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Pesquisa : TORRES, A. [Autor]
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 Molina, J. et al. Memristance effect of metal-insulator-metal structures using Al2O3 film as active layer for emergent memory devices. Superf. vacío, 2014, vol.27, no.1, p.1-6. ISSN 1665-3521
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 Alarcón, M. et al. Perturbaciones y acoplamientos en un oscilador no lineal: el caso del oscilador salino. Rev. mex. fís. E, Dic 2014, vol.60, no.2, p.141-147. ISSN 1870-3542

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 Arce, H. et al. Border collision bifurcations in tantalus oscillator. Rev. mex. fis., Apr 2017, vol.63, no.2, p.171-184. ISSN 0035-001X
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 Domínguez, M.A. et al. Impact of planarized gate electrode in bottom-gate thin-film transistors. Rev. mex. fis., June 2016, vol.62, no.3, p.223-228. ISSN 0035-001X
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 Dominguez, M., Rosales, P. and Torres, A. Electrical characterization of planarized a-SiGe:H Thin-film Transistors. Rev. mex. fis., Feb 2013, vol.59, no.1, p.62-65. ISSN 0035-001X
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 Hernández, Y. et al. Reinforcement corrosion rate and crack width relationship in concrete beams exposed to simulated marine environment. Rev. ALCONPAT, Dec 2016, vol.6, no.3, p.271-282. ISSN 2007-6835

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