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Búsqueda : BALLESTEROS-ELIZONDO, S [Autor]
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 Ballesteros-Elizondo, S et al. Transmission Electron Microscopy (TEM) Through Focused ION Beam (FIB) from Vitrified Chromium Wastes. J. appl. res. technol, Aug 2011, vol.9, no.2, p.242-248. ISSN 1665-6423

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