicaciones de microondas sintonizables. Hemos observado que la película de Ba1-x Sr x TiO3 (BST, 0.4≤ X ≤1) que crece epitaxialmente sufre una distorsión a partir de su simetría cúbica normal a temperatura ambiente. Esta distorsión estructural causada por el esfuerzo aplicado en la película tiene un impacto importante en sus propiedades dieléctricas. En el esfuerzo de compresión, la constante dieléctrica disminuyó y las películas mostraron un Q dieléctrico alto. No obstante, en el esfuerzo de tensión se observó el efecto contrario. Esta observación ha sido interpretada en base a la termodinámica fenomenológica y a la física de polarización inducida por tensión. Se presentan dos ejemplos experimentales, uno en películas libres de esfuerzos y otro en películas en tensión, y se muestra como la presencia de esfuerzos modifican las propiedades de sintonía en microondas. <![CDATA[<b>Elongational properties and crystallization of poly (isobutylene) melts probed by synchrotron radiation</b>]]> http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0035-001X2004000500013&lng=es&nrm=iso&tlng=es In this paper, we describe a phase transition in poly(isobutylene) of various molecular weight under elongational stress. Rheometry and wide angle X-ray diffraction have been performed simultaneously to correlate mechanical and structural properties of the material. The low molecular weight samples did not crystallize under the flow in the range of the strain rates applied. On the other hand, as the molecular weight increases the crystallization is always preceded by a strain of the samples under stretching.<hr/>En este trabajo se describe la transición de fases de poliisobutileno de varios pesos moleculares sometidos a esfuerzos elongacionales. Experimentos de reometría y difracción de rayos X de ángulo amplio se realizan simultáneamente para correlacionar las propiedades mecánicas y la estructura del material. Muestras de polímero de bajo peso molecular no cristalizan en el intervalo de velocidades de deformación aplicadas. Al incrementar el peso molecular del polímero la cristalización obtenida es precedida por un endurecimiento del material debido a la deformación. <![CDATA[<b>Micro-structures made with a capillary</b>]]> http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0035-001X2004000500014&lng=es&nrm=iso&tlng=es A method to elaborate micro-structures of ionic crystals based on the deposition of drops on a surface with a capillary is presented. The typical dimension of these structures is in the micron range. The possible applications of such structures in optics are discussed.<hr/>Presentamos un método para elaborar microestructuras de cristales iónicos que se basa en la deposición de gotas en una superficie usando un capilar. El tamaño típico de estas estructuras es del orden de micras. Se discute las posibles aplicaciones de estas estructuras en óptica. <![CDATA[<b>Application of the total internal reflection phenomenon as a gas sensing technique using evaporated SnO<sub>2</sub> thin films</b>]]> http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0035-001X2004000500015&lng=es&nrm=iso&tlng=es In this work it is shown that the Total Internal Reflection (TIR) phenomenon can be exploited for gas detection. Total internal reflectance measurements for evaporated SnO2 thin films on quartz substrates are measured at ambient conditions. Changes in the reflectance measurements are measured when CO2 or N2 gas flows on the surface of the SnO2 films. The observed shift in the measured reflectance is defined as the signal of the sensor. Preliminary results show that the maximum response takes place at incident angles close to the critical angle of the quartz-air system.<hr/>En este trabajo se demuestra como puede ser utilizado el fenómeno de Reflexión Interna Total para la detección de gases. En condiciones ambientales normales se midieron espectros de reflexión interna total de películas de SnO2 evaporadas sobre substratos de cuarzo. Se midieron cambios en los espectros de reflectancia cuando las películas de SnO2 se expusieron a flujos de gas de CO2 o N2. En base a los cambios observados en la reflectancia se define la serial del sensor. Resultados preliminares muestran que la respuesta máxima se obtiene para ángulos de incidencia en la vecindad del ángulo crítico del sistema cuarzo-aire. <![CDATA[<b>Radiative generation of light fermion masses in a</b> <b><i>SU(</i>3<i>)<sub>H</sub></i></b> <b>horizontal symmetry model</b>]]> http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0035-001X2004000500016&lng=es&nrm=iso&tlng=es In a model with a gauge group SU(3)H ⊗ G SM, where SU(3)H is a horizontal symmetry and G SM = SU(3)C ⊗ SU(2)L ⊗ U(1)Y is the standard model, we propose a radiative mechanism of mass generation mediated by the SU(3)H gauge bosons for the light fermions, meanwhile the masses of the heaviest family are generated by the implementation of see - saw mechanisms with the introduction of vectorial fermions.<hr/>En un modelo con grupo de norma SU(3)H ⊗ G SM, donde SU(3)H es una simetría horizontal y G SM = SU(3)C ⊗ SU(2)L ⊗ U(1)Y es el Modelo Estándar, proponemos un mecanismo radiativo de generación de masas a través de los bosones vectoriales de SU(3)H para los fermiones ligeros, mientras que las masas de la familia mas pesada se generan por medio de la implementación de mecanismos see - saw con la introducción de fermiones vectoriales. <![CDATA[<b>Scattering of periodic solitons</b>]]> http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0035-001X2004000500017&lng=es&nrm=iso&tlng=es Through numerical simulations we study N-soliton scattering (N=3,4) in the (2 + 1)-dimensional CP¹ model with periodic boundary conditions. Solitons colliding from symmetrical configurations scatter at π/N, as observed in the usual model with standard boundary conditions. When the initial configurations are not symmetric the angles differ from π/N. We describe our observed patterns based on a properly formulated geodesic approximation.<hr/>Usando simulaciones numéricas estudiamos la dispersión de N solitones (N = 3,4) en el modelo CP¹ en (2+1) dimensiones con condiciones de borde periódicas. Las colisiones a partir de configuraciones simétricas dan un ángulo de dispersión π/N, concordando con lo observado en el modelo usual con condiciones de borde estándar. Si inicialmente las configuraciones no son simétricas, los solitones no se dispersan a π/N. Presentamos una descripción de esta dinámica en términos de una aproximación geodésica. <![CDATA[<b>Surface deformations induced by CH<sub>3</sub>S adsorption on Au(111) and Cu(111)</b>: <b>a DFT study</b>]]> http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0035-001X2004000500018&lng=es&nrm=iso&tlng=es Surface deformations induced by methylthiolate adsorption on the (111) faces of Au and Cu are investigated by means of state of the art DFT slab calculations. We find that a significant surface rearrangement takes place when the molecules are adsorbed. Surface deformations are found to be larger for Au than for Cu and the magnitude of the deformations depends on both the coverage and the site of adsorption. Methanethiol adsorption on both Cu(111) and Au(111) [1] is stronger for partial than for full coverage.<hr/>La adsorción de CH3S sobre las superficies (111) de Au y Cu induce deformaciones que hemos investigado a través de cálculos cuanto-mecánicos basados en la teoría de funcionales de la densidad (DFT). Hemos encontrado que cuando las moléculas se adsorben, se produce un rearreglo superficial significativo. Nuestros resultados indican que las deformaciones inducidas en la superficie del oro son mayores que las inducidas en la del cobre y que la magnitud de las deformaciones dependen tanto de la fracción de la superficie que es cubierta por las moléculas adsorbidas, como de la posición sobre la cual se establecen dichas moléculas. En ambas superficies, Cu(111) y Au(111) [1], la adsorción es más fuerte para coberturas parciales que para cobertura total. <![CDATA[<b>Diseño y construcción de un esparcímetro de luz</b>]]> http://www.scielo.org.mx/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0035-001X2004000500019&lng=es&nrm=iso&tlng=es En este trabajo se presenta el diseño y la construcción de un esparcímetro de luz optimizado para hacer mediciones de alta precisión angular y seriales débiles, con el cual pueden estudiarse rugosidades aleatorias superficiales de películas delgadas. Este esparcímetro es de gran sencillez en su uso y alineación. Como prueba de la precisión angular del equipo, reportamos resultados experimentales de medidas de reflexión mediante la técnica de reflexión total atenuada (RTA) en la configuración de Kretschmann, realizadas a dos sistemas en los que se excitan modos electromagnéticos. El primer sistema utilizados es prisma BK7-vidrio/Ag/aire y el segundo es prisma BK7-vidrio/MgF2/ZnS/MgF2/aire. Con este aparato se pudieron medir mínimos de reflexión que en el 50% de su profundidad tienen un ancho de 0.1°. Como prueba de la sensibilidad de detección de este equipo reportamos mediciones de esparcimiento realizadas al segundo sistema. Al ajustar los resultados experimentales a un modelo teórico, se obtuvieron valores de espesores, índice de refracción, índice de absorción, altura de rugosidades y longitud de correlación. Esos valores fueron comparados con los reportados en la literatura.<hr/>In this paper, we present the design and construction of a light scatterometer optimized to carry out measurements of high angular precision and weak signals, to study random rough surface of thin films. The scatterometer has the advantages of great ease of alignment and high angular precision as compared with commercial one. To prove the equipment angular precision, we report experimental results of reflection measurements using the technique of attenuated total reflection (ATR) in the Kretschmann configuration of two systems which were excited electromagnetic modes. The first system used is BK7 glass-prism/Ag/air and the second is BK7 glass-prism/MgF2/ZnS/MgF2/air. With this apparatus, reflection minima could be measured which in the 50% of it's depth have a width of 0.1°. As detection sensibility test of the equipment, we report scattering measurements carry out to the second system. Fitting the experimental results, a good coincidence between theory and experiment was found. We report values of thickness, refractive index, absorption index, height of the roughness and correlation length obtained from the fitting. These values were compared with those reported in the literature.